Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :17

В других БД по вашему запросу найдено:

Электронный каталог (8)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>KL=оптическая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 17
Показаны документы с 1 по 17

Дюков, Валентин Георгиевич.
Растровая оптическая микроскопия [Текст] : научное издание / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. - Москва : Наука, 1992. - 208 с. : ил. - (Современные физико-технические проблемы). - Библиогр. - ISBN 5-02-014374-X : 42.00 р.

УДК

681.723.2

Рубрики: техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- оптическая микроскопия -- растровые оптические микроскопы
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Кудеяров, Юрий Алексеевич
Найти похожие

Миронов, В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р.

УДК

621.385.833(075.8)

681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия
Аннотация: Пособие охватывает всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Найти похожие

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2004. - 384 с. : ил. ; 24 см. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-018-0 : 275.00 р.

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.22(075.8)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- исследования материалов -- микроструктура -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- дифракционный анализ -- дифракция -- оптическая микроскопия
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л.
Найти похожие

Миронов, В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.

УДК

621.385.833(075.8)

681.723.2(075.8)

Kaupp, Gerd.
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Электронный ресурс] : научное издание / G. Kaupp. - Электрон. текстовые дан. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006?. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - (NanoScience and Technology) (Springer eBook Collection). - ISBN 9783540284727. - ISBN 9783540284727 (ошибоч.) (в кор.) : 630.00 р.

УДК

621.385.833(0.034.4)

681.723.2(0.034.4)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия -- оптическая микроскопия -- нанотехнологии -- наноцарапины
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

Методы и средства микроскопии [Текст] : метод. указания / ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ" ; сост.: Б. В. Шульгин [и др.] ; науч. ред. А. В. Кружалов. - Екатеринбург : Изд-во УМЦ УПИ, 2005. - 187, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.) . - ISBN [Б. и.] : 65.00 р.

УДК

681.723.2(072.8)

620.22(072.8)

Рубрики: техника--оптические приборы--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- зондовая микроскопия -- обработка изображений -- наночастицы -- биологические объекты
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Шульгин, Борис Владимирович
Анипко, Алла Владимировна
Антонов, Илья Витальевич
Гайдуков, Владимир Владимирович
Кружалов, А. В.
Найти похожие

   Сердюк, Игорь
    Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика [Текст] : учебное пособие : в 2 т. / И. Сердюк, Н. Заккаи, Дж. Заккаи ; [науч. ред. И. Сердюк]. - Москва : КДУ : Благотворительный фонд "Вольное дело" [изд.] : Компания "Базовый элемент" [изд.], 2009 - 2010.
   Т. 2. - Москва : КДУ : Благотворительный фонд "Вольное дело" [изд.] : Компания "Базовый элемент" [изд.], 2010. - 734, [2] с. : цв. ил. - ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-98227-454-0 (Том 2) (в пер.) : 1339.00 р.

УДК

577.32(075.8)

Рубрики: биология--биофизика

Кл.слова (ненормированные):
молекулярная биофизика -- биологические макромолекулы -- молекулярная биология -- оптическая микроскопия -- рентгеновская дифракция -- нейтронная дифракция -- электронная дифракция -- спектроскопия -- молекулярная динамика -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР)
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Заккаи, Натан
Заккаи, Джозеф
Найти похожие

Опыт применения электрических разрядов в обработке металлов [Текст] / В. Г. Антосяк [и др.] ; Кишиневский политехн. ин-т. - Кишинев : Штиинца, 1983. - 124 с. : ил. ; 21 см. - 1.20 р.

ГРНТИ	55.20
УДК	621.7/9.047/048

Рубрики: Обработка материалов--Электрические методы обработки

Кл.слова (ненормированные):
электронно-зондовые системы -- рентгенографические системы -- обработка материалов -- обработка металлов -- электрообработка -- электроразрядная обработка -- оптическая микроскопия -- лазерный микроанализ -- плазма -- волновые процессы -- поперечные волны -- разрядная плазма -- дуговой разряд -- периодические разряды -- диагностика плазмы
Аннотация: Рассматриваются вопросы, связанные с изучением состояния плазмы и методами ее диагностики. Описываются современные методы и оборудование для проведения комплексного исследования и контроля материалов, подвергшихся электроразрядной обработке, в частности оптическая микроскопия, лазерный микроанализ, электронно-зондовые и рентгенографические системы, приборы акустической эмиссии.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Антосяк, В. Г.
Маковейчук, Г. Е.
Плахотников, О. И.
Шистик, Л. Н.
Найти похожие

Физическое металловедение [Текст] : атомное строение металлов и сплавов; Пер. с англ. / Р. У. Кан, П. Хаазен, Хаазен П. - М. : Металлургия, 1987 - .
Т.1. - 1987. - 639 с. ; 22 см. - 6.40 р.

ГРНТИ	53.49
УДК	669.017+669.53

Рубрики: Металлургия--Металловедение

Кл.слова (ненормированные):
металловедение -- металлургия -- физическое металловедение -- оптическая микроскопия -- стереомикроскопия -- фотоэлектроны -- микроструктура сплавов -- магнетизм -- сверхпроводимость
Аннотация: Изложены физические основы теории металлического состояния.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Кан, Р.У.
Хаазен, П.
Хаазен П.,
Найти похожие

10.

Аристова, Н. А.
Термическая обработка литейных алюминиевых сплавов [Текст] : научное издание / Н. А. Аристова, И. Ф. Колобнев. - М. : Металлургия, 1977. - 144 с. : ил., табл., рис. ; 20 см. - 0.40 р.

ГРНТИ	55.21
УДК	621.78:669.715

Рубрики: Обработка материалов--Термическая обработка

Кл.слова (ненормированные):
СТРУКТУРА СПЛАВОВ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- УЛЬТРАФИОЛЕТОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ ТЕНЕВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- АЛЮМИНИЕВЫЕ СПЛАВЫ
Аннотация: Даны справочные сведения по технологии термической обработки литейных алюминиевых сплавов и лабораторных исследований их структуры и свойств.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Колобнев, И. Ф.
Найти похожие

11.

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 384 с. : ил. ; 24 см. - (Мир материалов и технологий ). - ISBN 5-94836-018-0 : 160.00 р.
Гриф: рек. Ин-том химич. физики РАН в качестве учеб. пособия для студ., обуч. по напр. подг. "Прикладные математика и физика" . Имеется электронный аналог печатного издания
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля / Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2006. - 1эл. опт. диск (CD-ROM). - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.22(075)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Микроанализ материалов

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОАНАЛИЗАТОРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСТРУКТУРА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л.
Егорова, О. В.
Найти похожие

12.

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Электронный ресурс] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан. - Электрон. текстовые дан. - М. : Техносфера, 2006. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - Систем. требования: Прил. :Pentium III 900 Mгц ; Adobe Acrobat Reader ; CD-ROM. - Загл. с контейнера. - Б. ц.
Электронный аналог печатного издания. Диски помещены в контейнер 13Х13 см. Режим доступа: http://lib.sstu.ru/books/Ld_110.pdf
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 384 с: ил. - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.22(075)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Микроанализ материалов

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОАНАЛИЗАТОРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСТРУКТУРА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.

Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Найти похожие

13.

Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов [Электронный ресурс] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт. - Электрон. текстовые дан. - М. : Техносфера, 2007. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - Систем. требования: Прил. :Pentium III 900 Mгц ; Adobe Acrobat Reader ; CD-ROM. - Загл. с контейнера. - Б. ц.
Электронный аналог печатного издания. Диски помещены в контейнер 13Х13см. Режим доступа: http://lib.sstu.ru/books/Ld_114.pdf
Параллельные издания: Кларк Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк , К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2007. - 376 с: ил. - ISBN 978-5-94836-121-5 (Шифр 620.1/К47)

ГРНТИ	81.01
УДК	620.1

ББК 30.3

Рубрики: Испытания материалов--Исследования материалов

Кл.слова (ненормированные):
МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ИНТЕРФЕРЕНЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- КОНСТРУКЦИОННЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- ДВУМЕРНОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕ -- ЦИФРОВОЕ ИЗОБРАЖЕНИЕ -- КОМПОЗИТЫ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ
Аннотация: В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов.

Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Эберхардт, К. Н.
Найти похожие

14.

Смолмен, Р.
Современная металлография [Текст] / Р. Смолмен, К. Ашби ; пер.: Е. В. Борисова, Ю. Г. Година ; под ред. В. Б. Семикоза = Modern metallography / R. Smallman ; K. Ashbee : научное издание. - М. : Атомиздат, 1970. - 208 с. : ил. ; 20 см. - 2.17 р.
Тит. л. парал. на англ. яз.

ГРНТИ	53.49
УДК	669:539.2

Рубрики: Металлургия--Металловедение

Кл.слова (ненормированные):
ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ПОВЕРХНОСТНАЯ ТОПОГРАФИЯ -- ПОЛЯРИЗАЦИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ МЕТАЛЛОВ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП -- ТЕОРИЯ КОНТРАСТА -- АТОМНЫЕ ДЕФЕКТЫ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ РЕШЕТКА
Аннотация: В книге, написанной известными специалистами в области физики металлов, рассмотрены различные дефекты в кристаллических телах, от которых в основном зависит поведение материалов в определенных условиях. Изложены методы металлографического анализа. Приведены сведения об оптических микроскопах.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Ашби, К. Ashbee K.
Борисова, Е. В.
Годин, Ю. Г.
Семикоза, В. Б.
Найти похожие

15.

Градус, Л. Я.
Руководство по дисперсионному анализу методом микроскопии [Текст] : научное издание / Л. Я. Градус. - M. : Химия, 1979. - 232 с. : граф., рис., табл. ; 20 см. - Библиогр.: с. 230-232. - 0.60 р.

ГРНТИ	31.15
УДК	541.182

Рубрики: Химия--Физическая химия

Кл.слова (ненормированные):
ДИСПЕРСИОННЫЙ АНАЛИЗ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЧАСТИЦЫ АЭРОЗОЛЕЙ -- ТИПЫ МИКРОСКОПОВ -- ЧАСТИЦЫ ПОРОШКА -- ПРИГОТОВЛЕНИЕ ПРЕПАРАТОВ
Аннотация: Изложены основные сведения, необходимые для проведения дисперсионного анализа частиц аэрозолей и порошков методом микроскопии. Рассмотрена техника приготовления препаратов из частиц, способы их изучения и применяемая для этой цели аппаратура, вспомогательные приборы и принадлежности.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

16.

Фомин, А. А.
Плазменно-индукционное напыление покрытий дентальных имплантатов [Текст] : микроструктура и механические свойства : монография / А. А. Фомин. - Saarbrucken : LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011. - 151 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 133-150 (173 назв.). - ISBN 978-3-8443-5251-1 : 50.00 р.

ГРНТИ	76.29.55	81.35.33
УДК	616.3:621.793

ББК 56.6 + 30.61

Рубрики: Медицина--Клиническая медицина

Обработка материалов--Напыление

Кл.слова (ненормированные):
ИМПЛАНТАТЫ -- ДЕТАЛЬНЫЕ ИМПЛАНТАТЫ -- НАПЫЛЕНИЕ ПОКРЫТИЙ -- ПЛАЗМЕННО-ИНДУКЦИОННОЕ НАПЫЛЕНИЕ -- МЕДИКО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗДЕЛИЯ -- БИОСОВМЕСТИМЫЕ ПОКРЫТИЯ -- БИОХИМИЧЕСКАЯ СОВМЕСТИМОСТЬ -- ПЛАЗМЕННОЕ НАПЫЛЕНИЕ -- ИНДУКЦИОННЫЙ НАГРЕВ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ -- МИКРОСТРУКТУРА -- МЕХАНИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА -- МИКРОТВЕРДОСТЬ -- ПРОФИЛОМЕТРИЯ
Аннотация: В данной монографии рассматривается технология нанесения биосовместимых покрытий медико-технических изделий с помощью нового плазменно-индукционного метода, решается проблема повышения уровня биомеханической совместимости покрытий дентальных имплантатов. Теоретическая часть включает использование основных положений теории плазменного напыления и индукционного нагрева. Свойства покрытий изучались методами рентгенофазового анализа, оптической микроскопии, профилометрии, измерения микротвердости и прочности при срезе. Новизна полученных данных заключается в предложенной модели прочности сцепления покрытия с основой, учитывающей влияние ее индукционно-термической активации и дистанции плазменного напыления. Установлены закономерности влияния температуры предварительного индукционного нагрева основы и дистанции напыления на фазово-структурное состояние и механические свойства покрытий имплантатов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

17.

Геллер, Юлий Александрович.
Металловедение (методы анализа, лабораторные работы и задачи) [Текст] : учеб. пособие для вузов / Ю. А. Геллер. - 3-е изд., перераб. - Москва : Металлургия, 1967. - 404 с. - 01.09 р.

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)