| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :8
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (17)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=оптическая микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8
1.
A845493-ОХФ
    Дюков, Валентин Георгиевич.
    Растровая оптическая микроскопия [Текст] / В. Г. Дюков, Ю. А. Кудеяров. - Москва : Наука, 1992. - 208 с. : ил. - (Современные физико-технические проблемы). - Библиогр. - ISBN 5-02-014374-X : 42.00 р.
УДК
681.723.2

Рубрики: техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- оптическая микроскопия -- растровые оптические микроскопы


Доп. точки доступа:
Кудеяров, Юрий Алексеевич
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
2.
Учебные отделы, A961032-ОХФ-ЧЗ-4, A961033-ОХФ, A961034-ОХФ
    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р., 153.89 р.
УДК
621.385.833(075.8)
681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия



Экземпляры всего: 15
ОУОЕН (12), ОХФ-ЧЗ-4 (1), ОХФ (2)
Найти похожие
3.
Учебные отделы, A908959-ОХФ, A908960-ОХФ-ЧЗ-4, A908961-ОХФ-ЧЗ-4,
    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова ; доп. О. В. Егоровой. - Москва : Техносфера, 2004. - 377, [7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 (англ.) : 191.88 р., 192.59 р., 139.00 р.
УДК
[620.22:539.2](075.8)

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроструктуры -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ -- химический анализ


Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л.
Егорова, О. В.
Экземпляры всего: 25
ОУОЕН (22), ОХФ (1), ОХФ-ЧЗ-4 (2)
Найти похожие
4.
A964843-ОХФ, A965156-ОХФ, A965157-ОХФ
    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.
УДК
621.385.833(075.8)
681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия



Экземпляры всего: 3
ОХФ (3)
Найти похожие
5.
Новые поступления (книга в стадии обработки)
    Kaupp, Gerd.
    Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Электронный ресурс] / G. Kaupp. - Электрон. текстовые дан. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006?. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - (NanoScience and Technology) (Springer eBook Collection). - ISBN 9783540284727. - ISBN 9783540284727 (ошибоч.) (в кор.) : 630.00 р.
УДК
621.385.833(0.034.4)
681.723.2(0.034.4)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия -- оптическая микроскопия -- нанотехнологии -- наноцарапины
Экземпляры всего: 1
ОХФ-МЕДИАЗАЛ (1)
Найти похожие
6.
A983395-ОХФ
   
    Методы и средства микроскопии [Текст] : метод. указания / ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ" ; сост.: Б. В. Шульгин [и др.] ; науч. ред. А. В. Кружалов. - Екатеринбург : Изд-во УМЦ УПИ, 2005. - 187, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.) . - ISBN [Б. и.] : 65.00 р.
УДК
681.723.2(072.8)
620.22(072.8)

Рубрики: техника--оптические приборы--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- зондовая микроскопия -- обработка изображений -- наночастицы -- биологические объекты


Доп. точки доступа:
Шульгин, Борис Владимирович
Анипко, Алла Владимировна
Антонов, Илья Витальевич
Гайдуков, Владимир Владимирович
Кружалов, А. В.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
7.
A917860-ОХФ
   Сердюк, Игорь
    Методы в молекулярной биофизике. Структура. Функция. Динамика [Текст] : учебное пособие : в 2 т. / И. Сердюк, Н. Заккаи, Дж. Заккаи ; [науч. ред. И. Сердюк]. - Москва : КДУ : Благотворительный фонд "Вольное дело" [изд.] : Компания "Базовый элемент" [изд.], 2009 - 2010.
   Т. 2. - Москва : КДУ : Благотворительный фонд "Вольное дело" [изд.] : Компания "Базовый элемент" [изд.], 2010. - 734, [2] с. : цв. ил. - ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-98227-454-0 (Том 2) (в пер.) : 1339.00 р.
УДК
577.32(075.8)

Рубрики: биология--биофизика

Кл.слова (ненормированные):
молекулярная биофизика -- биологические макромолекулы -- молекулярная биология -- оптическая микроскопия -- рентгеновская дифракция -- нейтронная дифракция -- электронная дифракция -- спектроскопия -- молекулярная динамика -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР)


Доп. точки доступа:
Заккаи, Натан
Заккаи, Джозеф
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
8.
A930356-ОХФ-СБО
   
    Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] = Handbook of microscopy for nanotechnology : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям ; под ред.: Н. Яо, Ч. Л. Ван ; науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 712 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники / гл. ред. А.Р. Хохлов). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 600.00 р.
УДК
[681.723:620.3](035)

Рубрики: техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая зондовая микроскопия -- масс-спектрометрия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- электронная нанокристаллография -- электронная голография -- нанотехнологии -- наноразмерные материалы -- наноизмерения


Доп. точки доступа:
Яо, Нан
Ван, Чжун Лин
Яминский, И. В.
Экземпляры всего: 1
ОХФ-СБО (1)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)