Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :3

В других БД по вашему запросу найдено:

Электронный каталог (1)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Брандон, Д.$<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова. - М. : Техносфера, 2004. - 384 с. : ил. ; 24 см. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце гл. - ISBN 5-94836-018-0 : 275.00 р.

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.22(075.8)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- исследования материалов -- микроструктура -- кристаллография -- кристаллическая структура -- кристаллическая решетка -- дифракционный анализ -- дифракция -- оптическая микроскопия
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л.
Найти похожие

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 384 с. : ил. ; 24 см. - (Мир материалов и технологий ). - ISBN 5-94836-018-0 : 160.00 р.
Гриф: рек. Ин-том химич. физики РАН в качестве учеб. пособия для студ., обуч. по напр. подг. "Прикладные математика и физика" . Имеется электронный аналог печатного издания
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля / Д. Брандон, У. Каплан. - М. : Техносфера, 2006. - 1эл. опт. диск (CD-ROM). - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.22(075)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Микроанализ материалов

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОАНАЛИЗАТОРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСТРУКТУРА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л.
Егорова, О. В.
Найти похожие

Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Электронный ресурс] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан. - Электрон. текстовые дан. - М. : Техносфера, 2006. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - Систем. требования: Прил. :Pentium III 900 Mгц ; Adobe Acrobat Reader ; CD-ROM. - Загл. с контейнера. - Б. ц.
Электронный аналог печатного издания. Диски помещены в контейнер 13Х13 см. Режим доступа: http://lib.sstu.ru/books/Ld_110.pdf
Параллельные издания: Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. С. Л. Баженова с доп. О. В. Егоровой. - М. : Техносфера, 2006. - 384 с: ил. - ISBN 5-94836-018-0 (Шифр 620.2(075)/Б87)

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.22(075)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Микроанализ материалов

Кл.слова (ненормированные):
МИКРОАНАЛИЗАТОРЫ -- ОПТИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННЫЕ МИКРОСКОПЫ -- МИКРОСТРУКТУРА -- КРИСТАЛЛИЧЕСКАЯ СТРУКТУРА
Аннотация: Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения. Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.

Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)