| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>U=[620.22:539.2](075.8)<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.
Учебные отделы, A908959-ОХФ, A908960-ОХФ-ЧЗ-4, A908961-ОХФ-ЧЗ-4,
    Брандон, Д.
    Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова ; доп. О. В. Егоровой. - Москва : Техносфера, 2004. - 377, [7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 (англ.) : 191.88 р., 192.59 р., 139.00 р.
УДК

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроструктуры -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ -- химический анализ


Доп. точки доступа:
Каплан, У.
Баженов, С. Л.
Егорова, О. В.
Экземпляры всего: 25
ОУОЕН (22), ОХФ (1), ОХФ-ЧЗ-4 (2)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)