Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :15

В других БД по вашему запросу найдено:

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (18)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>KL=сканирующая зондовая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 15
Показаны документы с 1 по 15

Учебные отделы, A961032-ОХФ-ЧЗ-4, A961033-ОХФ, A961034-ОХФ
Миронов, В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р., 153.89 р.

УДК

621.385.833(075.8)

681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия

Экземпляры всего: 15
ОУОЕН (12), ОХФ-ЧЗ-4 (1), ОХФ (2)
Найти похожие

A964843-ОХФ, A965156-ОХФ, A965157-ОХФ
Миронов, В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.

УДК

621.385.833(075.8)

681.723.2(075.8)

9534/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)
Lõhmus, Rünno.
Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials [Рукопись] : Dis. for the Degree of Doctor of Philosophy in physics (experimental physics) / R. Lõhmus ; superv.: R. Kink, L. Pung. - Tartu : Tartu Univ. Press, 2002. - 93, [3] p. - (Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis ; 39). - Bibliogr. at the end of the chapters. - ISSN 1406-0647. - ISBN 9985-56-695-5 : [б. ц.]

УДК

620.3(043.3)

620.187(043.3)

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
наноструктурированные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия

Доп. точки доступа:
Kink, Rein
Pung, Lembit
Экземпляры всего: 1
ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1)
Найти похожие

A982051-ОХФ

Богатство наномира. Фоторепортаж из глубин вещества [Текст] / Е. А. Гудилин [и др.] ; под ред. Ю. Д. Третьякова. - Москва : БИНОМ. Лаб. знаний, 2009. - 171, [5] с. : цв. ил. - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0108-9 (в пер.) : 126.25 р.

УДК

620.3

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- наномир -- наноструктуры -- нанотрубки -- квантовые точки -- фотонные кристаллы -- высокотемпературные сверхпроводники -- магнитные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия

Доп. точки доступа:
Гудилин, Е. А.
Гаршев, А. В.
Баранчиков, А. Е.
Абрамова, В. В.
Третьяков, Ю. Д.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

Учебные отделы, A985344-ОХФ, A985345-ОХФ-ЧЗ-4, A985346-ОХФ

Получение и исследование наноструктур. Лабораторный практикум по нанотехнологиям [Текст] / под ред. А. С. Сигова. - Москва : БИНОМ. Лаб. знаний, 2010. - 146, [6] с. : рис. - (Нанотехнологии). - Библиогр.: с. 143-146. - ISBN 978-5-9963-0028-4 (в пер.) : 150.90 р., 220.00 р.

УДК

621.38-022.532(076.5)

620.3(076.5)

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- нанотехнологии -- наноразмерные структуры -- сканирующая зондовая микроскопия -- оптические методы -- наночастицы -- нанокомпозиты

Доп. точки доступа:
Сигов, А. С.
Экземпляры всего: 70
ОУОЕН (67), ОХФ (2), ОХФ-ЧЗ-4 (1)
Найти похожие

A606806-ОХФ
Шарипов, Талгат Ишмухамедович.
Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; ГОУ ВПО "Башкирский государственный университет". - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. : рис. - Библиогр.: с. 19-20. - ISBN [Б. и.]
Издание является приложением к документу:
Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111. - ISBN [Б. и.]. Шифр 895198

УДК

577.323(043.3)

Рубрики: биология--биофизика

Кл.слова (ненормированные):
ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Является приложением к Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов\par

Доп. точки доступа:
Бахтизин, Рауф Загидович
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

10520/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)
Шарипов, Талгат Ишмухамедович.
Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Рукопись] : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 15.03.2011 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; Башк. гос. ун-т. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111 л. : рис. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 99-110 (110 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.)
Приложение:
Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин. - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 955234

УДК

577.323(043.3)

Рубрики: биология--биофизика

Кл.слова (ненормированные):
ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Приложение:Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин

Доп. точки доступа:
Бахтизин, Рауф Загидович
Экземпляры всего: 1
ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1)
Найти похожие

Учебные отделы, A988555-ОХФ, A988556-ОХФ, A996095-ОХФ,
Лич, Ричард К..
Инженерные основы измерений нанометровой точности [Текст] : учеб. пособие / Р. К. Лич ; пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2012. - 400 с. : ил. - Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.) : 1246.30 р., 1589.00 р.

УДК

621.38-022.532:006.91(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

метрология.стандартизация--метрология

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- инженерная метрология -- нанометрология -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- метрология поверхностей -- сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- координатная метрология -- измерения массы -- измерения силы

Доп. точки доступа:
Заблоцкий, А. В.
Экземпляры всего: 32
ОХФ (3), ОУОЕН (29)
Найти похожие

A917730-ОХФ-СБО, A918074-ОХФ
Справочник Шпрингера по нанотехнологиям [Текст] : в 3 т. / Федер. гос. учреждение Науч.-произв. комплекс "Технологический центр" Моск. гос. ин-та электронной техники ; под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под общ. ред. А. Н. Саурова. - 2-е изд. - Москва : Техносфера, 2010. - (Мир материалов и технологий ; 6 ; 30). - ISBN 978-5-94836-261-8.
Т. 2. - Москва : Техносфера, 2010. - 1040 с. : ил. - ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-263-2 (т. II) : 1022.00 р., 2080.10 р.

УДК

620.3(035)

621.38-022.532(035)

Рубрики: техника--материаловедение

радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- материаловедение -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотрибология -- нанореология -- адгезия -- тонкие пленки -- биологическая нанотехнология

Доп. точки доступа:
Бхушан, Б. \\ред.\\
Сауров, А. Н. \\ред. пер.\\
Экземпляры всего: 2
ОХФ-СБО (1), ОХФ (1)
Найти похожие

10.

11032/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)
Ерохин, Павел Сергеевич.
Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Рукопись] : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 28.04.2015 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 127 л. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 104-127 (209 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.)
Приложение:
Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 579(043.3)/Е 782

УДК

579.086.3(043.3)

Рубрики: биология--микробиология

Кл.слова (ненормированные):
микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Приложение:Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин

Доп. точки доступа:
Тучин, Валерий Викторович
Экземпляры всего: 1
ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1)
Найти похожие

11.

A607872-ОХФ
Ерохин, Павел Сергеевич.
Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Текст] : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - Библиогр.: с. 20-22 (22 назв.). - ISBN [Б. и.]
Издание является приложением к документу:
Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 127. - ISBN [Б. и.]. Шифр /Е 782

УДК

579.086.3(043.3)

Рубрики: биология--микробиология

Кл.слова (ненормированные):
микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Является приложением к Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин\par

Доп. точки доступа:
Тучин, Валерий Викторович
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

12.

A996007-ОХФ

Сканирующая зондовая нанотомография [Текст] / О. И. Агапова [и др.]. - Москва : Техносфера, 2016. - 183, [1] с. : ил., граф. - (Мир физики и техники ; 35). - Библиогр.: с. 128-135 (107 назв.). - ISBN 978-5-94836-456-8 (в пер.) : 569.80 р.

УДК

616-073

Рубрики: медицина--патология

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая зондовая нанотомография (СЗНТ) -- томография -- сканирующая зондовая крионанотомография -- биологические материалы -- биологические объекты -- трехмерные структуры -- биомедицина

Доп. точки доступа:
Агапова, Ольга Игоревна
Ефимов, Антон Евгеньевич
Соколов, Дмитрий Юрьевич
Агапов, Игорь Иванович
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

13.

A996012-ОХФ

Нанотехнологии в электронике - 3.1 [Текст] / под ред. Ю. А. Чаплыгина. - Москва : Техносфера, 2016. - 479, [1] с. : ил. - (Мир электроники ; 53). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-423-0 (в пер.) : 1170.40 р.

УДК

621.38:620.3

Рубрики: радиотехника.электроника--электроника

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- нанотехнологии -- моделирование -- наноэлектроника -- углеродные нанотрубы -- сегнетокерамика -- пьезоэлектрические материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- наноструктуры -- сенсоры -- микроэлектроника -- сверхбольшие интегральные схемы (СБИС)

Доп. точки доступа:
Чаплыгин, Ю. А.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

14.

A996717-ОХФ
Карпасюк, Владимир Корнильевич.
Зондирующие методы исследований в материаловедении [Текст] : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.). - ISBN 978-5-91910-342-4 : 293.00 р.

УДК

620.18

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- зондирование -- структурный анализ -- ферромагнитный резонанс -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- рентгеноструктурный анализ -- нейтронография -- электронография -- электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- масс-спектрометрия -- сканирующая зондовая микроскопия

Доп. точки доступа:
Смирнов, Андрей Михайлович
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

15.

A930356-ОХФ-СБО

Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] = Handbook of microscopy for nanotechnology : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям ; под ред.: Н. Яо, Ч. Л. Ван ; науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 712 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники / гл. ред. А.Р. Хохлов). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 600.00 р.

УДК

[681.723:620.3](035)

Рубрики: техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая зондовая микроскопия -- масс-спектрометрия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- электронная нанокристаллография -- электронная голография -- нанотехнологии -- наноразмерные материалы -- наноизмерения

Доп. точки доступа:
Яо, Нан
Ван, Чжун Лин
Яминский, И. В.
Экземпляры всего: 1
ОХФ-СБО (1)
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)