A846871-ОХФ, A851449-ОХФ Колпаков, Андрей Васильевич. Дифракция рентгеновских лучей в сверхрешетках [Текст] : учеб. пособие / А. В. Колпаков, И. Р. Прудников ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 128 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02871-6 : 7.15 р.
Рубрики: химия--кристаллография Кл.слова (ненормированные): рентгеновские лучи -- дифракция рентгеновских лучей -- сверхрешетки -- дифракция по Брэггу -- дифракция по Лауэ -- дифрактометрия -- рентгеновская двукристальная дифрактометрия -- кристаллы Доп. точки доступа: Прудников, Илья Рудольфович Экземпляры всего: 2 ОХФ (2) |
A873272-ОХФ, A873534-ОХФ Ермолаев, Сергей Анатольевич. Естественно-научные методы и технические средства экспертного исследования [Текст] : учеб. пособие / С. А. Ермолаев, И. Н. Мельников, Ф. П. Орлов. - Саратов : Изд-во СЮИ МВД РФ, 2000. - 151 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-7485-0140-6 : 25.00 р.
Рубрики: государство и право--уголовное право Кл.слова (ненормированные): цифровые изображения -- химический анализ -- масс-спектрометрия -- технические средства -- хроматография -- криминалистическая экспертиза -- спектроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопы -- рентгеновские лучи Доп. точки доступа: Мельников, И. Н. Орлов, Федор Павлович Орлов, Фёдор Павлович Экземпляры всего: 2 ОХФ (2) |
Учебная литература, A915720-ОХФ, A915721-ОХФ-ЧЗ-4, A915722-ОХФ-ЧЗ-4 Фетисов, Геннадий Владимирович. Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ [Текст] : учеб. пособие / Г. В. Фетисов ; под ред. Л. А. Асланова. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2007. - 671, [1] с. : рис. - (Фундаментальная и прикладная физика). - Библиогр.: с. 636-663. - Предм. указ.: с. 664-671. - ISBN 978-5-9221-0805-8 (в пер.) : 495.00 р. Допущено УМО по клас. унив. образованию, в качестве учеб. пособия для студентов ст. курсов, обучающихся по специальности 020101 (011000) - Химия
Рубрики: физика--физика твердого тела химия--кристаллография Кл.слова (ненормированные): рентгеноструктурный анализ -- синхротронное излучение -- электромагнитное излучение -- рентгеновские лучи -- дифракция -- XAFS спектроскопия -- структурная химия Доп. точки доступа: Асланов, Л. А. Экземпляры всего: 5 ОУОЕН (2), ОХФ (1), ОХФ-ЧЗ-4 (2) |
A994986-ОХФ Пущаровский, Дмитрий Юрьевич. Рентгенография минералов [Текст] : учебник / Д. Ю. Пущаровский ; Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова. - Москва : Геоинформмарк, 2000. - 295, [1] с. : ил., табл. - Библиогр.: с. 288 (17 назв.). - ISBN 5-900357-50-3 (в пер.) : 270.00 р. Допущено М-вом образования РФ в качестве учеб. для геол. специальностей вузов
Рубрики: химия--кристаллография Кл.слова (ненормированные): минералы -- кристаллы -- рентгенография -- рентгеновские лучи -- рассеяние рентгеновских лучей -- рентгеноструктурный анализ Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |