A858376-ОХФ Шереметьева, Галина Фёдоровна. Методы гистологических исследований [Текст] / Г. Ф. Шереметьева, Е. З. Кочарян ; . - Москва : НЦХ РАМН, 1995. - 37 с. - Библиогр. - ISBN 5-900895-01-7 : 4000.00 р. Авт. указаны на обороте тит. л.
Рубрики: медицина--анатомия Кл.слова (ненормированные): гистология -- артефакты -- гистохимия -- микроскопия -- электронная микроскопия -- радиоавтография -- ткани биологические Доп. точки доступа: Кочарян, Евгения Захарьевна Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A496752-ОХФ Frank, Joachim. Three-Dimensional Electron Microscopy of Macromolecular Assemblies [Текст] : научное издание / Joachim Frank. - San Diego a. o. : Acad. Press, 1996. - 342 p. : fig. - Bibliogr. - ISBN 0-12-265040-9 : 17.00 р.
Рубрики: биология--биология Кл.слова (ненормированные): биология -- электронная микроскопия -- макромолекулярные схемы Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A873272-ОХФ, A873534-ОХФ Ермолаев, Сергей Анатольевич. Естественно-научные методы и технические средства экспертного исследования [Текст] : учеб. пособие / С. А. Ермолаев, И. Н. Мельников, Ф. П. Орлов. - Саратов : Изд-во СЮИ МВД РФ, 2000. - 151 с. : ил. - Библиогр. - ISBN 5-7485-0140-6 : 25.00 р.
Рубрики: государство и право--уголовное право Кл.слова (ненормированные): цифровые изображения -- химический анализ -- масс-спектрометрия -- технические средства -- хроматография -- криминалистическая экспертиза -- спектроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопы -- рентгеновские лучи Доп. точки доступа: Мельников, И. Н. Орлов, Федор Павлович Орлов, Фёдор Павлович Экземпляры всего: 2 ОХФ (2) |
A905196-ОХФ Токарев, П. И. Морфология и ультраструктура пыльцевых зерен [Текст] : научное издание / П. И. Токарев. - Москва : КМК, 2002. - 51, [1] с. - ISBN 5-87317-102-5 : 35.00 р.
Рубрики: палеонтология--палеоботаника Кл.слова (ненормированные): палинология -- пыльца -- споры -- пыльцевые зерна -- спородермы -- электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- спородермы -- палинологические исследования Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
Учебная литература, A908959-ОХФ, A908960-ОХФ-ЧЗ-4, A908961-ОХФ-ЧЗ-4, Брандон, Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля [Текст] : учеб. пособие / Д. Брандон, У. Каплан ; пер. с англ. под ред. С. Л. Баженова ; доп. О. В. Егоровой. - Москва : Техносфера, 2004. - 377, [7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 376-377. - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - ISBN 0 471 98501 5 (англ.) : 191.88 р., 192.59 р., 139.00 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- микроструктуры -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроанализ -- химический анализ Доп. точки доступа: Каплан, У. Баженов, С. Л. Егорова, О. В. Экземпляры всего: 25 ОУОЕН (22), ОХФ (1), ОХФ-ЧЗ-4 (2) |
A979068-ОХФ Синдо, Дайзуке. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванова. - Москва : Техносфера, 2006. - 249, [7] с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4 (в пер.). - ISBN 4-431-70336-5 (англ.) : 110.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы радиотехника.электроника--электронные приборы Кл.слова (ненормированные): электронные микроскопы -- микроскопы -- электронная микроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- трехмерная томография -- материаловедение -- ALCHEMI метод Доп. точки доступа: Оикава, Тецуо Иванов, С. А. Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A983395-ОХФ Методы и средства микроскопии [Текст] : метод. указания / ГОУ ВПО "Уральский государственный технический университет - УПИ" ; сост.: Б. В. Шульгин [и др.] ; науч. ред. А. В. Кружалов. - Екатеринбург : Изд-во УМЦ УПИ, 2005. - 187, [1] с. : ил. - Библиогр.: с. 186-187 (25 назв.) . - ISBN [Б. и.] : 65.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы--материаловедение Кл.слова (ненормированные): микроскопия -- микроскопы -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- зондовая микроскопия -- обработка изображений -- наночастицы -- биологические объекты Доп. точки доступа: Шульгин, Борис Владимирович Анипко, Алла Владимировна Антонов, Илья Витальевич Гайдуков, Владимир Владимирович Кружалов, А. В. Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A992395-ОХФ Фурсей, Георгий Николаевич. Автоэлектронная эмиссия [Текст] / Г. Н. Фурсей. - Санкт-Петербург ; Москва ; Краснодар : Лань, 2012. - 319, [5] с. : ил., фото. цв. - (Учебники для вузов. Специальная литература). - Библиогр.: с. 274-311 (517 назв.). - ISBN 978-5-8114-1232-7 (в пер.) : 455.00 р.
Рубрики: физика--электромагнетизм радиотехника.электроника--электронные приборы Кл.слова (ненормированные): автоэлектронная эмиссия -- металлы -- полупроводники -- точечные автоэлектронные катоды -- электронная микроскопия -- электронно-оптические устройства -- вакуумная наноэлектроника Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A918102-ОХФ Наноструктурные покрытия [Текст] / под ред. А. Кавалейро и Д. Хоссона де ; пер. с англ. А. В. Хачояна под ред. Р. А. Андриевского. - Москва : Техносфера, 2011. - 750, [2] с. : ил. - (Мир материалов и технологий ; 28). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-182-6 (в пер.). - ISBN 978-0-38-725642-9 (англ.) : 1247.00 р.
Рубрики: физика--физика твердого тела техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): твердые тела -- наноструктурные покрытия -- покрытия -- наноструктурные металлы -- деформации -- дефекты -- наноиндентирование -- электронная микроскопия -- наноструктурные твердые пленки -- нанокомпозиты -- магнетронное напыление -- синтез -- разрушение покрытий -- трибология Доп. точки доступа: Кавалейро, А. Хоссон де, Д. Хачоян, А. В. Андриевский, Р. А. Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
Учебная литература, A996001-ОХФ, A996002-ОХФ, Груздов, Вадим Владимирович. Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике [Текст] / В. В. Груздов, Ю. В. Колковский, Ю. А. Концевой. - Москва : Техносфера, 2016. - 327, [1] с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-426-1 (в пер.) : 1170.40 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): твердотельная электроника -- СВЧ-электроника -- интеллектуальная собственность -- стандарты -- СВЧ-транзисторы -- полупроводниковые приборы -- технологические процессы (ТП) -- широкозонные материалы -- контроль качества -- гетероструктуры -- электронная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- электронная спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия Доп. точки доступа: Колковский, Юрий Владимирович Концевой, Юлий Абрамович Экземпляры всего: 5 ОХФ (2), ОУОЕН (3) |
A996717-ОХФ Карпасюк, Владимир Корнильевич. Зондирующие методы исследований в материаловедении [Текст] : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.). - ISBN 978-5-91910-342-4 : 293.00 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- зондирование -- структурный анализ -- ферромагнитный резонанс -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- рентгеноструктурный анализ -- нейтронография -- электронография -- электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- масс-спектрометрия -- сканирующая зондовая микроскопия Доп. точки доступа: Смирнов, Андрей Михайлович Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A919698-ОХФ, A919699-ОХФ Ищенко, Анатолий Александрович. Структура и динамика свободных молекул и конденсированного вещества [Текст] / А. А. Ищенко. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2018. - 655, [1] с. : ил., табл. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 646-655. - ISBN 978-5-9221-1799-9 (в пер.) : 841.00 р.
Рубрики: химия--физическая химия Кл.слова (ненормированные): химические реакции -- динамика химических реакций -- электронная дифракция -- молекулярные структуры -- электронно-колебательные взаимодействия -- внутримолекулярная динамика -- пентагалогениды -- переходные структуры -- электронная кристаллография -- нанокристаллография -- электронная микроскопия -- структурная динамика -- спектральные методы -- дифракционные методы Экземпляры всего: 2 ОХФ (2) |
A930295-ОХФ Ищенко, Анатолий Александрович. Дифракция электронов: структура и динамика свободных молекул и конденсированного состояния вещества [Текст] / А. А. Ищенко, Г. В. Гиричев, Ю. И. Тарасов. - Москва : ФИЗМАТЛИТ, 2012. - 616 с. : ил. - Библиогр. в конце глав. - Предм. указ.: с. 611-614. - ISBN 978-5-9221-1447-9 (в пер.) : 639.00 р.
Рубрики: физика--молекулярная физика химия--физическая химия Кл.слова (ненормированные): молекулярная физика -- строение вещества -- электронная дифракция -- молекулярные структуры -- внутримолекулярная динамика -- теория рассеяния электронов -- электронография -- масс-спектрометрия -- структурная динамика -- свободные молекулы -- электроны -- фотоэлектроника -- электронная микроскопия -- электронно-колебательные взаимодействия -- нанокристаллография Доп. точки доступа: Гиричев, Георгий Васильевич Тарасов, Юрий Игоревич Экземпляры всего: 1 ОХФ (1) |
A930356-ОХФ-СБО Справочник по микроскопии для нанотехнологии [Текст] = Handbook of microscopy for nanotechnology : пер. с англ. / Моск. гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образоват. центр по нанотехнологиям ; под ред.: Н. Яо, Ч. Л. Ван ; науч. ред. рус. изд. И. В. Яминский. - Москва : Научный мир, 2011. - 712 с. : ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: справочники / гл. ред. А.Р. Хохлов). - Библиогр. в конце ст. - ISBN 978-5-91522-232-7 (в пер.) : 600.00 р.
Рубрики: техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): микроскопия -- оптическая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая зондовая микроскопия -- масс-спектрометрия -- атомно-зондовая томография -- электронно-лучевая литография -- электронная микроскопия -- электронная нанокристаллография -- электронная голография -- нанотехнологии -- наноразмерные материалы -- наноизмерения Доп. точки доступа: Яо, Нан Ван, Чжун Лин Яминский, И. В. Экземпляры всего: 1 ОХФ-СБО (1) |