| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :13
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=электронография<.>)
Общее количество найденных документов : 13
Показаны документы с 1 по 13
1.

    Попель, С. И.
    Атомное упорядочение в расплавленных и аморфных металлах (по данным электронографии) [Текст] : научное издание / С. И. Попель, М. А. Спиридонов, Л. А. Жукова. - Екатеринбург : УГТУ, 1997. - 384 с. : ил. ; 21см. - ISBN 5-230-06484-6 : 18.00 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 632

Рубрики: Металлургия--Физика металлов

Кл.слова (ненормированные):
металлы -- аморфные металлы -- электронография -- атомная физика -- жидкие металлы
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Спиридонов, М. А.
Жукова, Л. А.
Найти похожие

2.

    Карпасюк, Владимир Корнильевич.
    Зондирующие методы исследований в материаловедении [Текст] : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.). - ISBN 978-5-91910-342-4 : 293.00 р.
УДК

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- зондирование -- структурный анализ -- ферромагнитный резонанс -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- рентгеноструктурный анализ -- нейтронография -- электронография -- электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- масс-спектрометрия -- сканирующая зондовая микроскопия
Аннотация: Содержит изложение физических основ, принципов аппаратурной реализации, метрологических характеристик и применений методов исследования, основанных на зондировании твердых тел электромагнитными волнами высоких и сверхвысоких частот, рентгеновскими лучами, гамма-квантами, потоками электронов, ионов и нейтронов. Рассмотрены явления взаимодействия излучений различного вида с веществом, приведены необходимые сведения из кристаллографии и оптики пучков частиц. Представлены также методы сканирующей зондовой микроскопии, в том числе туннельная, атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия. Прикладные вопросы рассмотрены, в основном, на примере исследования материалов для магнитной и спиновой электроники и некоторых наноструктурированных сред. К каждому разделу подобраны вопросы и упражнения.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Смирнов, Андрей Михайлович
Найти похожие

3.

    Бублик, В. Т.
    Сборник задач и упражнений по курсу "Методы исследования структуры" [Текст] : учеб. пособие / В. Т. Бублик. - М. : Высшая школа, 1988. - 192 с. : ил. ; 20см. - ISBN 5-06-001309-Х : 0.50 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 30.3

Рубрики: Испытания материалов--Электронная микроскопия

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- испытание материалов -- рентгеновские лучи -- рентгеноструктурный анализ -- электронная микроскопия -- электронография
Аннотация: В сборнике содержатся задачи и упражнения по следующим разделам: микроскопические исследования в видимом свете; рентгенодифракционные методы исследования структуры полупроводниковых, диэлектрических и металлических материалов, электронно-оптические методы.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

4.

    Иванов, Р. Н.
    Репрография [Текст] : научное издание / Р. Н. Иванов. - М. : Экономика, 1986. - 336 с. : ил. ; 21см. - 1.50 р.
ГРНТИ
УДК
ББК 73

Рубрики: Управление--Делопроизводство

Кл.слова (ненормированные):
управление предприятием -- делопроизводство -- репрография -- диазография -- электрофотография -- термография -- электронография -- игровая культура общения -- электронная почта -- микрография
Аннотация: Трудно представить четкую работу предприятий, учреждений, НИИ, библиотек без средств оперативного воспроизведения, микрофильмирования и передачи информации, т. е. без средств репрографии.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

5.

    Иванов, Р. Н.
    Репрография. (Методы и средства копирования и размножения документов). [Текст] : научное издание / Р. Н. Иванов. - М. : Советское радио, 1977. - 384 с. : ил. ; 21 см. - 1.50 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Управление--Делопроизводство

Кл.слова (ненормированные):
РЕПРОГРАФИЯ -- ДИАЗОГРАФИЯ -- МИКРОФИЛЬМИРОВАНИЕ -- КОПИРОВАНИЕ ДОКУМЕНТОВ -- ТЕРМОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ
Аннотация: Рассмотрены практические вопросы применения технических средств копирования документов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

6.

    Горелик, С. С.
    Рентгенографический и электронно-оптический анализ [Текст] : учеб. пособие / С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев. - 3-е изд., перераб. и доп. - М. : МИСИС, 1994. - 328 с. : граф., табл. ; 27 см. - Библиогр. в конце разд. - ISBN 5-87623-001-4 : 50.00 р.
Гриф: рек. Госкомитетом Рос. Федерации по высш. образованию в качестве учеб. пособия для студентов вузов, обучающихся по направлению "Материаловедение и техн. новых материалов"
ГРНТИ
УДК
ББК 34.25

Рубрики: Металлургия--Физика металлов

Кл.слова (ненормированные):
РЕНТГЕНОВСКАЯ ТЕХНИКА -- РАСЧЕТ РЕНТГЕНОГРАММ -- ФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ -- РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ -- РЕНТГЕНОДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ -- ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ -- МИКРОДИФРАКЦИЯ
Аннотация: Описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу, текстурному анализу и спектроскопии, анализу пленочных материалов с учетом новых методов структурного анализа и новых областей его применения. Приведены алгоритмы выполнения работ с использованием ЭВМ. Пособие снабжено большим справочным материалом, необходимым для решения металловедческих задач.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Скаков, Ю. А.
Расторгуев, Л. Н.
Найти похожие

7.

    Горелик, С. С.
    Рентгенографический и электронографический анализ металлов [Текст] : практическое руководство по рентгенографии, электронографии и электронной микроскопии; учеб. пособие / С. С. Горелик, Л. Н. Расторгуев, Ю. А. Скаков. - М. : Металлургиздат, 1963. - 256 с. : ил., табл. ; 27см. - 1.50 р.
Гриф: допущено М-вом высш. и сред. спец. образования СССР в качестве учеб. пособия для металлург. и машиностроит. вузов и фак.
УДК

Кл.слова (ненормированные):
РЕНТГЕНОТЕХНИКА -- ФОТОМЕТРИРОВАНИЕ РЕНТГЕНОГРАММ -- АНАЛИЗ ПОЛИКРИСТАЛЛОВ -- ФАЗОВЫЙ АНАЛИЗ -- АНАЛИЗ ТЕКСТУР -- АНАЛИЗ МОНОКРИСТАЛЛОВ -- ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОДИФРАКЦИЯ -- РЕНТГЕНОСПЕКТОРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Расторгуев, Л. Н.
Скаков, Ю. А.
Найти похожие

8.

    Порай-Кошиц, Михаил Александрович.
    Основы структурного анализа химических соединений [Текст] : учеб. пособие для вузов / М. А. Порай-Кошиц. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1989. - 292 с. - ISBN 5-06-000074-5 : 0.40 р.
ББК 24.5я73

Рубрики: Химия--Физическая химия. Химическая физика

Кл.слова (ненормированные):
анализ соединений -- дифракция рентгеновских лучей -- нейронография -- пособия для вузов -- рентгеноструктурный анализ -- симметрия кристаллов -- структурная кристаллография -- структурный анализ -- электронография
Аннотация: Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным.
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)
Найти похожие

9.

   
    Кристаллохимия и структура минералов [Текст] / ред. В. А. Франк-Каменецкий. - Ленинград : Наука, 1974. - 148 с. - Библиогр. в конце ст. - 1.36 р.
ББК 24.5

Рубрики: Химия--Физическая химия. Химическая физика

Кл.слова (ненормированные):
ашарит -- кристаллохимия -- пентагидроборит -- рентгеновский метод -- смешаннослойные структуры -- структура минералов -- фроловит -- щелочные цирконосиликаты -- электронография
Аннотация: Сборник включает новые структурные определения и работы по уточнению структурных характеристик минералов таких важных минеральных групп, как каркасные и слоистые силикаты, пироксены, сульфиды, окислы. Большой интерес представляют работы по рентгеновскому излучению смешаннослойных структур слоистых силикатов и упорядоченности в полевых штапах, пироксенах, колумбитах и тапиолитах различного генезиса.
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)


Доп. точки доступа:
Франк-Каменецкий, В. А.
Найти похожие

10.

    Зырянов, Г. К.
    Низковольтная электронография [Текст] : учеб. пособие / Г. К. Зырянов ; ред. П. П. Коноров. - Ленинград : Издательство Ленинградского государственного университета, 1986. - 186 с. - .35 р.
ББК 22.333

Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм

Кл.слова (ненормированные):
адсорбированные слои -- адсорбция -- дефекты кристаллов -- динамическая теория дифракции -- динамические дефекты -- дифракция -- кинематическая теория дифракции -- кристаллы -- пособия -- статические дефекты -- фазовые превращения -- эксперименты -- электронография
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)


Доп. точки доступа:
Коноров, П. П.
Найти похожие

11.

    Жданов, Герман Степанович.
    Дифракционный и резонансный структурный анализ [Текст] : рентгено-, электроно-, нейтроно-, мессбауэрография и мессбауэровская спектроскопия : учеб. пособие для вузов / Г. С. Жданов, А. С. Илюшин, С. В. Никитина ; под общ. ред. проф. Г. С. Жданова. - Москва : Наука. Главная редакция физико-математической литературы, 1980. - 253, [1] с. : рис., табл. ; 22 см. - Авт. на корешке не указаны. - Библиогр.: с. 245-250. - Предм. указ.: с. 251-254. - 6000 экз.. - (в пер.) : 0.80 р.
    Содержание:
Фурье-трансформанта кристалла и интерференционная функция пространственной решетки . - С .17-38
Симметрия и геометрия кристаллического пространства . - С .39-71
Рассеяние излучений атомом . - С .72-82
Интенсивность рассеяния регулярными совокупностями атомов . - С .83-98
Интенсивность рассеяния искаженными кристаллами . - С .99-110
Методы дифракционных структурных исследований . - С .111-122
Аппаратура для дифракционных структурных исследований . - С .123-145
Некоторые применения дифракционных методов исследования в физике твердого тела . - С .146-173
Основы теории ядерного гамма-резонанса . - С .174-187
Экспериментальные основы ядерного гамма-резонанса . - С .188-195
Ядерная гамма-резонансная спектроскопия как метод структурных исследований кристаллов . - С .196-225
Ядерная гамма-резонансная дифракция как метод структурного анализа кристаллов . - С .226-244
ББК 22.37

Рубрики: Физика--Физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
дифракционный структурный анализ -- мессабаурография -- мессабауэровская спектроскопия -- нейтронография -- резонансный структурный анализ -- рентгенография -- спектроскопия -- электронография -- ядерный гамма-резонанс
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)


Доп. точки доступа:
Илюшин, Александр Сергеевич
Никитина, Светлана Васильевна
Жданов, Герман Степанович
Найти похожие

12.

    Рыдник, Виталий Исаакович.
    Увидеть невидимое [Текст] : научно-популярная литература / В. И. Рыдник. - Москва : Энергоиздат, 1981. - 183 с. : ил. - Б. ц.
ББК 22.34

Рубрики: Физика--Теоретическая физика

Кл.слова (ненормированные):
волны -- интроскопия -- метод рассеяния -- микроанализаторы -- нейтронография -- оптика -- оптические инструменты -- оптические микроскопы -- рентгеноструктурный анализ -- телескопы -- ускорители частиц -- электронография
Аннотация: Важнейшим инструментом для проникновения в невидимый мир молекул, атомов, атомных ядер и элементарных частиц в течение последних трех веков служит метод рассеяния электромагнитных корпускулярных волн.
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)
Найти похожие

13.

    Физика за рубежом [Текст] : сборник научно-популярных статей. - Москва : Мир, 1982 - .
   1984 : Физика высоких энергий. Элементарные частицы. Квантовая механика. Астрофизика и астрономия. Нелинейная динамика. Новости физики : пер. с англ. / сост. Ю. А. Данилов. - 1984. - 238 с. - (Серия А : исследования). - 0.65 р.
ББК 22.3

Рубрики: Физика--Теоретическая физика

Кл.слова (ненормированные):
Вселенная -- астрономия -- астрофизика -- квантовая механика -- квитерон -- нелинейная динамика -- области спектра -- планетология -- структура нуклона -- физика высоких энергий -- физика высоких энергий -- электрон-позитронные коллайдеры -- электронография -- элементарные частицы
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)


Доп. точки доступа:
Данилов, Ю. А.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)