A845049-ОХФ Цветков, Эрик Иванович. Алгоритмические основы измерений [Текст] / Э. И. Цветков. - Санкт-Петербург : Энергоатомиздат, 1992. - 256 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-283-04606-0 (в пер.) : 125.00 р.
Рубрики: метрология.стандартизация--метрология Кл.слова (ненормированные): измерения -- алгоритмизация Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A845393-ОХФ, A845461-ОХФ Васильев, Алексей Леонидович. Стандартизация для всех [Текст] / А. Л. Васильев. - Москва : Изд-во стандартов, 1992. - 112 с. : Табл. 2. Рис. 13. - Библиогр. - ISBN 5-7050-0296-3 : 30.00 р.
Рубрики: метрология.стандартизация--метрология Кл.слова (ненормированные): стандарты Экземпляры всего: 2 ОХФ (2) |
A844550-ОХФ Гранатуров, Владимир Михайлович. Автоматизация решения организационно-экономических задач в метрологических службах [Текст] / В. М. Гранатуров, Ю. А. Маркович, А. Г. Попович. - Москва : Изд-во стандартов, 1992. - 56 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-7050-0275-0 : 10.00 р.
Рубрики: метрология.стандартизация--метрология Кл.слова (ненормированные): метрологическая служба -- метрология -- метрологическое обеспечение Доп. точки доступа: Маркович, Ю. А. Попович, А. Г. Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A981537-ОХФ Окрепилов, Владимир Валентинович. Стандартизация и метрология в нанотехнологиях [Текст] / В. В. Окрепилов. - Санкт-Петербург : Наука, 2008. - 263, [1] с. : рис. - Библиогр.: с. 198-207. - ISBN 978-5-02-025339-1 (в пер.) : 160.00 р.
Рубрики: техника--материаловедение метрология.стандартизация--метрология Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- государственное регулирование -- метрология -- стандартизация -- наноиндустрия Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A894063-ОХФ Рыжаков, Виктор Васильевич. Стохастические методы идентификации и оценивания характеристик средств измерения [Текст] / В. В. Рыжаков, М. В. Рыжаков ; под ред. В. В. Рыжакова. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2015. - 144 с. - Библиогр.: с. 139-141 (42 назв.). - ISBN 978-5-9221-1658-9 (в пер.) : 330.00 р.
Рубрики: метрология.стандартизация--метрология Кл.слова (ненормированные): средства измерений -- измерительные приборы -- метрология -- стохастические методы -- погрешности измерений -- математические модели Доп. точки доступа: Рыжаков, Михаил Викторович Рыжаков, Виктор Васильевич Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |