| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=метрология поверхностей<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
Учебные отделы, A986446-ОХФ, A986447-ОХФ, A986448-ОХФ
    Уайтхауз, Дэвид.
    Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы [Текст] / Д. Уайтхауз ; пер. с англ. А. Я. Григорьева, Д. В. Ткачука ; под ред. Н. К. Мышкина. - Долгопрудный : Интеллект, 2009. - 471, [1] с. : рис. - Библиогр.: с. 469-471 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-023-5 (в пер.). - ISBN 1 9039 9660 0 (англ.) : 891.00 р.
УДК
006(075.8+038)

Рубрики: метрология.стандартизация--метрология

Кл.слова (ненормированные):
метрология -- метрология поверхностей -- метрологическое обеспечение -- средства измерений -- измерения -- надежность измерений


Доп. точки доступа:
Григорьев, А. Я.
Ткачук, Д. В.
Мышкин, Н. К.
Экземпляры всего: 13
ОУОЕН (10), ОХФ (3)
Найти похожие
2.
Учебные отделы, A988555-ОХФ, A988556-ОХФ, A996095-ОХФ,
    Лич, Ричард К..
    Инженерные основы измерений нанометровой точности [Текст] : учеб. пособие / Р. К. Лич ; пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2012. - 400 с. : ил. - Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.) : 1246.30 р., 1589.00 р.
УДК
621.38-022.532:006.91(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

   метрология.стандартизация--метрология

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- инженерная метрология -- нанометрология -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- метрология поверхностей -- сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- координатная метрология -- измерения массы -- измерения силы


Доп. точки доступа:
Заблоцкий, А. В.
Экземпляры всего: 32
ОХФ (3), ОУОЕН (29)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)