| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :4
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (68)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=рентгеновские лучи<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
A846871-ОХФ, A851449-ОХФ
    Колпаков, Андрей Васильевич.
    Дифракция рентгеновских лучей в сверхрешетках [Текст] : учеб. пособие / А. В. Колпаков, И. Р. Прудников ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 128 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02871-6 : 7.15 р.
УДК
548.73

Рубрики: химия--кристаллография

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновские лучи -- дифракция рентгеновских лучей -- сверхрешетки -- дифракция по Брэггу -- дифракция по Лауэ -- дифрактометрия -- рентгеновская двукристальная дифрактометрия -- кристаллы


Доп. точки доступа:
Прудников, Илья Рудольфович

Экземпляры всего: 2
ОХФ (2)
Найти похожие
2.
A873272-ОХФ, A873534-ОХФ
    Ермолаев, Сергей Анатольевич.
    Естественно-научные методы и технические средства экспертного исследования [Текст] : учеб. пособие / С. А. Ермолаев, И. Н. Мельников, Ф. П. Орлов. - Саратов : Изд-во СЮИ МВД РФ, 2000. - 151 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-7485-0140-6 : 25.00 р.
УДК
343.983

Рубрики: государство и право--уголовное право

Кл.слова (ненормированные):
цифровые изображения -- химический анализ -- масс-спектрометрия -- технические средства -- хроматография -- криминалистическая экспертиза -- спектроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопы -- рентгеновские лучи


Доп. точки доступа:
Мельников, И. Н.
Орлов, Федор Павлович Орлов, Фёдор Павлович
Экземпляры всего: 2
ОХФ (2)
Найти похожие
3.
Учебные отделы, A915720-ОХФ, A915721-ОХФ-ЧЗ-4, A915722-ОХФ-ЧЗ-4
    Фетисов, Геннадий Владимирович.
    Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ [Текст] : учеб. пособие / Г. В. Фетисов ; под ред. Л. А. Асланова. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2007. - 671, [1] с. : рис. - (Фундаментальная и прикладная физика). - Библиогр.: с. 636-663. - Предм. указ.: с. 664-671. - ISBN 978-5-9221-0805-8 (в пер.) : 495.00 р.
Допущено УМО по клас. унив. образованию, в качестве учеб. пособия для студентов ст. курсов, обучающихся по специальности 020101 (011000) - Химия
УДК
539.26
548.73

Рубрики: физика--физика твердого тела

   химия--кристаллография

Кл.слова (ненормированные):
рентгеноструктурный анализ -- синхротронное излучение -- электромагнитное излучение -- рентгеновские лучи -- дифракция -- XAFS спектроскопия -- структурная химия


Доп. точки доступа:
Асланов, Л. А.
Экземпляры всего: 5
ОУОЕН (2), ОХФ (1), ОХФ-ЧЗ-4 (2)
Найти похожие
4.
A994986-ОХФ
    Пущаровский, Дмитрий Юрьевич.
    Рентгенография минералов [Текст] : учебник / Д. Ю. Пущаровский ; Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова. - Москва : Геоинформмарк, 2000. - 295, [1] с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 288 (17 назв.). - ISBN 5-900357-50-3 (в пер.) : 270.00 р.
Допущено М-вом образования РФ в качестве учеб. для геол. специальностей вузов
УДК
548.73(075.8)

Рубрики: химия--кристаллография

Кл.слова (ненормированные):
минералы -- кристаллы -- рентгенография -- рентгеновские лучи -- рассеяние рентгеновских лучей -- рентгеноструктурный анализ



Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)