| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :4
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=681.723.2<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.
A845493-ОХФ
    Дюков, Валентин Георгиевич.
    Растровая оптическая микроскопия [Текст] / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. - Москва : Наука, 1992. - 208 с. : ил. - (Современные физико-технические проблемы). - Библиогр. - ISBN 5-02-014374-X : 42.00 р.
УДК

Рубрики: техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- оптическая микроскопия -- растровые оптические микроскопы


Доп. точки доступа:
Кудеяров, Юрий Алексеевич
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

2.
A979054-ОХФ
    Егорова, Ольга Владимировна.
    Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей [Текст] / О. В. Егорова. - 2-е изд., перераб. - Москва : Техносфера, 2007. - 357, [3] с. : рис., табл. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 355-357 (60 назв.). - ISBN 978-5-94836-129-1 (в пер.) : 325.00 р.
УДК

Рубрики: техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- микроскопия -- методы исследования -- стандартизация -- контроль качества
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

3.
A979068-ОХФ
    Синдо, Дайзуке.
    Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. - Москва : Техносфера, 2006. - 249, [7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4 (в пер.). - ISBN 4-431-70336-5 (англ.) : 110.00 р.
УДК

Рубрики: техника--оптические приборы

   радиотехника.электроника--электронные приборы


Кл.слова (ненормированные):
электронные микроскопы -- микроскопы -- электронная микроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- трехмерная томография -- материаловедение -- ALCHEMI метод


Доп. точки доступа:
Оикава, Тецуо
Иванов, С. А.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

4.
Учебные отделы, A987216-ОХФ, A987217-ОХФ, A987218-ОХФ,
    Усанов, Дмитрий Александрович.
    Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения [Текст] / Д. А. Усанов. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2010. - 98, [2] с. - [Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения] . - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-292-03937-2 : 98.21 р.
УДК

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы


Кл.слова (ненормированные):
СВЧ-микроскопы -- ближнеполевые СВЧ- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотехнологии -- линии передачи -- СВЧ-резонаторы
Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий.
Держатели документа:
ЗНБ СГУ
Экземпляры всего: 10
ОХФ (3), ОУОЕН (7)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)