| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>A=Уайтхауз, Дэвид$<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
Учебные отделы, A986446-ОХФ, A986447-ОХФ, A986448-ОХФ
    Уайтхауз, Дэвид.
    Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы [Текст] / Д. Уайтхауз ; пер. с англ. А. Я. Григорьева, Д. В. Ткачука ; под ред. Н. К. Мышкина. - Долгопрудный : Интеллект, 2009. - 471, [1] с. : рис. - Библиогр.: с. 469-471 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-023-5 (в пер.). - ISBN 1 9039 9660 0 (англ.) : 891.00 р.
УДК

Рубрики: метрология.стандартизация--метрология

Кл.слова (ненормированные):
метрология -- метрология поверхностей -- метрологическое обеспечение -- средства измерений -- измерения -- надежность измерений


Доп. точки доступа:
Григорьев, А. Я.
Ткачук, Д. В.
Мышкин, Н. К.
Экземпляры всего: 13
ОУОЕН (10), ОХФ (3)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)