| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=нанометрология<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
Учебные отделы, A988555-ОХФ, A988556-ОХФ, A996095-ОХФ,
    Лич, Ричард К..
    Инженерные основы измерений нанометровой точности [Текст] : учеб. пособие / Р. К. Лич ; пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2012. - 400 с. : ил. - Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.) : 1246.30 р., 1589.00 р.
УДК
621.38-022.532:006.91(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

   метрология.стандартизация--метрология

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- инженерная метрология -- нанометрология -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- метрология поверхностей -- сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- координатная метрология -- измерения массы -- измерения силы


Доп. точки доступа:
Заблоцкий, А. В.
Экземпляры всего: 32
ОХФ (3), ОУОЕН (29)
Найти похожие
2.
A918216-ОХФ, A918217-ОХФ, A918218-ОХФ-ЧЗ-4
   
    Основы нанотехнологии [Текст] : учебник / Н. Т. Кузнецов, В. М. Новоторцев. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2014. - 397, [3] с. : ил. - (Учебник для высшей школы). - Библиогр.: с. 377-397. - ISBN 978-5-9963-0853-8 (в пер.) : 517.50 р.
Рекомендовано учеб.-метод. об-нием вузов РФ по образованию в обл. радиотехники, электроники, биомед. техники и автоматизации в качестве учеб. для студентов вузов, обучающихся по направлению 211000 "Конструирование и технология электронных средств"
УДК
620.3(075.8)

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- наномир -- самоорганизация -- синергетика -- нанометрология


Доп. точки доступа:
Кузнецов, Николай Тимофеевич
Новоторцев, Владимир Михайлович
Жабрев, Валентин Александрович
Марголин, Владимир Игоревич
Экземпляры всего: 3
ОХФ (2), ОХФ-ЧЗ-4 (1)
Найти похожие
3.
Учебные отделы, A996125-ОХФ, A996126-ОХФ,
    Рамсден, Джереми Дж..
    Физико-технические основы бионанотехнологий и наноиндустрии [Текст] : учебное пособие / Дж. Дж. Рамсден ; пер. с англ. Л. Н. Кодомского. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2013. - 335, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 327-335 (175 назв.). - ISBN 978-5-91559-139-3 : 1431.00 р.
УДК
620.3(075.8)

Рубрики: техника--материаловедение, 21 в.

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- материаловедение -- наноматериалы -- наноиндустрия -- наношкалы -- нанометрология -- наноустройства -- наносистемы -- бионанотехнологии


Доп. точки доступа:
Кодомский, Л. Н.
Экземпляры всего: 10
ОХФ (2), ОУОЕН (8)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)