A950211-ОХФ
    Бухаров, Владимир Эдуардович.
    Влияние миграции точечных дефектов на радиационную стойкость гетерофазного полупроводника [Текст] : автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук : 05.27.01 / В. Э. Бухаров ; . - Саратов : [б. и.], 2003. - 16 с. - Библиогр. - ISBN [Б. и.] : Б. ц.
УДК

Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника

Кл.слова (ненормированные):
гетерофазные полупроводники -- радиационная стойкость -- полупроводниковые структуры -- радиационные дефекты
Экземпляры всего: 1
ОХФ (1)