| начало | написать нам | в избранное | сделать стартовой |
ДЛЯ РАБОТЫ С БАЗАМИ ОГРАНИЧЕННОГО ДОСТУПА ТРЕБУЕТСЯ АВТОРИЗАЦИЯ
ДАННАЯ ВЕРСИЯ СИСТЕМЫ НЕ ПОДДЕРЖИВАЕТСЯ!!! БАЗЫ НЕ ОБНОВЛЯЮТСЯ!!! ПОЛЬЗУЙТЕСЬ НОВОЙ ВЕРСИЕЙ ПОИСКОВОЙ СИСТЕМЫ!!! >>>

Базы данных


Электронный каталог - результаты поиска

Виды поиска
Электронный каталог
ЭБС "ЛАНЬ"
ЭБС "ZNANIUM.com" (ИД "ИНФРА-М")
ЭБС "ЮРАЙТ"
ЭБС "АЙБУКС"
ЭБС "РУКОНТ"
ЭБС "IPRBOOKS"
ЭБС "BOOK.ru"
Электронная библиотека
Известные деятели культуры в Саратовской губернии
Работы В. А. Артисевич и литература о ней
Издания вузовских библиотек Среднего и Нижнего Поволжья
Публикации учёных СГУ
Краеведческий обзор
Поступления журналов в ЗНБ СГУ
БД коллекций в фонде ЗНБ СГУ
БД выпускных квалификационных работ
Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС)
Область поиска
В текущей базе данных найдено документов :7
 В других БД по вашему запросу найдено:ЭБС "ЛАНЬ" (1)Сводный каталог библиотек (СГУ, СГТУ, ЦБС) (17)
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>KL=рефрактометрия<.>)
Общее количество найденных документов : 7
Показаны документы с 1 по 7
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 988544
543.6+541.821+541.1.041/Ф48
Автор(ы) : Фиалков, Юрий Яковлевич
Заглавие : Физико-химический анализ жидких систем и растворов
Выходные данные : Киев: Наук. думка, 1992
Колич.характеристики :244, [4] с
ISBN (в пер.), Цена 5-12-003137-4: 30.00 р.
УДК : [543.2+543.4+541.1]:541.8
Предметные рубрики: химия-- аналитическая химия-- теоретическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): растворы--термодинамика--кинетика--физико-химические методы анализа--спектрофотометрия--вискозиметрия--кондуктометрия--калориметрия--рефрактометрия
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Многотомное издание
Шифр издания : 499506
53(076.5)вуз017.7:53/Р85
Автор(ы) :
Заглавие : Руководство к лабораторным работам по курсу общей физики. Оптика/ под ред. М. Л. Каца. Вып. 2: Рефрактометрия
Выходные данные : Саратов: Издательство Саратовского университета, 1988
Колич.характеристики :29, [1] с.: ил.
Примечания : Библиогр.
ISBN, Цена [Б. и.]: 10.00, 5.00, р.
УДК : 535(076.5)
Предметные рубрики: физика-- оптика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): оптика--рефрактометрия
Экземпляры : всего : ОХФ(2)
Свободны : ОХФ(2)
Найти похожие
3.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 629961
681.4/Г 625
Автор(ы) : Голубь, Борис Иванович, Котюк, Андрей Фёдорович, Кузин, Александр Юрьевич
Заглавие : Основы обеспечения единства оптико-физических измерений
Выходные данные : Москва: Горячая линия - Телеком, 2006
Колич.характеристики :151, [1] с.: рис., табл.
Примечания : Библиогр.: с. 149-150
ISBN, Цена 5-93517-235-6: 121.00 р.
УДК : 681.7
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): оптические измерения--техническая оптика--физические величины--лазерное излучение--поляризация--колориметрия--рефрактометрия--эталоны единиц
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
4.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 724179
Автор(ы) : Евтихиева, Ольга Анатольевна, Расковская, Ирина Львовна, Ринкевичюс, Бронюс Симович
Заглавие : Лазерная рефрактография
Выходные данные : Москва: ФИЗМАТЛИТ, 2008
Колич.характеристики :174, [2] с.: ил., цв. ил
Примечания : Библиогр. в конце глав
ISBN (в пер.), Цена 978-5-9221-1044-0: 150.00 р.
УДК : 681.7
Предметные рубрики: техника-- оптические приборы
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): лазерная рефрактография--структурированное лазерное излучение (сли)--рефрактограммы--рефрактометрия--оптические методы диагностики--цифровая обработка--оптические неоднородности--лазерное излучение
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
5.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.372.8(043.3)/М 190 рукописный текст
Автор(ы) : Малинин, Антон Владимирович
Заглавие : Влияние показателя преломления, коэффициентов поглощения и рассеяния сред на оптические свойства полых микроструктурных волноводов : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.21, 03.01.02 : защищена 06.09.2013
Выходные данные : Б.м., 2013
Колич.характеристики :138 л.: граф., ил., табл. + 1 автореф.
Коллективы : Федер. гос. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского"
Примечания : Библиогр.: л. 125-138 (135 назв.)
ISBN (в пер.), Цена [Б. и.]
УДК : 621.372.8(043.3)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электромагнитные колебания
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроструктурные оптические волноводы--наноструктурные волноводы--фотонно-кристаллические волноводы--лазерное излучение--оптические сенсоры--волоконные датчики--фотометрия--рефрактометрия--рассеяние--поглощение
Экземпляры :ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)(1)
Свободны : ОХФ-ЧЗ-3(Дисс. фонд)(1)
Найти похожие
6.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 621.372.8(043.3)/М 190 рукописный текст
Автор(ы) : Малинин, Антон Владимирович
Заглавие : Влияние показателя преломления, коэффициентов поглощения и рассеяния сред на оптические свойства полых микроструктурных волноводов : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 01.04.21, 03.01.02
Выходные данные : Б.м., 2013
Колич.характеристики :29, [1] с.: граф., ил.
Коллективы : СГУ им. Н. Г. Чернышевского
Примечания : Библиогр.: с. 28-29 (10 назв.)
ISBN, Цена [Б. и.]
УДК : 621.372.8(043.3)
Предметные рубрики: радиотехника.электроника-- электромагнитные колебания
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): микроструктурные оптические волноводы--наноструктурные волноводы--фотонно-кристаллические волноводы--лазерное излучение--оптические сенсоры--волоконные датчики--фотометрия--рефрактометрия--рассеяние--поглощение
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
7.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 543.45/И 75
Автор(ы) : Иоффе, Борис Вениаминович
Заглавие : Рефрактометрические методы химии . -3-е изд., перераб.
Выходные данные : Ленинград: Химия, Ленинградское отделение, 1983
Колич.характеристики :349, [3] с.: ил.
Примечания : Библиогр.: с. 312-343. - Предм. указ.: с. 344-346
ISBN, Цена [Б. и.]: 140.00 р.
УДК : 543.45
Предметные рубрики: химия-- аналитическая химия
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рефрактометрия--рефракция--рефрактометры--химический анализ--контроль технологических процессов--показатели преломления--методы измерения
Экземпляры :ОХФ(1)
Свободны : ОХФ(1)
Найти похожие
 
Стандартный (по одному полю)
По словарю (по одному полю)
Профессиональный (по нескольким полям со словарями)
Распределенный (г. Саратов)
Расширенный
Авторизация
Фамилия
Пароль
 
Заявка на регистрацию в ЭБС

Возникли проблемы? Пишите на oma@info.sgu.ru
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)