| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
A846414-ОХФ
    Еловиков, Сергей Сергеевич.
    Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок [Текст] : [учеб. пособие] / С. С. Еловиков ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 94 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02904-6 : 5.50 р.
УДК
539.27(075.8)

Рубрики: физика--физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
твердые тела -- тонкие пленки -- электронная спектроскопия -- энергоанализ заряженных частиц -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
2.
A996717-ОХФ
    Карпасюк, Владимир Корнильевич.
    Зондирующие методы исследований в материаловедении [Текст] : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.). - ISBN 978-5-91910-342-4 : 293.00 р.
УДК
620.18

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- зондирование -- структурный анализ -- ферромагнитный резонанс -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- рентгеноструктурный анализ -- нейтронография -- электронография -- электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- масс-спектрометрия -- сканирующая зондовая микроскопия


Доп. точки доступа:
Смирнов, Андрей Михайлович
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
3.
Учебные отделы, A996967-ОХФ, A996968-ОХФ, A996969-ОХФ,
    Методы и средства контроля процессов и структур in situ [Текст] : учебное пособие для бакалавров, магистрантов и аспирантов, обучающихся по направлениям "Физика и астрономия", "Информатика и вычислительная техника", "Электроника, радиотехника и системы связи", "Фотоника, приборостроение, оптические и биотехнические системы и технологии", "Технологии материалов", "Управление в технических системах" : в 2 ч. / Сарат. нац. исслед. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2014 - 2016. - ISBN 978-5-292-04282-2.
   Ч. 2 / Д. И. Биленко [и др.] ; под общ. ред. Д. И. Биленко и С. Б. Венига. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2016. - 114, [2] с. : рис. - (Материаловедение и технология новых материалов / гл. ред. С. Б. Вениг). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-292-04393-5 (ч. 2) : 324.31 р., 324.32 р.
УДК
620.3(075.8)

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
наноструктуры -- in situ -- многопараметровые измерения -- спектральная эллипсометрия -- спектрофотометрия -- массоперенос -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- материаловедение -- нанотехнологии -- обработка данных -- контроль


Доп. точки доступа:
Биленко, Давид Исаакович
Вениг, Сергей Борисович
Терин, Денис Владимирович
Белобровая, Ольга Яковлевна
Биленко, Давид Исаакович
Вениг, Сергей Борисович
Экземпляры всего: 38
ОХФ (3), ОУОЕН (35)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)