Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :3

В других БД по вашему запросу найдено:

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (4)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>KL=кремниевые микросхемы<.>)

Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3

A873478-ОХФ
   Красников, Г. Я.
    Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС [Текст] : в 2 ч. / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев. - Москва : Микрон-Принт, 1999.
   Ч. 1. - Москва : Микрон-Принт, 1999. - 226 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-93497-001-1 (в пер.) : 30.00 р.

УДК

621.382

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
сверхбольшие интегральные схемы (СБИС) -- кремниевые микросхемы -- дефекты кристаллов -- технологические процессы (ТП) -- кремний -- контроль технологический -- кремния диоксид

Доп. точки доступа:
Зайцев, Н. А.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

A873479-ОХФ
   Красников, Г. Я.
    Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС [Текст] : в 2 ч. / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев. - Москва : Микрон-Принт, 1999.
   Ч. 2. - Москва : Микрон-Принт, 1999. - 216 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-93497-001-1 (в пер.) : 30.00 р.

УДК

621.382

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
сверхбольшие интегральные схемы (СБИС) -- технологические процессы (ТП) -- кремниевые микросхемы -- электрические свойства -- геттерирования метод -- кремний -- кремния диоксид

Доп. точки доступа:
Зайцев, Н. А.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие

Учебные отделы, A996080-ОХФ, A996081-ОХФ, A996082-ОХФ,
Попов, Виктор Дмитриевич.
Физические основы проектирования кремниевых цифровых интегральных микросхем в монолитном и гибридном исполнении [Текст] : учебное пособие / В. Д. Попов, Г. Ф. Белова. - Санкт-Петербург ; Москва ; Краснодар : Лань, 2013. - 207, [1] с. : ил., табл. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 200-204 (72 назв.). - ISBN 978-5-8114-1375-1 (в пер.) : 662.00 р., 589.00 р.

УДК

621.382.049.77(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
цифровые интегральные микросхемы -- интегральные микросхемы -- кремниевые микросхемы -- проектирование -- МОП-транзисторы -- биполярные интегральные микросхемы -- гибридные интегральные микросхемы -- надежность -- радиационная стойкость

Доп. точки доступа:
Белова, Галина Федоровна Белова, Галина Фёдоровна
Экземпляры всего: 4
ОХФ (3), ОУОЕН (1)
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)