Новые поступления (книга в стадии обработки) Ефимов, И. Е. Надежность твердых интегральных схем [Текст] : научное издание / И. Е. Ефимов, И. Г. Кальман, В. И. Мартынов. - М. : Изд-во стандартов, 1979. - 217 с. ; 22 см. - 0.95 р.
Рубрики: Электроника--Интегральные микросхемы Кл.слова (ненормированные): ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МИКРОСХЕМЫ -- НАДЕЖНОСТЬ МЕХАНИЗМОВ -- МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ КАЧЕСТВА Аннотация: Приводятся виды и основные причины отказов интегральных схем в процессе производства и эксплуатации. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Кальман, И. Г. Мартынов, В. И. |