| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :14
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "ЛАНЬ" (1)Публикации учёных СГУ (5)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (48)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=электронная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 14
1.
A858376-ОХФ
    Шереметьева, Галина Фёдоровна.
    Методы гистологических исследований [Текст] / Г. Ф. Шереметьева, Е. З. Кочарян ; . - Москва : НЦХ РАМН, 1995. - 37 с. - Библиогр. - ISBN 5-900895-01-7 : 4000.00 р.
Авт. указаны на обороте тит. л.
УДК
611.018(076.5)

Рубрики: медицина--анатомия

Кл.слова (ненормированные):
гистология -- артефакты -- гистохимия -- микроскопия -- электронная микроскопия -- радиоавтография -- ткани биологические


Доп. точки доступа:
Кочарян, Евгения Захарьевна

Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
2.
A496752-ОХФ
    Frank, Joachim.
    Three-Dimensional Electron Microscopy of Macromolecular Assemblies [Текст] : научное издание / Joachim Frank. - San Diego a. o. : Acad. Press, 1996. - 342 p. : fig. - Bibliogr. - ISBN 0-12-265040-9 : 17.00 р.
УДК
578.6

Рубрики: биология--биология

Кл.слова (ненормированные):
биология -- электронная микроскопия -- макромолекулярные схемы
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
3.
A873272-ОХФ, A873534-ОХФ
    Ермолаев, Сергей Анатольевич.
    Естественно-научные методы и технические средства экспертного исследования [Текст] : учеб. пособие / С. А. Ермолаев, И. Н. Мельников, Ф. П. Орлов. - Саратов : Изд-во СЮИ МВД РФ, 2000. - 151 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-7485-0140-6 : 25.00 р.
УДК
343.983

Рубрики: государство и право--уголовное право

Кл.слова (ненормированные):
цифровые изображения -- химический анализ -- масс-спектрометрия -- технические средства -- хроматография -- криминалистическая экспертиза -- спектроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопы -- рентгеновские лучи


Доп. точки доступа:
Мельников, И. Н.
Орлов, Федор Павлович Орлов, Фёдор Павлович
Экземпляры всего: 2
ОХФ (2)
Найти похожие
4.
A905196-ОХФ
    Токарев, П. И.
    Морфология и ультраструктура пыльцевых зерен [Текст] : научное издание / П. И. Токарев. - Москва : КМК, 2002. - 51, [1] с. - ISBN 5-87317-102-5 : 35.00 р.
УДК
561:581.3:537.533.35

Рубрики: палеонтология--палеоботаника

Кл.слова (ненормированные):
палинология -- пыльца -- споры -- пыльцевые зерна -- спородермы -- электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- спородермы -- палинологические исследования
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
5.
Учебные отделы, A908959-ОХФ, A908960-ОХФ-ЧЗ-4, A908961-ОХФ-ЧЗ-4,
    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова ; доп. О. В. Егоровой. - Москва : Техносфера, 2004. - 377, [7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 (англ.) : 191.88 р., 192.59 р., 139.00 р.
УДК
[620.22:539.2](075.8)

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроструктуры -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ -- химический анализ


Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л.
Егорова, О. В.
Экземпляры всего: 25
ОУОЕН (22), ОХФ (1), ОХФ-ЧЗ-4 (2)
Найти похожие
6.
A979068-ОХФ
    Синдо, Дайзуке.
    Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. - Москва : Техносфера, 2006. - 249, [7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4 (в пер.). - ISBN 4-431-70336-5 (англ.) : 110.00 р.
УДК
681.723.2
621.385.833.2

Рубрики: техника--оптические приборы

   радиотехника.электроника--электронные приборы

Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- микроскопы -- электронная микроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- трехмерная томография -- материаловедение -- ALCHEMI метод


Доп. точки доступа:
Оикава, Тецуо
Иванов, С. А.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
7.
A983395-ОХФ
   
    Методы и средства микроскопии [Текст] : метод. указания / ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ" ; сост.: Б. В. Шульгин [и др.] ; науч. ред. А. В. Кружалов. - Екатеринбург : Изд-во УМЦ УПИ, 2005. - 187, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.) . - ISBN [Б. и.] : 65.00 р.
УДК
681.723.2(072.8)
620.22(072.8)

Рубрики: техника--оптические приборы--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- зондовая микроскопия -- обработка изображений -- наночастицы -- биологические объекты


Доп. точки доступа:
Шульгин, Борис Владимирович
Анипко, Алла Владимировна
Антонов, Илья Витальевич
Гайдуков, Владимир Владимирович
Кружалов, А. В.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
8.
A992395-ОХФ
    Фурсей, Георгий Николаевич.
    Автоэлектронная эмиссия [Текст] / Г. Н. Фурсей. - Санкт-Петербург ; Москва ; Краснодар : Лань, 2012. - 319, [5] с. : ил., фото. цв. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 274-311 (517 назв.). - ISBN 978-5-8114-1232-7 (в пер.) : 455.00 р.
УДК
537.533.2
621.385

Рубрики: физика--электромагнетизм

   радиотехника.электроника--электронные приборы

Кл.слова (ненормированные):
автоэлектронная эмиссия -- металлы -- полупроводники -- точечные автоэлектронные катоды -- электронная микроскопия -- электронно-оптические устройства -- вакуумная наноэлектроника
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
9.
A918102-ОХФ
   
    Наноструктурные покрытия [Текст] / под ред. А. Кавалейро и Д. Хоссона де ; пер. с англ. А. В. Хачояна под ред. Р. А. Андриевского. - Москва : Техносфера, 2011. - 750, [2] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; 28). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-182-6 (в пер.). - ISBN 978-0-38-725642-9 (англ.) : 1247.00 р.
УДК
539.21
620.3-408

Рубрики: физика--физика твердого тела

   техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
твердые тела -- наноструктурные покрытия -- покрытия -- наноструктурные металлы -- деформации -- дефекты -- наноиндентирование -- электронная микроскопия -- наноструктурные твердые пленки -- нанокомпозиты -- магнетронное напыление -- синтез -- разрушение покрытий -- трибология


Доп. точки доступа:
Кавалейро, А.
Хоссон де, Д.
Хачоян, А. В.
Андриевский, Р. А.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
10.
Учебные отделы, A996001-ОХФ, A996002-ОХФ,
    Груздов, Вадим Владимирович.
    Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике [Текст] / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2016. - 327, [1] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-426-1 (в пер.) : 1170.40 р.
УДК
621.382.3

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
твердотельная электроника -- СВЧ-электроника -- интеллектуальная собственность -- стандарты -- СВЧ-транзисторы -- полупроводниковые приборы -- технологические процессы (ТП) -- широкозонные материалы -- контроль качества -- гетероструктуры -- электронная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- электронная спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия


Доп. точки доступа:
Колковский, Юрий Владимирович
Концевой, Юлий Абрамович
Экземпляры всего: 5
ОХФ (2), ОУОЕН (3)
Найти похожие
11.
A996717-ОХФ
    Карпасюк, Владимир Корнильевич.
    Зондирующие методы исследований в материаловедении [Текст] : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.). - ISBN 978-5-91910-342-4 : 293.00 р.
УДК
620.18

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- зондирование -- структурный анализ -- ферромагнитный резонанс -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- рентгеноструктурный анализ -- нейтронография -- электронография -- электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- масс-спектрометрия -- сканирующая зондовая микроскопия


Доп. точки доступа:
Смирнов, Андрей Михайлович
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
12.
A919698-ОХФ, A919699-ОХФ
    Ищенко, Анатолий Александрович.
    Структура и динамика свободных молекул и конденсированного вещества [Текст] / А. А. Ищенко. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2018. - 655, [1] с. : ил., табл. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 646-655. - ISBN 978-5-9221-1799-9 (в пер.) : 841.00 р.
УДК
544

Рубрики: химия--физическая химия

Кл.слова (ненормированные):
химические реакции -- динамика химических реакций -- электронная дифракция -- молекулярные структуры -- электронно-колебательные взаимодействия -- внутримолекулярная динамика -- пентагалогениды -- переходные структуры -- электронная кристаллография -- нанокристаллография -- электронная микроскопия -- структурная динамика -- спектральные методы -- дифракционные методы
Экземпляры всего: 2
ОХФ (2)
Найти похожие
13.
A930295-ОХФ
    Ищенко, Анатолий Александрович.
    Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества [Текст] / А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2012. - 616 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 611-614. - ISBN 978-5-9221-1447-9 (в пер.) : 639.00 р.
УДК
539.19
544

Рубрики: физика--молекулярная физика

   химия--физическая химия

Кл.слова (ненормированные):
молекулярная физика -- строение вещества -- электронная дифракция -- молекулярные структуры -- внутримолекулярная динамика -- теория рассеяния электронов -- электронография -- масс-спектрометрия -- структурная динамика -- свободные молекулы -- электроны -- фотоэлектроника -- электронная микроскопия -- электронно-колебательные взаимодействия -- нанокристаллография


Доп. точки доступа:
Гиричев, Георгий Васильевич
Тарасов, Юрий Игоревич
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
14.
A930356-ОХФ-СБО
   
    Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] = Handbook of microscopy for nanotechnology : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям ; под ред.: Н. Яо, Ч. Л. Ван ; науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 712 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники / гл. ред. А.Р. Хохлов). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 600.00 р.
УДК
[681.723:620.3](035)

Рубрики: техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая зондовая микроскопия -- масс-спектрометрия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- электронная нанокристаллография -- электронная голография -- нанотехнологии -- наноразмерные материалы -- наноизмерения


Доп. точки доступа:
Яо, Нан
Ван, Чжун Лин
Яминский, И. В.
Экземпляры всего: 1
ОХФ-СБО (1)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)