| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :8
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (9)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=сканирующая туннельная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 8
Показаны документы с 1 по 8
1.

    Еловиков, Сергей Сергеевич.
    Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок [Текст] : [учеб. пособие] / С. С. Еловиков ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 94 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02904-6 : 5.50 р.
УДК
539.27(075.8)

Рубрики: физика--физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
твердые тела -- тонкие пленки -- электронная спектроскопия -- энергоанализ заряженных частиц -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие
2.

   Синицин, Николай Иванович
    Практикум по волновой электронике и микроэлектронике [Текст] / Н. И. Синицин, Г. В. Торгашов, И. Г. Торгашов. - Саратов : Издательство Саратовского университета.
   Ч. IV : Технология микроэлектроники. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2000. - 42, [2] с. - ISBN 5-292-02562-3 : 10.00 р.
На обл. авт. не указаны
УДК
621.38.049.77(076.5)

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- сканирующая туннельная микроскопия -- пленочная технология
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского


Доп. точки доступа:

Торгашов, Г. В.
Торгашов, И. Г.
Найти похожие
3.

    Рыков, Сергей Александрович.
    Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур [Текст] : учеб. пособие для студентов вузов, обучающихся по направлению "Техническая физика" / С. А. Рыков ; . - Санкт-Петербург : Наука, 2001. - 52 с. - (Новые разделы физики полупроводников). - Библиогр. - ISBN 5-02-024956-4 (в пер.) : 20.00 р.
УДК
621.315.5
621.385.833

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая туннельная микроскопия -- атомарно-силовые микроскопы -- полупроводниковые материалы -- наноструктуры
Аннотация: На примере сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и атомарно- силового микроскопа (АСМ) рассмотрены основные принципы сканирующей зондовой микроскопии.Изложены физические основы их действия,описаны современные конструкции СТМ и АСМ.Рассматриваются примеры их практического применения для исследования и диагностики полупроводниковых материалов и наноструктур.Для студентов, аспирантов,научных сотрудников.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие
4.

    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р.
УДК
621.385.833(075.8)
681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия
Аннотация: Пособие охватывает всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.



Найти похожие
5.

    Миронов, В. Л.
    Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.
УДК
621.385.833(075.8)
681.723.2(075.8)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского



Найти похожие
6.

    Kaupp, Gerd.
    Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching. Application to Rough and Natural Surfaces [Электронный ресурс] : научное издание / G. Kaupp. - Электрон. текстовые дан. - Berlin ; Heidelberg : Springer, 2006?. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM). - (NanoScience and Technology) (Springer eBook Collection). - ISBN 9783540284727. - ISBN 9783540284727 (ошибоч.) (в кор.) : 630.00 р.
УДК
621.385.833(0.034.4)
681.723.2(0.034.4)

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
микроскопы -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия -- оптическая микроскопия -- нанотехнологии -- наноцарапины
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие
7.

    Lõhmus, Rünno.
    Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials [Рукопись] : dis. for the Degree of Doctor of Philosophy in physics (experimental physics) / R. Lõhmus ; superv.: R. Kink, L. Pung. - Tartu : Tartu Univ. Press, 2002. - 93, [3] p. - (Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis ; 39). - Bibliogr. at the end of the chapters. - ISSN 1406-0647. - ISBN 9985-56-695-5 : [б. ц.]
УДК
620.3(043.3)
620.187(043.3)

Рубрики: техника--материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
наноструктурированные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского


Доп. точки доступа:
Kink, Rein
Pung, Lembit
Найти похожие
8.

    Усанов, Дмитрий Александрович.
    Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области ее применения [Текст] : научное издание / Д. А. Усанов. - Саратов : Издательство Саратовского университета, 2010. - 98, [2] с. - [Ближнеполевая сканирующая СВЧ-микроскопия и области её применения] . - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-292-03937-2 : 98.21 р.
УДК
621.385.833
681.723.2

Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы

   техника--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
СВЧ-микроскопы -- ближнеполевые СВЧ- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотехнологии -- линии передачи -- СВЧ-резонаторы
Аннотация: В последние несколько десятилетий в практику вошли средства измерений, работающие в нанометровом масштабе: сканирующие туннельные, атомносиловые и СВЧ-ближнеполевые микроскопы. В настоящем издании рассмотрены принципы действия, основные характеристики, обсуждены достоинства и недостатки, приведены примеры применения различных типов ближнеполевых сканирующих СВЧ-микроскопов. Для ученых, преподавателей и студентов, занимающихся исследованиями в области нано- и биомедицинских технологий.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)