| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :7
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (13)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=электронная спектроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.
A846414-ОХФ
    Еловиков, Сергей Сергеевич.
    Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок [Текст] : [учеб. пособие] / С. С. Еловиков ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 94 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02904-6 : 5.50 р.
УДК
539.27(075.8)

Рубрики: физика--физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
твердые тела -- тонкие пленки -- электронная спектроскопия -- энергоанализ заряженных частиц -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
2.
Учебные отделы, A854823-ОХФ, A854824-ОХФ, A854825-ОХФ, A867110-ОХФ, A879988-ОХФ,
    Панкратов, Алексей Николаевич.
    Установление строения молекул физическими методами [Текст] : учеб. пособие для вузов по направлению и специальности "Химия" / А. Н. Панкратов, И. Г. Остроумов. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 1995. - 131 с. - Библиогр. - ISBN 5-292-01805-8 : 5000.00 р.
УДК
[543.422+543.51+547+544](075.8)

Рубрики: химия--аналитическая химия--органическая химия--физическая химия

Кл.слова (ненормированные):
электронная спектроскопия -- инфракрасная спектроскопия -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- колебательные спектры -- электронные спектры -- спектры ядерного магнитного резонанса -- масс-спектрометрия -- масс-спектры -- органические соединения -- строение молекул -- спектральный анализ


Доп. точки доступа:
Остроумов, Игорь Геннадьевич
Экземпляры всего: 119
ОХФ (5), ОУОЕН (114)
Найти похожие
3.
A860085-ОХФ, A860086-ОХФ
   
    Рентгеновские и электронные спектры химических соединений [Текст] = X-Ray and Electron Spectra of Chemical Compounds : тез. докл. XVI междунар. школы-семинара 27 мая-1 июня 1996 г. - Воронеж : Изд-во Воронеж. ун-та, 1996. - 66 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-85813-052-6 : 4000.00 р.
УДК
543.422(082)
535.33(082)

Рубрики: химия--аналитическая химия

   физика--оптика

Кл.слова (ненормированные):
фотоэлектронная спектроскопия -- электронная спектроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- электронные спектры -- рентгеновские спектры -- эмиссионная спектроскопия -- эмиссионные спектры -- рентгеноэлектронные спектры -- химическая связь -- аморфные пленки -- пленки фосфидов -- оже-процессы -- спектральный анализ
Экземпляры всего: 2
ОХФ (2)
Найти похожие
4.
7955/P-ОХФ
    Ruus, Rein.
    Collapse of 3 d (4 f) Orbitals in 2 p (3 d) Excited Configurations and its Effect on the X-Ray and Electron Spectra [Текст] : dis. for the degree of Dr of Philosophy (in Solid State Physics) / Rein Ruus. - Tartu : Univ. Press., 1999. - 58 p., Publ. : fig. - (Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis ; 31). - Bibliogr. - ISBN 9985-56-439-1 : Б. ц.
Рез. на эстон. яз.
УДК
535.33-34(043.3)

Рубрики: физика--оптика

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская спектроскопия -- электронная спектроскопия -- коллапс
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
5.
A911637-ОХФ
   
    Введение в физику поверхности [Текст] = Surface Science an Introduction / К. Оура [и др.] ; отв. ред. В. И. Сергиенко ; Рос. акад. наук, Дальневост. отд-ние, Ин-т автоматики и процессов упр. - Москва : Наука, 2006. - 490, [6] с. : рис., табл. - Библиогр. в конце ст. - Библиогр.: с. 464-481. - Предм. указ.: с. 482-490. - ISBN 5-02-034355-2 (в пер.) : 190.00 р.
УДК
539.21:538.971

Рубрики: физика--физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
твердые тела -- кристаллография -- поверхностные явления -- диффузия -- физика поверхности -- микроскопия -- электронная спектроскопия -- тонкие пленки -- наноструктуры -- дифракция


Доп. точки доступа:
Оура, Кендзиро
Лифшиц, Виктор Григорьевич
Саранин, Александр Александрович
Зотов, Андрей Вадимович
Катаяма, Митсухиро
Сергиенко, В. И.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
6.
A994314-ОХФ, A994315-ОХФ, A994304-ОХФ
   Тен, Галина Николаевна
    Таутомерия оснований нуклеиновых кислот [Текст] : в 2 ч. / Г. Н. Тен, В. И. Баранов ; Сарат. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2014 - 2015.
   Ч. 2 : Теоретический анализ таутомерного состава оснований нуклеиновых кислот методами колебательной и электронной спектроскопии. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2015. - 130, [2] с. : ил., табл. - ). - Библиогр.: с. 121-131. - ISBN 978-5-292-04356-0 (ч. 2) : 231.14 р., 230.14 р.
УДК
544
535.33

Рубрики: химия--физическая химия

   физика--оптика

Кл.слова (ненормированные):
нуклеиновые кислоты -- основания нуклеиновых кислот -- таутомерия -- электронная спектроскопия -- колебательная спектроскопия -- фазовые состояния -- электронно-колебательные спектры


Доп. точки доступа:
Баранов, Виктор Иванович
Экземпляры всего: 3
ОХФ (3)
Найти похожие
7.
Учебные отделы, A996001-ОХФ, A996002-ОХФ,
    Груздов, Вадим Владимирович.
    Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике [Текст] / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2016. - 327, [1] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-426-1 (в пер.) : 1170.40 р.
УДК
621.382.3

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
твердотельная электроника -- СВЧ-электроника -- интеллектуальная собственность -- стандарты -- СВЧ-транзисторы -- полупроводниковые приборы -- технологические процессы (ТП) -- широкозонные материалы -- контроль качества -- гетероструктуры -- электронная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- электронная спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия


Доп. точки доступа:
Колковский, Юрий Владимирович
Концевой, Юлий Абрамович
Экземпляры всего: 5
ОХФ (2), ОУОЕН (3)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)