| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :15
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (14)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=атомно-силовая микроскопия(АСМ)<.>)
Общее количество найденных документов : 15
Показаны документы с 1 по 15
1.
Учебные отделы, A961032-ОХФ-ЧЗ-4, A961033-ОХФ, A961034-ОХФ
    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р., 153.89 р.
УДК
621.385.833(075.8)
681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия



Экземпляры всего: 15
ОУОЕН (12), ОХФ-ЧЗ-4 (1), ОХФ (2)
Найти похожие
2.
A964843-ОХФ, A965156-ОХФ, A965157-ОХФ
    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.
УДК
621.385.833(075.8)
681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия



Экземпляры всего: 3
ОХФ (3)
Найти похожие
3.
Новые поступления (книга в стадии обработки)
    Kaupp, Gerd.
    Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Электронный ресурс] / G. Kaupp. - Электрон. текстовые дан. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006?. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - (NanoScience and Technology) (Springer eBook Collection). - ISBN 9783540284727. - ISBN 9783540284727 (ошибоч.) (в кор.) : 630.00 р.
УДК
621.385.833(0.034.4)
681.723.2(0.034.4)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия -- оптическая микроскопия -- нанотехнологии -- наноцарапины
Экземпляры всего: 1
ОХФ-МЕДИАЗАЛ (1)
Найти похожие
4.
Учебные отделы, A913061-ОХФ, A916120-ОХФ
    Кларк, Эшли Р..
    Микроскопические методы исследования материалов [Текст] / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Ин-т синтет. полимер. материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН. - Москва : Техносфера, 2007. - 371, [5] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-94836-121-5 (в пер.). - ISBN 1-85573-587-3 (англ.) : 175.00 р., 357.50 р.
УДК
620.22
681.723

Рубрики: техника--материаловедение--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроскопы -- микроскопия -- микроскопические методы -- конструкционные материалы -- фотоника -- цифровые изображения -- микроскопия отраженного света -- конфокальная микроскопия -- рамановская микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- рентгеновская микроскопия -- томография -- сканирующая акустическая микроскопия


Доп. точки доступа:
Эберхардт, Колин Н.
Баженов, С. Л.
Экземпляры всего: 7
ОУОЕН (5), ОХФ (2)
Найти похожие
5.
9534/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)
    Lõhmus, Rünno.
    Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials [Рукопись] : Dis. for the Degree of Doctor of Philosophy in physics (experimental physics) / R. Lõhmus ; superv.: R. Kink, L. Pung. - Tartu : Tartu Univ. Press, 2002. - 93, [3] p. - (Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis ; 39). - Bibliogr. at the end of the chapters. - ISSN 1406-0647. - ISBN 9985-56-695-5 : [б. ц.]
УДК
620.3(043.3)
620.187(043.3)

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
наноструктурированные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия


Доп. точки доступа:
Kink, Rein
Pung, Lembit
Экземпляры всего: 1
ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1)
Найти похожие
6.
A606806-ОХФ
    Шарипов, Талгат Ишмухамедович.
    Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; ГОУ ВПО "Башкирский государственный университет". - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. : рис. - Библиогр.: с. 19-20. - ISBN [Б. и.]
Издание является приложением к документу:
Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111. - ISBN [Б. и.]. Шифр 895198
УДК
577.323(043.3)

Рубрики: биология--биофизика

Кл.слова (ненормированные):
ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Является приложением к Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов\par


Доп. точки доступа:
Бахтизин, Рауф Загидович
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
7.
10520/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)
    Шарипов, Талгат Ишмухамедович.
    Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Рукопись] : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 15.03.2011 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; Башк. гос. ун-т. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111 л. : рис. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 99-110 (110 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.)
Приложение:
Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин. - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 955234
УДК
577.323(043.3)

Рубрики: биология--биофизика

Кл.слова (ненормированные):
ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Приложение:Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин


Доп. точки доступа:
Бахтизин, Рауф Загидович
Экземпляры всего: 1
ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1)
Найти похожие
8.
Учебные отделы, A987216-ОХФ, A987217-ОХФ, A987218-ОХФ,
    Усанов, Дмитрий Александрович.
    Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения [Текст] / Д. А. Усанов. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2010. - 98, [2] с. - [Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения] . - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-292-03937-2 : 98.21 р.
УДК
621.385.833
681.723.2

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
СВЧ-микроскопы -- ближнеполевые СВЧ- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотехнологии -- линии передачи -- СВЧ-резонаторы
Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий.
Держатели документа:
ЗНБ СГУ
Экземпляры всего: 10
ОХФ (3), ОУОЕН (7)
Найти похожие
9.
Учебные отделы, A987818-ОХФ, A987819-ОХФ, A988559-ОХФ,
    Плескова, Светлана Николаевна.
    Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях [Текст] : учебное пособие / С. Н. Плескова. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2011. - 183, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 173-183. - ISBN 978-5-91559-108-9 : 512.50 р., 566.50 р.
УДК
57.088(075.8)

Рубрики: биология--биология

Кл.слова (ненормированные):
атомарно-силовые микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- биология -- медицина
Экземпляры всего: 15
ОХФ (3), ОУОЕН (12)
Найти похожие
10.
A917730-ОХФ-СБО, A918074-ОХФ
    Справочник Шпрингера по нанотехнологиям [Текст] : в 3 т. / Федер. гос. учреждение Науч.-произв. комплекс "Технологический центр" Моск. гос. ин-та электронной техники ; под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под общ. ред. А. Н. Саурова. - 2-е изд. - Москва : Техносфера, 2010. - (Мир материалов и технологий ; 6 ; 30). - ISBN 978-5-94836-261-8.
   Т. 2. - Москва : Техносфера, 2010. - 1040 с. : ил. - ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-263-2 (т. II) : 1022.00 р., 2080.10 р.
УДК
620.3(035)
621.38-022.532(035)

Рубрики: техника--материаловедение

   радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- материаловедение -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотрибология -- нанореология -- адгезия -- тонкие пленки -- биологическая нанотехнология


Доп. точки доступа:
Бхушан, Б. \\ред.\\
Сауров, А. Н. \\ред. пер.\\
Экземпляры всего: 2
ОХФ-СБО (1), ОХФ (1)
Найти похожие
11.
11032/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)
    Ерохин, Павел Сергеевич.
    Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Рукопись] : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 28.04.2015 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 127 л. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 104-127 (209 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.)
Приложение:
Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 579(043.3)/Е 782
УДК
579.086.3(043.3)

Рубрики: биология--микробиология

Кл.слова (ненормированные):
микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Приложение:Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин


Доп. точки доступа:
Тучин, Валерий Викторович
Экземпляры всего: 1
ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1)
Найти похожие
12.
A607872-ОХФ
    Ерохин, Павел Сергеевич.
    Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Текст] : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - Библиогр.: с. 20-22 (22 назв.). - ISBN [Б. и.]
Издание является приложением к документу:
Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 127. - ISBN [Б. и.]. Шифр /Е 782
УДК
579.086.3(043.3)

Рубрики: биология--микробиология

Кл.слова (ненормированные):
микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Является приложением к Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин\par


Доп. точки доступа:
Тучин, Валерий Викторович
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
13.
Новые поступления (книга в стадии обработки)
    Практикум по биофизике [Текст] : в 2 ч. / под ред. А. Б. Рубина. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний. - (Учебник для высшей школы). - ISBN 978-5-9963-1889-6.
   Ч. 1. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 191, [1] с. : ил. - ). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-9963-1815-5 (Ч. 1) : 319.00 р.
Рекомендовано к опубл. решением Учен. и Учеб.-метод. советов биол. фак. Моск. гос. ун-та им. М. В. Ломоносова
УДК
577.3(076.5)

Рубрики: биология--биофизика

Кл.слова (ненормированные):
биофизика -- биофизические методы -- математическое моделирование -- хемилюминесценция -- флуоресценция -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- электронный парамагнитный резонанс (ЭПР) -- спектрофотометрия -- спектры комбинационного рассеяния -- радиоспектроскопия


Доп. точки доступа:
Рубин, Андрей Борисович \\ред.\\
Экземпляры всего: 3
ОХФ (2), ОХФ-ЧЗ-4 (1)
Найти похожие
14.
Учебные отделы, A996001-ОХФ, A996002-ОХФ,
    Груздов, Вадим Владимирович.
    Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике [Текст] / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2016. - 327, [1] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-426-1 (в пер.) : 1170.40 р.
УДК
621.382.3

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
твердотельная электроника -- СВЧ-электроника -- интеллектуальная собственность -- стандарты -- СВЧ-транзисторы -- полупроводниковые приборы -- технологические процессы (ТП) -- широкозонные материалы -- контроль качества -- гетероструктуры -- электронная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- электронная спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия


Доп. точки доступа:
Колковский, Юрий Владимирович
Концевой, Юлий Абрамович
Экземпляры всего: 5
ОХФ (2), ОУОЕН (3)
Найти похожие
15.
A930356-ОХФ-СБО
   
    Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] = Handbook of microscopy for nanotechnology : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям ; под ред.: Н. Яо, Ч. Л. Ван ; науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 712 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники / гл. ред. А.Р. Хохлов). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 600.00 р.
УДК
[681.723:620.3](035)

Рубрики: техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая зондовая микроскопия -- масс-спектрометрия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- электронная нанокристаллография -- электронная голография -- нанотехнологии -- наноразмерные материалы -- наноизмерения


Доп. точки доступа:
Яо, Нан
Ван, Чжун Лин
Яминский, И. В.
Экземпляры всего: 1
ОХФ-СБО (1)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)