Новые поступления (книга в стадии обработки) Кейджян, Г. А. Прогнозирование надежности микроэлектронной аппаратуры на основе БИС [Текст] / Г. А. Кейджян. - М. : Радио и связь, 1987. - 152 с. : ил. ; 21см. - 1.20 р.
Рубрики: Электроника--Микроэлектроника Кл.слова (ненормированные): микроэлектронная аппаратура -- микроэлектроника -- БИС -- прогнозирование надежности -- базовые элементы Аннотация: В книге систематизированы расчетные и экспериментальные методы оценки и прогнозирования надежности применительно к конкретному этапу разработки и производства БИС и МЭА, приведена методика оценки информативности и эффективности методов прогнозирования,показано влияние функциональной сложности БИС на модель надежности МЭА. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Введение в фотолитографию [Текст] : научное издание / Е. С. Боков [и др.] ; под ред. В. П. Лаврищева. - М. : Энергия, 1977. - 400 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 379-397. - 1.47 р.
Рубрики: Электроника--Фоторезисторы Кл.слова (ненормированные): ФОТОЛИТОГРАФИЯ -- ФОТОШАБЛОНЫ -- ВОСПРОИЗВЕДЕНИЕ ИЗОБРАЖЕНИЙ -- РЕНТГЕНОВСКИЕ ЛУЧИ -- ФОТОРЕЗИСТОРЫ Аннотация: Освещены основные проблемы фотолитографии и оценены перспективы ее развития. Рассмотрены свойства фоторезисторов, процессы образования фоторезисторных покрытий. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Боков, Е. С. Корсаков, В. С. Мишачев, В. И. Лубашевская, А. В. Лаврищев, В. П. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Корнилов, Р. В. Расчет комплексов оборудования микроэлектроники [Текст] : научное издание / Р. В. Корнилов, В. Л. Сандеров. - М. : Энергия, 1979. - 104 с. : ил. ; 21 см. - 0.30 р.
Рубрики: Электроника--МИКРОЭЛЕКТРОНИКА Кл.слова (ненормированные): ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- ФОТОЛИТОГРАФИЯ -- ВАКУУМНОЕ ОБОРУДОВАНИЕ Аннотация: Обосновывается целесообразность создания комплексов, приводятся технология и характеристики оборудования, дается классификация развития комплексов в автоматизированные поточные линии. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Сандеров, В. Л. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Данилин, Б. С. Ионное травление микроструктур [Текст] : научное издание / Б. С. Данилин, В. Ю. Киреев. - М. : Советское радио, 1979. - 104 с. : ил. ; 20 см. - (Массовая библиотека инженера "Электроника"). - Библиогр.: с. 95. - 0.30 р.
Рубрики: Электроника--Микроэлектроника Кл.слова (ненормированные): ИОННОЕ ТРАВЛЕНИЕ -- ТРИОДНЫЕ СИСТЕМЫ -- ДИОДНЫЕ СИСТЕМЫ -- РАДИАЦИОННЫЕ ДЕФЕКТЫ -- ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ -- РАСПЫЛИТЕЛЬНЫЕ УСТРОЙСТВА Аннотация: Рассматривается применение ионного травления в производстве микроэлектронных приборов. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Киреев, В. Ю. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Хамер, Д. Технология толстопленочных гибридных интегральных схем [Текст] / Д. Хамер, Д. Биггерс ; пер. с англ. ; под ред. Т. Д. Шермергора = Trick Film Hybrid Mikrocircuit Technology / D. W. Hamer, J. V. Biggers : научное издание. - М. : Изд-во "Мир", 1975. - 496 с. : ил., табл. ; 20 см. - Библиогр.: с. 482-495. - 2.83 р. Тит. л. парал. на англ.
Рубрики: Электроника--Микроэлектроника Кл.слова (ненормированные): ГИБРИДНЫЕ МИКРОСХЕМЫ -- КОРПУСИРОВАНИЕ -- ВЖИГАНИЕ ПЛЕНОК -- ДИСКРЕТНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ -- ТОЛСТОПЛЕНОЧНАЯ МИКРОЭЛЕКТРОНИКА Аннотация: В книге излагаются основы технологии изготовления гибридных интегральных схем (ГИС). Описаны материалы, применяемые в производстве толстых пленок (в том числе различные пасты), операции трафаретной печати, вжигания и монтажа активных компонентов, выбор корпуса и другие. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Биггерс, Д. Шермергор, Т. Д. |