Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :2

В других БД по вашему запросу найдено:

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (2)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>KL=сканирующая электронная микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

A914577-ОХФ
Чернова, Ольга Федоровна.
Атлас волос млекопитающих. Тонкая структура остевых волос и игл в сканирующем электронном микроскопе [Текст] : [атлас] / О. Ф. Чернова, Т. Н. Целикова ; отв. ред. В. Н. Большаков ; Ин-т проблем экологии и эволюции им. А. Н. Северцова РАН. - Москва : Товарищество науч. изд. КМК [изд.], 2004. - 428, [4] с. : рис. - Библиогр.: с. 61-72. - ISBN 5-87317-190-4 (в пер.) : 300.00 р.

УДК

[591.478.1:599](084.42)

Рубрики: биология--зоология

Кл.слова (ненормированные):
млекопитающие -- волосы -- остевые волосы -- иглы -- сканирующая электронная микроскопия -- волосяной покров -- происхождение -- эволюция

Доп. точки доступа:
Целикова, Татьяна Николаевна
Большаков, Владимир Николаевич
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

Учебные отделы, A988555-ОХФ, A988556-ОХФ, A996095-ОХФ,
Лич, Ричард К..
Инженерные основы измерений нанометровой точности [Текст] : учеб. пособие / Р. К. Лич ; пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2012. - 400 с. : ил. - Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.) : 1246.30 р., 1589.00 р.

УДК

621.38-022.532:006.91(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

метрология.стандартизация--метрология

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- инженерная метрология -- нанометрология -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- метрология поверхностей -- сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- координатная метрология -- измерения массы -- измерения силы

Доп. точки доступа:
Заблоцкий, А. В.
Экземпляры всего: 32
ОХФ (3), ОУОЕН (29)
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)