| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :5
 В других БД по вашему запросу найдено:Электронный каталог (3)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=рентгеновская микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 5
Показаны документы с 1 по 5
1.

    Кочубей, Вячеслав Иванович.
    Процессы образования и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах с примесями элементов IIIA и VIIIB групп [Рукопись] : дис. на соиск. учен. степ. д-ра физ.-мат. наук: 01.04.05 / В. И. Кочубей ; . - Саратов : [б. и.], 2002. - 236 л. с. + 1 автореф. - Библиогр. - ISBN [Б. и.] (в пер.) : [б. ц.]
УДК

Рубрики: физика--оптика

Кл.слова (ненормированные):
люминесценция -- щелочногалоидные кристаллы -- люминофоры -- дефекты в кристаллах -- рентгеновская микроскопия -- спектроскопия -- ионизирующие излучения
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

2.

    Кочубей, Вячеслав Иванович.
    Формирование и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах [Текст] : научное издание / В. И. Кочубей. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2006. - 188, [4] с. : рис., табл. - Библиогр.: с. 172-188 (258 назв.). - ISBN 5-9221-0702-X (в пер.) : 100.00 р.
Есть автограф: Экз. A972877 : Кочубей, Вячеслав Иванович
УДК

Рубрики: физика--оптика

Кл.слова (ненормированные):
люминесценция -- щелочногалоидные кристаллы -- люминофоры -- дефекты в кристаллах -- рентгеновская микроскопия -- спектроскопия
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Найти похожие

3.

    Кларк, Эшли Р..
    Микроскопические методы исследования материалов [Текст] : научное издание / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; пер. с англ. С. Л. Баженова ; Ин-т синтет. полимер. материалов им. Е. Н. Ениколопова РАН. - Москва : Техносфера, 2007. - 371, [5] с. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце разд. - ISBN 978-5-94836-121-5 (в пер.). - ISBN 1-85573-587-3 (англ.) : 175.00 р.
УДК

Рубрики: техника--материаловедение--оптические приборы

Кл.слова (ненормированные):
материаловедение -- микроскопы -- микроскопия -- микроскопические методы -- конструкционные материалы -- фотоника -- цифровые изображения -- микроскопия отраженного света -- конфокальная микроскопия -- рамановская микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- рентгеновская микроскопия -- томография -- сканирующая акустическая микроскопия
Аннотация: В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов.
Держатели документа:
Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Эберхардт, Колин Н.
Баженов, С. Л.
Найти похожие

4.

    Суворов, А. Л.
    Микроскопия в науке и технике [Текст] / А. Л. Суворов. - М. : Наука, 1981. - 136 с. : ил. ; 20см. - (Наука и технический прогресс). - 0.45 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
физика -- микроскопы -- световая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопический анализ -- рентгеновская микроскопия -- автоэлектронная микроскопия -- автоионная микроскопия
Аннотация: Книга знакомит с основными вехами в развитии микроскопии,типами и принципами действия современных микроскопов.Рассмотрены тенденции развития микроскопии,ее перспективы.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.
Найти похожие

5.

    Концевой, Ю. А.
    Методы контроля технологии производства полупроводниковых приборов [Текст] : научное издание / Ю. А. Концевой, В. Д. Кудин. - М. : Энергия, 1973. - 144 с. : ил. ; 20 см. - (Б-ка радиотехнолога ; вып. 2). - Библиогр.: с. 132-140 (134 назв.). - 0.40 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
ДИЭЛЕКТРИКИ -- ПОЛУПРОВОДНИКИ -- МИКРОСКОПИЯ -- МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ ПРИБОРОВ -- РЕНТГЕНОВСКАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ОПЕРАЦИИ
Аннотация: В книге описываются электрические, оптические, рентгеновские и электронномикроскопические методы контроля технологии изготовления полупроводниковых приборов. Рассматриваются принципы организации технологического контроля при разработках и в производстве приборов.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Кудин, В. Д.
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)