| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "АЙБУКС" (1)Публикации учёных СГУ (1)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (6)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=дефекты кристаллов<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
A873478-ОХФ
   Красников, Г. Я.
    Физико-технологические основы обеспечения качества СБИС [Текст] : в 2 ч. / Г. Я. Красников, Н. А. Зайцев. - Москва : Микрон-Принт, 1999.
   Ч. 1. - Москва : Микрон-Принт, 1999. - 226 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-93497-001-1 (в пер.) : 30.00 р.
УДК
621.382

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
сверхбольшие интегральные схемы (СБИС) -- кремниевые микросхемы -- дефекты кристаллов -- технологические процессы (ТП) -- кремний -- контроль технологический -- кремния диоксид


Доп. точки доступа:
Зайцев, Н. А.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
2.
7789/Р-ОХФ
    Задорожный, Филипп Михайлович.
    Рассеяние электромагнитной волны краевыми дислокациями в щелочногалоидных кристаллах [Рукопись] : дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук / Ф. М. Задорожный ; . - Саратов : [б. и.], 1999. - 154, [1] с. + 1 Автореф. - Библиогр. - ISBN [Б. и.] (в пер.) : [б. ц.]
УДК
548.4:538.56

Рубрики: химия--кристаллография

Кл.слова (ненормированные):
дислокации -- краевые дислокации -- дефекты кристаллов -- щелочногалоидные кристаллы -- рассеяние электромагнитных волн
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
3.
Учебные отделы, A988682-ОХФ, A988683-ОХФ, A988684-ОХФ,
    Вениг, Сергей Борисович.
    Материаловедение. Основы кристаллографии и минералогии [Текст] : учебное пособие для студентов факультета нано- и биомед. технологий / С. Б. Вениг, О. П. Гончаренко, И. В. Маляр ; Сарат. гос. ун-т им. Н. Г. Чернышевского. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2012. - 186, [2] с. : ил. - (Материаловедение и технология новых материалов / гл. ред. С. Б. Вениг). - Библиогр.: с. 185-187. - ISBN 978-5-292-04098-9 (в пер.) : 106.65 р., 106.64 р., 293.00 р.
УДК
548/549(075.8)

Рубрики: химия--минералогия--кристаллография

Кл.слова (ненормированные):
кристаллография -- кристаллы -- структура -- дефекты кристаллов -- рост кристаллов -- минералогия -- минералы -- минералообразование -- систематика минералов
Аннотация: Пособие содержит основные понятия кристаллографии и минералогии, на базе которых строится курс "Основы кристаллографии и минералогии", предваряющий изучение дисциплины "Материаловедение"


Доп. точки доступа:
Гончаренко, Ольга Павловна
Маляр, Иван Владиславович
Экземпляры всего: 55
ОУОЕН (52), ОХФ (3)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)