| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "IPRBOOKS" (2)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Красников, Г. Я.$<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
A873478-ОХФ
   Красников, Г. Я.
    Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС [Текст] : в 2 ч. / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев. - Москва : Микрон-Принт, 1999.
   Ч. 1. - Москва : Микрон-Принт, 1999. - 226 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-93497-001-1 (в пер.) : 30.00 р.
УДК
621.382

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
сверхбольшие интегральные схемы (СБИС) -- кремниевые микросхемы -- дефекты кристаллов -- технологические процессы (ТП) -- кремний -- контроль технологический -- кремния диоксид


Доп. точки доступа:
Зайцев, Н. А.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
2.
A873479-ОХФ
   Красников, Г. Я.
    Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС [Текст] : в 2 ч. / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев. - Москва : Микрон-Принт, 1999.
   Ч. 2. - Москва : Микрон-Принт, 1999. - 216 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-93497-001-1 (в пер.) : 30.00 р.
УДК
621.382

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
сверхбольшие интегральные схемы (СБИС) -- технологические процессы (ТП) -- кремниевые микросхемы -- электрические свойства -- геттерирования метод -- кремний -- кремния диоксид


Доп. точки доступа:
Зайцев, Н. А.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)