| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=620.22(072.8)<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
A972830-ОХФ
    Дубровский, П. В.
    Моделирование качества в материаловедении с применением современных инновационных подходов [Текст] : учеб.-метод. комплекс / П. В. Дубровский, Н. В. Правдина. - Ульяновск : Ульян. гос. ун-т [изд.], 2006. - 77, [3] с. : рис., табл. - Библиогр. в конце разд. - ISBN [Б. и.] : 30.00 р.
Подготовлено в рамках проекта: "Формирование образовательной программы качественной многоуровневой подготовки и переподготовки специалистов в сфере коммерциализации наукоёмких технологий для высокотехнологичных кластеров отечественной экономики на основе единого процесса генерации, распространения и применения новых знаний" Федер. целевой программы развития образования на 2006-2010 гг.
УДК

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- качество материалов -- дистанционное обучение -- моделирование


Доп. точки доступа:
Правдина, Н. В.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

2.
A983395-ОХФ
   
    Методы и средства микроскопии [Текст] : метод. указания / ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ" ; сост.: Б. В. Шульгин [и др.] ; науч. ред. А. В. Кружалов. - Екатеринбург : Изд-во УМЦ УПИ, 2005. - 187, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.) . - ISBN [Б. и.] : 65.00 р.
УДК

Рубрики: техника--оптические приборы--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- зондовая микроскопия -- обработка изображений -- наночастицы -- биологические объекты


Доп. точки доступа:
Шульгин, Борис Владимирович
Анипко, Алла Владимировна
Антонов, Илья Витальевич
Гайдуков, Владимир Владимирович
Кружалов, А. В.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)