| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) - результаты поиска

Виды поиска

Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :3
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "ЛАНЬ" (1)
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ<.>)
Общее количество найденных документов : 3
Показаны документы с 1 по 3
1.

   Эллиот, Р. П.

    Структуры двойных сплавов [Текст] : справочник / Р. П. Эллиот. - М. : Металлургия, 1970.
   Т. 2 / пер. с англ. А. М. Захарова [и др.] ; под ред.: И. И. Новикова, И. Л. Рогельберга = Constitution jf Binary Alloys, First Supplement / P. D. Elliott. - 1-е изд., доп. - 1970. - 472 с. : ил., табл. ; 22 см. - Библиогр. в конце глав. - 3.75 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Металлургия--Сплавы

Кл.слова (ненормированные):
МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ -- ТЯЖЕЛЫЕ РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫЕ МЕТАЛЛЫ -- ДВОЙНЫЕ СПЛАВЫ -- СПЛАВЫ
Аннотация: В справочнике рассматривается структура двойных сплавов в металлургии.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Захаров, А. М.
Золоторевский, В. С.
Новик, П. К.
Новик, Ф. С.
Новиков, И. И.
Рогельберг, И. Л.
Найти похожие

2.

    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ [Текст] = Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : в 2-х кн. : монография / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир , 1984.
   Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил., табл. ; 22 см. - 3.00 р.
Тит. л. парал. на англ. яз.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУЧКИ -- СТЕРЕОМИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ -- СПЕКТРОМЕТРЫ
Аннотация: В первой книге монографии изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Гоулдстейн, Дж. Goldstein J. I.
Ньюбери, Д. Newbury D. E.
Эчлин, П. Echlin P.
Джой, Д. Joy D. C.
Фиори, Ч. Fiori C.
Лифшин, Э. Lifshin E.
Гвоздовер, Р. С. \\пер.\\
Комолова, Л. Ф. \\пер.\\
Петров, В. И. \\ред.\\
Найти похожие

3.

    Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ [Текст] = Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : в 2 кн. : монография / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир, 1984.
   Кн. 2. - 1984. - 348 с. : ил., табл. ; 22 см. - Библиогр.: с. 318-341. - 3.10 р.
Тит. л. парал. на англ. яз.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: Физика--Электронные явления

Кл.слова (ненормированные):
МЕТОДЫ ПРЕПАРИРОВАНИЯ -- МИКРООЗОЛЕНИЕ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ -- ТЕРМИЧЕСКОЕ НАПЫЛЕНИЕ -- КАТОДНОЕ РАСПЫЛЕНИЕ
Аннотация: Во второй книге монографии изложена методика проведения количественного рентгеновского микроанализа с многочисленными примерами и практическими рекомендациями, а также техника различных объектов для последующего их исследования в РЭМ РМА. Рассмотрены вопросы нанесения специальных покрытий, особенности исследования биологических (влагосодержащих) образцов и т. д.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Гоулдстейн, Дж. Goldstein J. I.
Ньюбери, Д. Newbury D. E.
Эчлин, П. Echlin P.
Джой, Д. Joy D. C.
Фиори, Ч. Fiori C.
Лифшин, Э. Lifshin E.
Гвоздовер, Р. С. \\пер.\\
Комолова, Л. Ф. \\пер.\\
Петров, В. И. \\ред.\\
Найти похожие

 
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)