| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :2
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>U=681.723<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.
Учебные отделы, A962467-ОХФ, A962468-ОХФ
    Пантелеев, В. Г.
    Компьютерная микроскопия [Текст] / В. Г. Пантелеев, О. В. Егорова, Е. И. Клыкова. - Москва : Техносфера, 2005. - 303, [1] с. : рис. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр.: с. 302-303. - ISBN 5-94836-025-3 (в пер.) : 228.14 р., 140.00 р.
УДК

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы


Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- компьютерная микроскопия -- анализаторы изображений -- материаловедение -- обработка изображений


Доп. точки доступа:
Егорова, Ольга Владимировна
Клыкова, Е. И.
Экземпляры всего: 5
ОУОЕН (3), ОХФ (2)
Найти похожие

2.
Учебные отделы, A913061-ОХФ, A916120-ОХФ
    Кларк, Эшли Р..
    Микроскопические методы исследования материалов [Текст] / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Ин-т синтет. полимер. материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН. - Москва : Техносфера, 2007. - 371, [5] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-94836-121-5 (в пер.). - ISBN 1-85573-587-3 (англ.) : 175.00 р., 357.50 р.
УДК

Рубрики: техника--материаловедение--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроскопы -- микроскопия -- микроскопические методы -- конструкционные материалы -- фотоника -- цифровые изображения -- микроскопия отраженного света -- конфокальная микроскопия -- рамановская микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- рентгеновская микроскопия -- томография -- сканирующая акустическая микроскопия


Доп. точки доступа:
Эберхардт, Колин Н.
Баженов, С. Л.
Экземпляры всего: 7
ОУОЕН (5), ОХФ (2)
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)