| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=548.73<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
A846871-ОХФ, A851449-ОХФ
    Колпаков, Андрей Васильевич.
    Дифракция рентгеновских лучей в сверхрешетках [Текст] : учеб. пособие / А. В. Колпаков, И. Р. Прудников ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 128 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02871-6 : 7.15 р.
УДК
548.73

Рубрики: химия--кристаллография

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновские лучи -- дифракция рентгеновских лучей -- сверхрешетки -- дифракция по Брэггу -- дифракция по Лауэ -- дифрактометрия -- рентгеновская двукристальная дифрактометрия -- кристаллы


Доп. точки доступа:
Прудников, Илья Рудольфович

Экземпляры всего: 2
ОХФ (2)
Найти похожие
2.
A907153-ОХФ, A907154-ОХФ
    Боуэн, Д. К.
    Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография [Текст] = High resolution X-RAY diffractometry and topography : монография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер. - Санкт-Петербург : Наука, 2002. - 273, [7] с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-02-024963-7 (в пер.) : 105.00 р.
УДК
539.26:621.315.592
548.73

Рубрики: физика--физика твердого тела

   химия--кристаллография

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская дифрактометрия -- дифрактометрия -- рентгеновская топография -- топография -- дифракция рентгеновских лучей -- высокоразрешающая дифрактометрия -- дефекты в кристаллах -- синхротронное излучение -- эпитаксиальные слои -- материаловедение -- тонкие пленки -- рассеяния теория


Доп. точки доступа:
Таннер, Б. К.

Экземпляры всего: 2
ОХФ (2)
Найти похожие
3.
Учебные отделы, A915720-ОХФ, A915721-ОХФ-ЧЗ-4, A915722-ОХФ-ЧЗ-4
    Фетисов, Геннадий Владимирович.
    Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ [Текст] : учеб. пособие / Г. В. Фетисов ; под ред. Л. А. Асланова. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2007. - 671, [1] с. : рис. - (Фундаментальная и прикладная физика). - Библиогр.: с. 636-663. - Предм. указ.: с. 664-671. - ISBN 978-5-9221-0805-8 (в пер.) : 495.00 р.
Допущено УМО по клас. унив. образованию, в качестве учеб. пособия для студентов ст. курсов, обучающихся по специальности 020101 (011000) - Химия
УДК
539.26
548.73

Рубрики: физика--физика твердого тела

   химия--кристаллография

Кл.слова (ненормированные):
рентгеноструктурный анализ -- синхротронное излучение -- электромагнитное излучение -- рентгеновские лучи -- дифракция -- XAFS спектроскопия -- структурная химия


Доп. точки доступа:
Асланов, Л. А.
Экземпляры всего: 5
ОУОЕН (2), ОХФ (1), ОХФ-ЧЗ-4 (2)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)