| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :1
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>KL=XAFS спектроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
Учебные отделы, A915720-ОХФ, A915721-ОХФ-ЧЗ-4, A915722-ОХФ-ЧЗ-4
    Фетисов, Геннадий Владимирович.
    Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ [Текст] : учеб. пособие / Г. В. Фетисов ; под ред. Л. А. Асланова. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2007. - 671, [1] с. : рис. - (Фундаментальная и прикладная физика). - Библиогр.: с. 636-663. - Предм. указ.: с. 664-671. - ISBN 978-5-9221-0805-8 (в пер.) : 495.00 р.
Допущено УМО по клас. унив. образованию, в качестве учеб. пособия для студентов ст. курсов, обучающихся по специальности 020101 (011000) - Химия
УДК

Рубрики: физика--физика твердого тела

   химия--кристаллография


Кл.слова (ненормированные):
рентгеноструктурный анализ -- синхротронное излучение -- электромагнитное излучение -- рентгеновские лучи -- дифракция -- XAFS спектроскопия -- структурная химия


Доп. точки доступа:
Асланов, Л. А.
Экземпляры всего: 5
ОУОЕН (2), ОХФ (1), ОХФ-ЧЗ-4 (2)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)