Web ИРБИС


	\| начало \| написать нам \| в избранное \| сделать стартовой \|

ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Электронный каталог

ЭБС "ЛАНЬ"

ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")

Электронная библиотека

Известные деятели культуры в Саратовской губернии

Работы В. А. Артисевич и литература о ней

Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья

Публикации учёных СГУ

Краеведческий обзор

Поступления журналов в ЗНБ СГУ

БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ

БД выпускных квалификационных работ

Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>KL=СХЕМА ОТРАЖЕНИЯ<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Бублик, В. Т.
Методы исследования материалов и структур электроники [Электронный ресурс] : рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / В. Т. Бублик, А. М. Мильвидский. - Электрон. текстовые дан. - М. : МИСИС, 2006. - on-line. - Систем. требования: 128 MB RAM оперативной памяти. - 178.20 р.
Режим доступа : http://lib.sstu.ru/index.php/elmrazdel/melellib/3321-elreselibonline. Количество одновременных доступов 15

ГРНТИ	81.09.01.33	47.09.01.33
УДК	620.18:621.38.0023(075.8)

ББК 30.3 + 32.85

Рубрики: Испытания материалов--Рентгенография

Электроника--Материалы электронной техники

Кл.слова (ненормированные):
ДИФРАКЦИОННАЯ ТЕОРИЯ -- ДИНАМИЧЕСКАЯ ТЕОРИЯ -- ФОРМИРОВАНИЕ ИЗОБРАЖЕНИЙ -- ДЕФЕКТЫ -- ДИФРАКЦИЯ -- СХЕМЫ ДИФРАКЦИИ -- ФОРМИРОВАНИЕ КОНТРАСТА -- СХЕМА ОТРАЖЕНИЯ -- БРЭГГ -- ЛАУЭ -- ИССЛЕДОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ -- СТРУКТУРА ЭЛЕКТРОНИКИ
Аннотация: В книге изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции : схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. Необходимо особо отметить, что подобного курса лекций, отвечающего современному уровню и объему данного раздела, в том числе читаемых для указанных специальностей в настоящее время не имеется.
Перейти к внешнему ресурсу книга доступна в ЭБС "БиблиоТех"
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.

Доп. точки доступа:
Мильвидский, А. М.
Найти похожие

Стандартный (по одному полю)

По словарю (по одному полю)

Профессиональный (по нескольким полям со словарями)

Распределенный (г. Саратов)

Расширенный

Авторизация

Фамилия

Пароль

Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)