| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=оже-электронная спектроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
A846414-ОХФ
    Еловиков, Сергей Сергеевич.
    Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок [Текст] : [учеб. пособие] / С. С. Еловиков ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 94 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02904-6 : 5.50 р.
УДК

Рубрики: физика--физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
твердые тела -- тонкие пленки -- электронная спектроскопия -- энергоанализ заряженных частиц -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

2.
A996717-ОХФ
    Карпасюк, Владимир Корнильевич.
    Зондирующие методы исследований в материаловедении [Текст] : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.). - ISBN 978-5-91910-342-4 : 293.00 р.
УДК

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- зондирование -- структурный анализ -- ферромагнитный резонанс -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- рентгеноструктурный анализ -- нейтронография -- электронография -- электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- масс-спектрометрия -- сканирующая зондовая микроскопия


Доп. точки доступа:
Смирнов, Андрей Михайлович
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)