Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

В текущей базе данных найдено документов :14

В других БД по вашему запросу найдено:

Электронный каталог (15)

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>KL=атомно-силовая микроскопия(АСМ)<.>)

Общее количество найденных документов : 14
Показаны документы с 1 по 14

Миронов, В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р.

УДК

621.385.833(075.8)

681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия
Аннотация: Пособие охватывает всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Найти похожие

Миронов, В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.

УДК

621.385.833(075.8)

681.723.2(075.8)

Kaupp, Gerd.
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Электронный ресурс] : научное издание / G. Kaupp. - Электрон. текстовые дан. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006?. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - (NanoScience and Technology) (Springer eBook Collection). - ISBN 9783540284727. - ISBN 9783540284727 (ошибоч.) (в кор.) : 630.00 р.

УДК

621.385.833(0.034.4)

681.723.2(0.034.4)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия -- оптическая микроскопия -- нанотехнологии -- наноцарапины
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

Кларк, Эшли Р..
Микроскопические методы исследования материалов [Текст] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Ин-т синтет. полимер. материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН. - Москва : Техносфера, 2007. - 371, [5] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-94836-121-5 (в пер.). - ISBN 1-85573-587-3 (англ.) : 175.00 р.

УДК

620.22

681.723

Рубрики: техника--материаловедение--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроскопы -- микроскопия -- микроскопические методы -- конструкционные материалы -- фотоника -- цифровые изображения -- микроскопия отраженного света -- конфокальная микроскопия -- рамановская микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- рентгеновская микроскопия -- томография -- сканирующая акустическая микроскопия
Аннотация: В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Эберхардт, Колин Н.
Баженов, С. Л.
Найти похожие

Lõhmus, Rünno.
Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials [Рукопись] : dis. for the Degree of Doctor of Philosophy in physics (experimental physics) / R. Lõhmus ; superv.: R. Kink, L. Pung. - Tartu : Tartu Univ. Press, 2002. - 93, [3] p. - (Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis ; 39). - Bibliogr. at the end of the chapters. - ISSN 1406-0647. - ISBN 9985-56-695-5 : [б. ц.]

УДК

620.3(043.3)

620.187(043.3)

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
наноструктурированные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Kink, Rein
Pung, Lembit
Найти похожие

Шарипов, Талгат Ишмухамедович.
Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; ГОУ ВПО "Башкирский государственный университет". - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. : рис. - Библиогр.: с. 19-20. - ISBN [Б. и.]
Издание является приложением к документу:
Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111. - ISBN [Б. и.]. Шифр 895198

УДК

577.323(043.3)

Рубрики: биология--биофизика

Кл.слова (ненормированные):
ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Является приложением к Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов\par
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Бахтизин, Рауф Загидович
Найти похожие

Шарипов, Талгат Ишмухамедович.
Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Рукопись] : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 15.03.2011 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; Башк. гос. ун-т. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111 л. : рис. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 99-110 (110 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.)
Приложение:
Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин. - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 955234

УДК

577.323(043.3)

Рубрики: биология--биофизика

Кл.слова (ненормированные):
ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Приложение:Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Бахтизин, Рауф Загидович
Найти похожие

Усанов, Дмитрий Александрович.
Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения [Текст] : научное издание / Д. А. Усанов. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2010. - 98, [2] с. - [Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения] . - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-292-03937-2 : 98.21 р.

УДК

621.385.833

681.723.2

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
СВЧ-микроскопы -- ближнеполевые СВЧ- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотехнологии -- линии передачи -- СВЧ-резонаторы
Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

Плескова, Светлана Николаевна.
Атомно-силовая микроскопия в биологических и медицинских исследованиях [Текст] : учебное пособие / С. Н. Плескова. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2011. - 183, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 173-183. - ISBN 978-5-91559-108-9 : 512.50 р.

УДК

57.088(075.8)

Рубрики: биология--биология

Кл.слова (ненормированные):
атомарно-силовые микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- биология -- медицина
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

10.

Справочник Шпрингера по нанотехнологиям [Текст] : в 3 т. / Федер. гос. учреждение Науч.-произв. комплекс "Технологический центр" Моск. гос. ин-та электронной техники ; под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под общ. ред. А. Н. Саурова. - 2-е изд. - Москва : Техносфера, 2010. - (Мир материалов и технологий ; 6 ; 30). - ISBN 978-5-94836-261-8.
Т. 2. - Москва : Техносфера, 2010. - 1040 с. : ил. - ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-263-2 (т. II) : 1022.00 р.

УДК

620.3(035)

621.38-022.532(035)

Рубрики: техника--материаловедение

радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологии -- материаловедение -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотрибология -- нанореология -- адгезия -- тонкие пленки -- биологическая нанотехнология
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Бхушан, Б. \\ред.\\
Сауров, А. Н. \\ред. пер.\\
Найти похожие

11.

Ерохин, Павел Сергеевич.
Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Рукопись] : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 28.04.2015 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 127 л. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 104-127 (209 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.)
Приложение:
Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 579(043.3)/Е 782

УДК

579.086.3(043.3)

Рубрики: биология--микробиология

Кл.слова (ненормированные):
микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Приложение:Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Тучин, Валерий Викторович
Найти похожие

12.

Ерохин, Павел Сергеевич.
Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Текст] : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - Библиогр.: с. 20-22 (22 назв.). - ISBN [Б. и.]
Издание является приложением к документу:
Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 127. - ISBN [Б. и.]. Шифр /Е 782

УДК

579.086.3(043.3)

Рубрики: биология--микробиология

Кл.слова (ненормированные):
микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Является приложением к Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин\par
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Тучин, Валерий Викторович
Найти похожие

13.

Практикум по биофизике [Текст] : в 2 ч. / под ред. А. Б. Рубина. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний. - (Учебник для высшей школы). - ISBN 978-5-9963-1889-6.
Ч. 1. - Москва : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2016. - 191, [1] с. : ил. - ). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-9963-1815-5 (Ч. 1) : 319.00 р.
Рекомендовано к опубл. решением Учен. и Учеб.-метод. советов биол. фак. Моск. гос. ун-та им. М. В. Ломоносова

УДК

577.3(076.5)

Рубрики: биология--биофизика

Кл.слова (ненормированные):
биофизика -- биофизические методы -- математическое моделирование -- хемилюминесценция -- флуоресценция -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- электронный парамагнитный резонанс (ЭПР) -- спектрофотометрия -- спектры комбинационного рассеяния -- радиоспектроскопия
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Рубин, Андрей Борисович \\ред.\\
Найти похожие

14.

Груздов, Вадим Владимирович.
Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике [Текст] : учебное пособие / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2016. - 327, [1] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-426-1 (в пер.) : 1170.40 р.

УДК

621.382.3

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
твердотельная электроника -- СВЧ-электроника -- интеллектуальная собственность -- стандарты -- СВЧ-транзисторы -- полупроводниковые приборы -- технологические процессы (ТП) -- широкозонные материалы -- контроль качества -- гетероструктуры -- электронная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- электронная спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского

Доп. точки доступа:
Колковский, Юрий Владимирович
Концевой, Юлий Абрамович
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)