| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :9
 В других БД по вашему запросу найдено:Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (8)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=сканирующая туннельная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 9
Показаны документы с 1 по 9
1.
A846414-ОХФ
    Еловиков, Сергей Сергеевич.
    Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок [Текст] : [учеб. пособие] / С. С. Еловиков ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 94 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02904-6 : 5.50 р.
УДК
539.27(075.8)

Рубрики: физика--физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
твердые тела -- тонкие пленки -- электронная спектроскопия -- энергоанализ заряженных частиц -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
2.
A876268-ОХФ
   Синицин, Николай Иванович
    Практикум по волновой электронике и микроэлектронике [Текст] / Н. И. Синицин, Г. В. Торгашов, И. Г. Торгашов. - Саратов : Издательство Саратовского университета.
   Ч. IV : Технология микроэлектроники. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2000. - 42, [2] с. - ISBN 5-292-02562-3 : 10.00 р.
На обл. авт. не указаны
УДК
621.38.049.77(076.5)

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- сканирующая туннельная микроскопия -- пленочная технология


Доп. точки доступа:

Торгашов, Г. В.
Торгашов, И. Г.
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)
Найти похожие
3.
Учебные отделы, A877535-ОХФ, A877536-ОХФ, A877537-ОХФ, A877538-ОХФ, A877539-ОХФ,
    Рыков, Сергей Александрович.
    Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Техническая физика" / С. А. Рыков ; . - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 с. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр. - ISBN 5-02-024956-4 (в пер.) : 20.00 р.
УДК
621.315.5
621.385.833

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая туннельная микроскопия -- атомарно-силовые микроскопы -- полупроводниковые материалы -- наноструктуры
Экземпляры всего: 12
ОХФ (5), ОУОЕН (7)
Найти похожие
4.
Учебные отделы, A961032-ОХФ-ЧЗ-4, A961033-ОХФ, A961034-ОХФ
    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р., 153.89 р.
УДК
621.385.833(075.8)
681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия



Экземпляры всего: 15
ОУОЕН (12), ОХФ-ЧЗ-4 (1), ОХФ (2)
Найти похожие
5.
A964843-ОХФ, A965156-ОХФ, A965157-ОХФ
    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.
УДК
621.385.833(075.8)
681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия



Экземпляры всего: 3
ОХФ (3)
Найти похожие
6.
Новые поступления (книга в стадии обработки)
    Kaupp, Gerd.
    Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Электронный ресурс] / G. Kaupp. - Электрон. текстовые дан. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006?. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - (NanoScience and Technology) (Springer eBook Collection). - ISBN 9783540284727. - ISBN 9783540284727 (ошибоч.) (в кор.) : 630.00 р.
УДК
621.385.833(0.034.4)
681.723.2(0.034.4)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия -- оптическая микроскопия -- нанотехнологии -- наноцарапины
Экземпляры всего: 1
ОХФ-МЕДИАЗАЛ (1)
Найти похожие
7.
9534/Р-ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)
    Lõhmus, Rünno.
    Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials [Рукопись] : Dis. for the Degree of Doctor of Philosophy in physics (experimental physics) / R. Lõhmus ; superv.: R. Kink, L. Pung. - Tartu : Tartu Univ. Press, 2002. - 93, [3] p. - (Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis ; 39). - Bibliogr. at the end of the chapters. - ISSN 1406-0647. - ISBN 9985-56-695-5 : [б. ц.]
УДК
620.3(043.3)
620.187(043.3)

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
наноструктурированные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия


Доп. точки доступа:
Kink, Rein
Pung, Lembit
Экземпляры всего: 1
ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд) (1)
Найти похожие
8.
Учебные отделы, A987216-ОХФ, A987217-ОХФ, A987218-ОХФ,
    Усанов, Дмитрий Александрович.
    Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения [Текст] / Д. А. Усанов. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2010. - 98, [2] с. - [Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения] . - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-292-03937-2 : 98.21 р.
УДК
621.385.833
681.723.2

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
СВЧ-микроскопы -- ближнеполевые СВЧ- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотехнологии -- линии передачи -- СВЧ-резонаторы
Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий.
Держатели документа:
ЗНБ СГУ
Экземпляры всего: 10
ОХФ (3), ОУОЕН (7)
Найти похожие
9.
A930356-ОХФ-СБО
   
    Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] = Handbook of microscopy for nanotechnology : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям ; под ред.: Н. Яо, Ч. Л. Ван ; науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 712 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники / гл. ред. А.Р. Хохлов). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 600.00 р.
УДК
[681.723:620.3](035)

Рубрики: техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопия -- оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая зондовая микроскопия -- масс-спектрометрия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- электронная нанокристаллография -- электронная голография -- нанотехнологии -- наноразмерные материалы -- наноизмерения


Доп. точки доступа:
Яо, Нан
Ван, Чжун Лин
Яминский, И. В.
Экземпляры всего: 1
ОХФ-СБО (1)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)