| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=стереомикроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

   
    Handbuch der Mikroskopie [Текст] : справочное издание. - 3., stark bearb. Aufl. - Berlin : Technik, 1988. - 488 S. : Abb. - Bibliogr. - ISBN 3-341-00283-9 : 203000.00 р.
УДК

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы


Кл.слова (ненормированные):
оптическая система микроскопа -- стереомикроскопия -- источники света -- светофильтры -- электронные микроскопы -- микроскопы -- оптические микроскопы
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

2.

    Физическое металловедение [Текст] : атомное строение металлов и сплавов; Пер. с англ. / Р. У. Кан, П. Хаазен, Хаазен П. - М. : Металлургия, 1987 - .
   Т.1. - 1987. - 639 с. ; 22 см. - 6.40 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Металлургия--Металловедение

Кл.слова (ненормированные):
металловедение -- металлургия -- физическое металловедение -- оптическая микроскопия -- стереомикроскопия -- фотоэлектроны -- микроструктура сплавов -- магнетизм -- сверхпроводимость
Аннотация: Изложены физические основы теории металлического состояния.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Кан, Р.У.
Хаазен, П.
Хаазен П.,
Найти похожие

3.

    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ [Текст] = Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : в 2-х кн. : монография / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир , 1984.
   Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил., табл. ; 22 см. - 3.00 р.
Тит. л. парал. на англ. яз.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУЧКИ -- СТЕРЕОМИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ -- СПЕКТРОМЕТРЫ
Аннотация: В первой книге монографии изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Гоулдстейн, Дж. Goldstein J. I.
Ньюбери, Д. Newbury D. E.
Эчлин, П. Echlin P.
Джой, Д. Joy D. C.
Фиори, Ч. Fiori C.
Лифшин, Э. Lifshin E.
Гвоздовер, Р. С. \\пер.\\
Комолова, Л. Ф. \\пер.\\
Петров, В. И. \\ред.\\
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)