Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

в найденном

В текущей базе данных найдено документов :48

В других БД по вашему запросу найдено:

Электронный каталог (14)

ЭБС "ЛАНЬ" (1)

Публикации учёных СГУ (5)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>KL=электронная микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 48
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-40 41-48

Шереметьева, Галина Фёдоровна.
Методы гистологических исследований [Текст] : научное издание / Г. Ф. Шереметьева, Е. З. Кочарян ; . - Москва : НЦХ РАМН, 1995. - 37 с. - Библиогр. - ISBN 5-900895-01-7 : 4000.00 р.
Авт. указаны на обороте тит. л.

УДК

611-018(076.5)

Рубрики: медицина--анатомия

Кл.слова (ненормированные):
гистология -- артефакты -- гистохимия -- микроскопия -- электронная микроскопия -- радиоавтография -- ткани биологические
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Кочарян, Евгения Захарьевна

Найти похожие

Frank, Joachim.
Three-Dimensional Electron Microscopy of Macromolecular Assemblies [Текст] : научное издание / Joachim Frank. - San Diego a. o. : Acad. Press, 1996. - 342 p. : fig. - Bibliogr. - ISBN 0-12-265040-9 : 17.00 р.

УДК

578.6

Рубрики: биология--биология

Кл.слова (ненормированные):
биология -- электронная микроскопия -- макромолекулярные схемы
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

Ермолаев, Сергей Анатольевич.
Естественно-научные методы и технические средства экспертного исследования [Текст] : учеб. пособие / С. А. Ермолаев, И. Н. Мельников, Ф. П. Орлов. - Саратов : Изд-во СЮИ МВД РФ, 2000. - 151 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-7485-0140-6 : 25.00 р.

УДК

343.983

Рубрики: государство и право--уголовное право

Кл.слова (ненормированные):
цифровые изображения -- химический анализ -- масс-спектрометрия -- технические средства -- хроматография -- криминалистическая экспертиза -- спектроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопы -- рентгеновские лучи
Аннотация: Рассматриваются современные наукоемкие методы исследования веществ; пособие содержит большой практический материал по применению естественно-научных методов для решения задач криминалистики.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)

Доп. точки доступа:
Мельников, И. Н.
Орлов, Федор Павлович Орлов, Фёдор Павлович
Найти похожие

Токарев, П. И.
Морфология и ультраструктура пыльцевых зерен [Текст] : научное издание / П. И. Токарев. - Москва : КМК, 2002. - 51, [1] с. - ISBN 5-87317-102-5 : 35.00 р.

УДК

561:581.3:537.533.35

Рубрики: палеонтология--палеоботаника

Кл.слова (ненормированные):
палинология -- пыльца -- споры -- пыльцевые зерна -- спородермы -- электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- спородермы -- палинологические исследования
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

Ахлестина, Е. Ф.
Кремниевые породы мела и палеогена Поволжья [Текст] / Е. Ф. Ахлестина, А. В. Иванов = Cretaceous and paleogene siliceous rocks from the volga region / E. F. Akhlestina, A. V. Ivanov : научное издание. - М. : ИД "Камертон", 2009. - 325 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 319-324. - ISBN 978-5-904142-02-5 : 120.00 р.

ГРНТИ	38.21
УДК	551.7

ББК 26.33

Рубрики: Геология--Региональная геология--Поволжье

Кл.слова (ненормированные):
КРЕМНИЕВЫЕ ПОРОДЫ -- МЕЛ -- ПАЛЕОГЕН -- ЛИТОЛОГО-МИНЕРАЛОГИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ -- ТЕРМИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ -- ХИМИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ -- РЕНТГЕНОДИФРАКТОМЕТРИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Иванов, А. В. Ivanov A. V.
Найти похожие

Методы и средства микроскопии [Текст] : метод. указания / ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ" ; сост.: Б. В. Шульгин [и др.] ; науч. ред. А. В. Кружалов. - Екатеринбург : Изд-во УМЦ УПИ, 2005. - 187, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.) . - ISBN [Б. и.] : 65.00 р.

УДК

681.723.2(072.8)

620.22(072.8)

Рубрики: техника--оптические приборы--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- зондовая микроскопия -- обработка изображений -- наночастицы -- биологические объекты
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Шульгин, Борис Владимирович
Анипко, Алла Владимировна
Антонов, Илья Витальевич
Гайдуков, Владимир Владимирович
Кружалов, А. В.
Найти похожие

Фурсей, Георгий Николаевич.
Автоэлектронная эмиссия [Текст] : научное издание / Г. Н. Фурсей. - Санкт-Петербург ; Москва ; Краснодар : Лань, 2012. - 319, [5] с. : ил., фото. цв. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 274-311 (517 назв.). - ISBN 978-5-8114-1232-7 (в пер.) : 455.00 р.

УДК

537.533.2

621.385

Рубрики: физика--электромагнетизм

радиотехника.электроника--электронные приборы

Кл.слова (ненормированные):
автоэлектронная эмиссия -- металлы -- полупроводники -- точечные автоэлектронные катоды -- электронная микроскопия -- электронно-оптические устройства -- вакуумная наноэлектроника
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

Наноструктурные покрытия [Текст] : научное издание / под ред. А. Кавалейро и Д. Хоссона де ; пер. с англ. А. В. Хачояна под ред. Р. А. Андриевского. - Москва : Техносфера, 2011. - 750, [2] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; 28). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-182-6 (в пер.). - ISBN 978-0-38-725642-9 (англ.) : 1247.00 р.

УДК

539.21

620.3-408

Рубрики: физика--физика твердого тела

техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
твердые тела -- наноструктурные покрытия -- покрытия -- наноструктурные металлы -- деформации -- дефекты -- наноиндентирование -- электронная микроскопия -- наноструктурные твердые пленки -- нанокомпозиты -- магнетронное напыление -- синтез -- разрушение покрытий -- трибология
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Кавалейро, А.
Хоссон де, Д.
Хачоян, А. В.
Андриевский, Р. А.
Найти похожие

Груздов, Вадим Владимирович.
Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике [Текст] : учебное пособие / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2016. - 327, [1] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-426-1 (в пер.) : 1170.40 р.

УДК

621.382.3

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
твердотельная электроника -- СВЧ-электроника -- интеллектуальная собственность -- стандарты -- СВЧ-транзисторы -- полупроводниковые приборы -- технологические процессы (ТП) -- широкозонные материалы -- контроль качества -- гетероструктуры -- электронная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- электронная спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Колковский, Юрий Владимирович
Концевой, Юлий Абрамович
Найти похожие

10.

Карпасюк, Владимир Корнильевич.
Зондирующие методы исследований в материаловедении [Текст] : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.). - ISBN 978-5-91910-342-4 : 293.00 р.

УДК

620.18

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- зондирование -- структурный анализ -- ферромагнитный резонанс -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- рентгеноструктурный анализ -- нейтронография -- электронография -- электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- масс-спектрометрия -- сканирующая зондовая микроскопия
Аннотация: Содержит изложение физических основ, принципов аппаратурной реализации, метрологических характеристик и применений методов исследования, основанных на зондировании твердых тел электромагнитными волнами высоких и сверхвысоких частот, рентгеновскими лучами, гамма-квантами, потоками электронов, ионов и нейтронов. Рассмотрены явления взаимодействия излучений различного вида с веществом, приведены необходимые сведения из кристаллографии и оптики пучков частиц. Представлены также методы сканирующей зондовой микроскопии, в том числе туннельная, атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия. Прикладные вопросы рассмотрены, в основном, на примере исследования материалов для магнитной и спиновой электроники и некоторых наноструктурированных сред. К каждому разделу подобраны вопросы и упражнения.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Смирнов, Андрей Михайлович
Найти похожие

11.

Ищенко, Анатолий Александрович.
Структура и динамика свободных молекул и конденсированного вещества [Текст] : научное издание / А. А. Ищенко. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2018. - 655, [1] с. : ил., табл. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 646-655. - ISBN 978-5-9221-1799-9 (в пер.) : 841.00 р.

УДК

544

Рубрики: химия--физическая химия

Кл.слова (ненормированные):
химические реакции -- динамика химических реакций -- электронная дифракция -- молекулярные структуры -- электронно-колебательные взаимодействия -- внутримолекулярная динамика -- пентагалогениды -- переходные структуры -- электронная кристаллография -- нанокристаллография -- электронная микроскопия -- структурная динамика -- спектральные методы -- дифракционные методы
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

12.

Бублик, В. Т.
Сборник задач и упражнений по курсу "Методы исследования структуры" [Текст] : учеб. пособие / В. Т. Бублик. - М. : Высшая школа, 1988. - 192 с. : ил. ; 20см. - ISBN 5-06-001309-Х : 0.50 р.

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.18(075.8)

ББК 30.3

Рубрики: Испытания материалов--Электронная микроскопия

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- испытание материалов -- рентгеновские лучи -- рентгеноструктурный анализ -- электронная микроскопия -- электронография
Аннотация: В сборнике содержатся задачи и упражнения по следующим разделам: микроскопические исследования в видимом свете; рентгенодифракционные методы исследования структуры полупроводниковых, диэлектрических и металлических материалов, электронно-оптические методы.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

13.

Суворов, А. Л.
Микроскопия в науке и технике [Текст] / А. Л. Суворов. - М. : Наука, 1981. - 136 с. : ил. ; 20см. - (Наука и технический прогресс). - 0.45 р.

ГРНТИ	29.05
УДК	537.53

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
физика -- микроскопы -- световая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопический анализ -- рентгеновская микроскопия -- автоэлектронная микроскопия -- автоионная микроскопия
Аннотация: Книга знакомит с основными вехами в развитии микроскопии,типами и принципами действия современных микроскопов.Рассмотрены тенденции развития микроскопии,ее перспективы.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

14.

Черемской, П. Г.
Методы исследования пористости твердых тел [Текст] / П. Г. Черемской. - М. : Энергоатомиздат, 1985. - 112 с. : ил. ; 20см. - Библиогр.: с. (99 назв.). - 1.20 р.

ГРНТИ	29.19
УДК	539.217

Рубрики: Физика--Физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
физика -- твердое тело -- пористость -- световая микроскопия -- электронная микроскопия -- капиллярная дефектоскопия -- ртутная порометрия -- волюмометрия -- пикнометрия -- поры -- методы излучения -- поры твердого тела
Аннотация: На основе излагаемых общих представлений о порах как фазовых неоднородностях твердого тела рассмотрены принципы и возможности существующих методов излучения внутренних и открытых пор различной дисперсности и природы.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

15.

Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении [Текст] / Под ред.С.Амелинкса,Р.Геверса;Пер.с англ.А.М.Глейзера. - М. : Металлургия, 1984. - 504 с. : ил. ; 21см. - 6.20 р.

ГРНТИ	47.29
УДК	621.385.833:620.1

Рубрики: Электроника--Электронная микроскопия

Кл.слова (ненормированные):
электроника -- дифракционная электронная микроскопия -- рентгенография -- нейронография -- рентгеновская топография -- автоионная микроскопия -- электронная микроскопия -- кластеры -- фазовые преобразователи -- электронограмма -- мартенситные превращения
Аннотация: Изложены структурные методы исследования твердых тел:дифракционная электронная микроскопия,рентгенография,нейтронография,рентгеновская топография,дифракция медленных электронов,автоионная микроскопия.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Амелинкс, С.
Геверс, Р.
Найти похожие

16.

Микроанализ и растровая электронная микроскопия [Текст] : пер. с фр. / Под ред. Ф. Морис, Л. Мени, Р. Тиксье. - М. : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 392-404. - 5.10 р.
Предм. указ.: с. 404-407

ГРНТИ	31.19
УДК	543:537.533

Рубрики: Химия--Аналитическая химия

Кл.слова (ненормированные):
аналитическая химия -- электронная микроскопия -- эмиссия -- рентгеновские излучения -- спектрография -- ядерный микрозонд -- методы микроанализа
Аннотация: В книге изложены теория и практическое применение растровой электронной микроскопии и физических методов микроанализа: Оже- спектроскопии, масс-спектроскопии вторичных ионов, ядерного и лазерного микрозондов в физике твердого тела, металлургии и геологии. Рассмотрен метод количественного рентгеновского микроанализа, основанный на применении ЭВМ.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Морис, Ф.
Мени, Л.
Тиксье, Р.
Найти похожие

17.

Безбородов, М. А.
Самопроизвольная кристаллизация силикатных стекол [Текст] / М. А. Безбородов. - Минск : Наука и техника, 1981. - 248 с. ; 21 см. - 1.30 р.

ГРНТИ	61.35.31
УДК	666.1

Рубрики: Химическая промышленность--Стекольная промышленность

Кл.слова (ненормированные):
химическая промышленность -- кристаллизация -- вязкость -- силикатное стекло -- тектитовое стекло -- сферолитовая кристаллизация -- ультрафиолетовая спектроскопия -- электронная микроскопия -- ядрообразование
Аннотация: Посвящена развитию и современному состоянию знаний о самопроизвольной кристаллизации силикатных стекол.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

18.

Батаев, В. А.
Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей [Текст] : учеб. пособие / В. А. Батаев, А. А. Батаев, А. П. Алхимов. - 2-е изд. - М. : Флинта : Наука, 2007. - 224 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-9765-0207-9. - ISBN 978-5-02-034811-0 : 154.00 р.
Гриф: допущено УМО вузов РФ по образованию в области материаловедения, технологии материалов и покрытий в качестве учеб. пособия по дисциплине «Физические методы исследования материалов» для студ. вузов, обучающихся по направлению подготовки бакалавров и магистров 150600 (551600) - "Материаловедение и технология новых материалов" и дипломированных специалистов по спец. 150601 (071000) -"Материаловедение и технология новых материалов" и 150501 (120800) - "Материаловедение в машиностроении"

ГРНТИ	81.09.01.33
УДК	620.1(075.8)

ББК 30.3

Рубрики: Материаловедение--Структурный анализ

Кл.слова (ненормированные):
МАТЕРИАЛОВЕДЕНИЕ -- СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ -- КРИСТАЛЛИЧЕСКОЕ СТРОЕНИЕ МЕТАЛЛОВ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ -- рентгеновский метод контроля
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Батаев, А. А.
Алхимов, А. П.
Найти похожие

19.

Металловедение и термическая обработка стали [Текст] : в 3 т. : справочник / под ред. М. Л. Бернштейна, А. Г. Рахштадта. - 4-е изд., перераб. и доп. - М. : Металлургия, 1991 - . - ISBN 5-229-00794-Х.
Т. 1 : Методы испытаний и исследования : в 2 кн., Кн. 1 / Б. А. Клыпин [и др.]. - 1991. - 304 с. : ил. ; 22 см. - ISBN 5-229-00796-8 : 3.50 р.

ГРНТИ	53.49.01.33
УДК	669.14.017+621.78:669.14(083)

Рубрики: Металлургия--Стали

Кл.слова (ненормированные):
металлургия -- стали -- микроструктура сплавов -- электронная микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- рентгеноспектральный микроанализ
Аннотация: Изложены методики современного металлографического анализа: микроскопического, электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, рентгеноспектроскопического, микрорентгеноспектрального, нейроноструктурного.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Клыпин, Б. А.
Меньшиков, А. З.
Рахштадт, А. Г.
Скаков, Ю. А.
Усиков, М. П.
Бернштейн, М. Л. \\ред.\\
Рахштадт, А. Г. \\ред.\\
Найти похожие

20.

Богачев, И. Н.
Структура и свойства железомарганцевых сплавов [Текст] : научное издание / И. Н. Богачев, В. Ф. Еголаев. - М. : Металлургия, 1973. - 295 с. : ил. ; 20см. - Библиогр.: с. 291-296 (154 назв.). - 1.68 р.

ГРНТИ	53.31
УДК	669.14

Рубрики: Металлургия--Сплавы

Кл.слова (ненормированные):
СПЛАВЫ -- ЖЕЛЕЗОМАРГАНЦЕВЫЕ СПЛАВЫ -- МЕТАЛЛОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОГРАФИЯ -- МАРТЕНСИТНОЕ ПРЕВРАЩЕНИЕ -- АУСТЕНИТНЫЕ СТАЛИ -- ХРОМОМАРГАНЦЕВЫЕ СТАЛИ -- НЕРЖАВЕЮЩИЕ СТАЛИ -- КАВИТАЦИОННОСТОЙКИЕ СТАЛИ -- ЖАРОСТОЙКИЕ СТАЛИ -- ЖАРОПРОЧНЫЕ СТАЛИ
Аннотация: Рассмотрены особенности структурных превращений, свойства и практическое применение железомарганцевых сплавов. Значительное внимание уделено влиянию легирующих элементов, фазовым превращениям, пластической деформации и их взаимодействию. Рассмотрены особенности мартенситного превращения. Обсуждены особенности нержавеющих, кавитационностойких и износостойких сталей.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Еголаев, В. Ф.
Найти похожие

1-20 21-40 41-48

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)