| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=анализ соединений<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

   
    Практикум по аналитической химии [Текст] : учебное пособие / Р. К. Чернова, Е. Г. Кулапина, Л. М. Козлова ; ред. Р. К. Чернова. - Саратов : Издательство Саратовского национального государственного университета имени Н. Г. Чернышевского, 2003. - 240 с. : ил. - ISBN 5-292-02948-3 : 10.00 р.
ББК 24.4я73

Рубрики: Химия--Аналитическая химия

Кл.слова (ненормированные):
анализ соединений -- дробный метод -- издания саратова -- лабораторные работы -- метод осаждения -- пособия для вузов -- пробоотбор -- растворы -- спектроскопия -- титриметрический метод -- хемометрика -- хроматография -- экстракция -- электрохимический метод
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)


Доп. точки доступа:
Чернова, Р. К.
Кулапина, Е. Г.
Козлова, Л. М.
Чернова, Р. К.
Найти похожие

2.

    Порай-Кошиц, Михаил Александрович.
    Основы структурного анализа химических соединений [Текст] : учеб. пособие для вузов / М. А. Порай-Кошиц. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1989. - 292 с. - ISBN 5-06-000074-5 : 0.40 р.
ББК 24.5я73

Рубрики: Химия--Физическая химия. Химическая физика

Кл.слова (ненормированные):
анализ соединений -- дифракция рентгеновских лучей -- нейронография -- пособия для вузов -- рентгеноструктурный анализ -- симметрия кристаллов -- структурная кристаллография -- структурный анализ -- электронография
Аннотация: Рассматриваются вопросы структурной кристаллографии и теории дифракции рентгеновского излучения, методы решения проблемы «начальных фаз», наиболее существенные приложения структурных исследований в химии. Сравниваются возможности трех дифракционных методов: рентгеновского, нейтронографического и электронографического. Во втором издании расширены ключевые разделы современного рентгеноструктурного анализа: кинематические схемы дифрактомеров, основы статистического определения начальных фаз (знаков) структурных амплитуд, распределение электронной плотности в межъядерном пространстве по прецизионным данным.
Держатели документа:
Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)