| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (2)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=621.385.833<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.
Учебные отделы, A877535-ОХФ, A877536-ОХФ, A877537-ОХФ, A877538-ОХФ, A877539-ОХФ,
    Рыков, Сергей Александрович.
    Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Техническая физика" / С. А. Рыков ; . - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 с. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр. - ISBN 5-02-024956-4 (в пер.) : 20.00 р.
УДК
621.315.5
621.385.833

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая туннельная микроскопия -- атомарно-силовые микроскопы -- полупроводниковые материалы -- наноструктуры
Экземпляры всего: 12
ОХФ (5), ОУОЕН (7)
Найти похожие
2.
Учебные отделы, A962467-ОХФ, A962468-ОХФ
    Пантелеев, В. Г.
    Компьютерная микроскопия [Текст] / В. Г. Пантелеев, О. В. Егорова, Е. И. Клыкова. - Москва : Техносфера, 2005. - 303, [1] с. : рис. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 302-303. - ISBN 5-94836-025-3 (в пер.) : 228.14 р., 140.00 р.
УДК
621.385.833
681.723

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- компьютерная микроскопия -- анализаторы изображений -- материаловедение -- обработка изображений


Доп. точки доступа:
Егорова, Ольга Владимировна
Клыкова, Е. И.
Экземпляры всего: 5
ОУОЕН (3), ОХФ (2)
Найти похожие
3.
Учебные отделы, A987216-ОХФ, A987217-ОХФ, A987218-ОХФ,
    Усанов, Дмитрий Александрович.
    Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения [Текст] / Д. А. Усанов. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2010. - 98, [2] с. - [Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения] . - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-292-03937-2 : 98.21 р.
УДК
621.385.833
681.723.2

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
СВЧ-микроскопы -- ближнеполевые СВЧ- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотехнологии -- линии передачи -- СВЧ-резонаторы
Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий.
Держатели документа:
ЗНБ СГУ
Экземпляры всего: 10
ОХФ (3), ОУОЕН (7)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)