Новые поступления (книга в стадии обработки) Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2004. - 143, [1] с. : цв.ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143 (53 назв.). - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 153.32 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия Аннотация: Пособие охватывает всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Миронов, В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : учеб. пособие для студентов ст. курсов вузов / В. Л. Миронов ; Рос. акад. наук, Ин-т физики микроструктур г. Нижний Новгород. - Москва : Техносфера, 2005. - 143, [1] с. : ил. - (Мир физики и техники). - Библиогр.: с. 140-143. - ISBN 5-94836-034-2 (в пер.) : 167.00 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электронные приборы техника--оптические приборы Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- микроскопы -- сканирующая туннельная микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- оптическая микроскопия Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Lõhmus, Rünno. Application of Novel Hybrid Methods in SPM Studies of Nanostructural Materials [Рукопись] : dis. for the Degree of Doctor of Philosophy in physics (experimental physics) / R. Lõhmus ; superv.: R. Kink, L. Pung. - Tartu : Tartu Univ. Press, 2002. - 93, [3] p. - (Dissertationes Physicae Univ. Tartuensis ; 39). - Bibliogr. at the end of the chapters. - ISSN 1406-0647. - ISBN 9985-56-695-5 : [б. ц.]
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): наноструктурированные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- сканирующая туннельная микроскопия Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Kink, Rein Pung, Lembit |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Богатство наномира. Фоторепортаж из глубин вещества [Текст] : научно-популярная литература / Е. А. Гудилин [и др.] ; под ред. Ю. Д. Третьякова. - Москва : БИНОМ. Лаб. знаний, 2009. - 171, [5] с. : цв. ил. - (Нанотехнологии). - ISBN 978-5-9963-0108-9 (в пер.) : 126.25 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- наномир -- наноструктуры -- нанотрубки -- квантовые точки -- фотонные кристаллы -- высокотемпературные сверхпроводники -- магнитные материалы -- сканирующая зондовая микроскопия Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Гудилин, Е. А. Гаршев, А. В. Баранчиков, А. Е. Абрамова, В. В. Третьяков, Ю. Д. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Получение и исследование наноструктур. Лабораторный практикум по нанотехнологиям [Текст] : учебное пособие / под ред. А. С. Сигова. - Москва : БИНОМ. Лаб. знаний, 2010. - 146, [6] с. : рис. - (Нанотехнологии). - Библиогр.: с. 143-146. - ISBN 978-5-9963-0028-4 (в пер.) : 150.90 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): наноструктуры -- нанотехнологии -- наноразмерные структуры -- сканирующая зондовая микроскопия -- оптические методы -- наночастицы -- нанокомпозиты Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Сигов, А. С. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Шарипов, Талгат Ишмухамедович. Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; ГОУ ВПО "Башкирский государственный университет". - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. : рис. - Библиогр.: с. 19-20. - ISBN [Б. и.] Издание является приложением к документу: Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111. - ISBN [Б. и.]. Шифр 895198
Рубрики: биология--биофизика Кл.слова (ненормированные): ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Является приложением к Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов\par Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Бахтизин, Рауф Загидович |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Шарипов, Талгат Ишмухамедович. Исследование методами СЗМ иммобилизации молекул ДНК и оценка их проводимости [Рукопись] : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 15.03.2011 / Т. И. Шарипов ; науч. рук. Р. З. Бахтизин ; Башк. гос. ун-т. - Саратов : [б. и.], 2011. - 111 л. : рис. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 99-110 (110 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.) Приложение: Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин. - Саратов : [б. и.], 2011. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 955234
Рубрики: биология--биофизика Кл.слова (ненормированные): ДНК -- ДНК-чипы -- биосенсоры -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- иммобилизация. - Приложение:Исследование методами СЗМ иммобилизации молеку ДНК и оценка их проводимости : автореф. дис. ... канд. физ.-мат. наук : 03.01.02 / Т. И. Шарипов ; науч. консультант Р. З. Бахтизин Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Бахтизин, Рауф Загидович |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Лич, Ричард К.. Инженерные основы измерений нанометровой точности [Текст] : учеб. пособие / Р. К. Лич ; пер. с англ. А. В. Заблоцкого. - Долгопрудный : Издательский дом "Интеллект", 2012. - 400 с. : ил. - Библиогр.: с. 390-393 (55 назв.). - ISBN 978-5-91559-119-5 (в пер.) : 1246.30 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника метрология.стандартизация--метрология Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- инженерная метрология -- нанометрология -- прецизионные средства измерений -- интерферометрия -- метрология поверхностей -- сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- координатная метрология -- измерения массы -- измерения силы Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Заблоцкий, А. В. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Справочник Шпрингера по нанотехнологиям [Текст] : в 3 т. / Федер. гос. учреждение Науч.-произв. комплекс "Технологический центр" Моск. гос. ин-та электронной техники ; под ред. Б. Бхушана ; пер. с англ. под общ. ред. А. Н. Саурова. - 2-е изд. - Москва : Техносфера, 2010. - (Мир материалов и технологий ; 6 ; 30). - ISBN 978-5-94836-261-8. Т. 2. - Москва : Техносфера, 2010. - 1040 с. : ил. - ). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-263-2 (т. II) : 1022.00 р.
Рубрики: техника--материаловедение радиотехника.электроника--полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): нанотехнологии -- материаловедение -- сканирующая зондовая микроскопия -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- нанотрибология -- нанореология -- адгезия -- тонкие пленки -- биологическая нанотехнология Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Бхушан, Б. \\ред.\\ Сауров, А. Н. \\ред. пер.\\ |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Ерохин, Павел Сергеевич. Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Рукопись] : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 : защищена 28.04.2015 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 127 л. + 1 автореф. - Библиогр.: л. 104-127 (209 назв.). - ISBN [Б. и.] (в пер.) Приложение: Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - ISBN [Б. и.]. Шифр 579(043.3)/Е 782
Рубрики: биология--микробиология Кл.слова (ненормированные): микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Приложение:Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Тучин, Валерий Викторович |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Ерохин, Павел Сергеевич. Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы [Текст] : автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин ; науч. рук. В. В. Тучин ; Федер. гос. бюджет. образоват. учреждение высш. проф. образования "Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского". - Саратов : [б. и.], 2015. - 22, [1] с. - Библиогр.: с. 20-22 (22 назв.). - ISBN [Б. и.] Издание является приложением к документу: Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин. - Саратов : [б. и.], 2015. - 127. - ISBN [Б. и.]. Шифр /Е 782
Рубрики: биология--микробиология Кл.слова (ненормированные): микроорганизмы -- бактериальные клетки -- микробные сообщества -- биопленки -- атомно-силовая микроскопия(АСМ) -- обработка изображений -- сканирующая зондовая микроскопия. - Является приложением к Атомно-силовая микроскопия как инструмент определения чувствительности бактерий к факторам биотической и абиотической природы : диссертация на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук : 03.01.02 / П. С. Ерохин\par Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Тучин, Валерий Викторович |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Сканирующая зондовая нанотомография [Текст] : научное издание / О. И. Агапова [и др.]. - Москва : Техносфера, 2016. - 183, [1] с. : ил., граф. - (Мир физики и техники ; 35). - Библиогр.: с. 128-135 (107 назв.). - ISBN 978-5-94836-456-8 (в пер.) : 569.80 р.
Рубрики: медицина--патология Кл.слова (ненормированные): сканирующая зондовая микроскопия -- сканирующая зондовая нанотомография (СЗНТ) -- томография -- сканирующая зондовая крионанотомография -- биологические материалы -- биологические объекты -- трехмерные структуры -- биомедицина Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Агапова, Ольга Игоревна Ефимов, Антон Евгеньевич Соколов, Дмитрий Юрьевич Агапов, Игорь Иванович |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Нанотехнологии в электронике - 3.1 [Текст] : научное издание / под ред. Ю. А. Чаплыгина. - Москва : Техносфера, 2016. - 479, [1] с. : ил. - (Мир электроники ; 53). - Библиогр. в конце глав. - ISBN 978-5-94836-423-0 (в пер.) : 1170.40 р.
Рубрики: радиотехника.электроника--электроника Кл.слова (ненормированные): электроника -- нанотехнологии -- моделирование -- наноэлектроника -- углеродные нанотрубы -- сегнетокерамика -- пьезоэлектрические материалы -- сканирующая зондовая микроскопия -- наноструктуры -- сенсоры -- микроэлектроника -- сверхбольшие интегральные схемы (СБИС) Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Доп. точки доступа: Чаплыгин, Ю. А. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Карпасюк, Владимир Корнильевич. Зондирующие методы исследований в материаловедении [Текст] : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.). - ISBN 978-5-91910-342-4 : 293.00 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- зондирование -- структурный анализ -- ферромагнитный резонанс -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- рентгеноструктурный анализ -- нейтронография -- электронография -- электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- масс-спектрометрия -- сканирующая зондовая микроскопия Аннотация: Содержит изложение физических основ, принципов аппаратурной реализации, метрологических характеристик и применений методов исследования, основанных на зондировании твердых тел электромагнитными волнами высоких и сверхвысоких частот, рентгеновскими лучами, гамма-квантами, потоками электронов, ионов и нейтронов. Рассмотрены явления взаимодействия излучений различного вида с веществом, приведены необходимые сведения из кристаллографии и оптики пучков частиц. Представлены также методы сканирующей зондовой микроскопии, в том числе туннельная, атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия. Прикладные вопросы рассмотрены, в основном, на примере исследования материалов для магнитной и спиновой электроники и некоторых наноструктурированных сред. К каждому разделу подобраны вопросы и упражнения. Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Смирнов, Андрей Михайлович |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Байбурин, В. Б. Многофункциональный комплекс сканирующей зондовой микроскопии и его применение [Текст] / В. Б. Байбурин, Ю. П. Волков, Н. П. Коннов ; Саратовский гос. техн. ун-т. - Саратов : Изд-во СГУ, 1998 - . Ч. 1. - 1998. - 122 с. : ил. ; 21см. - ISBN 5-292-02176-8 : 10.00 р.
Рубрики: Испытания материалов--Микроскопия Кл.слова (ненормированные): микроскопия -- зондовая микроскопия -- исследование структуры материалов -- микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия Аннотация: Монография посвящена актуальным проблемам развития и применения сканирующей зондовой микроскопии сверхвысокого разрешения. Рассматриваются методы и принципы разработки сверхвиброустойчивых аналитико-технологических комплексов, реализующих одновременно возможности туннельной, атомно-силовой и световой микроскопии. Приводятся результаты экспериментальных исследований с применением комплекса в области физики твердого тела и микробиологии. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Волков, Ю. П. Коннов, Н. П. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Мельникова, И. П. Нанообъекты. Свойства и применение, методы изготовления и анализа наноструктур [Текст] : учеб. пособие / И. П. Мельникова, Б. А. Маренко, В. Н. Лясников ; Саратовский гос. техн. ун-т. - Саратов : СГТУ, 2010. - 121 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 100-107 (87 назв.). - ISBN 978-5-7433-2190-2 : 18.93 р.
Рубрики: Нанотехнологии Кл.слова (ненормированные): ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАНОТЕХНИКИ -- НАНОЧАСТИЦЫ -- НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- ПОЛУЧЕНИЯ НАНОМАТЕРИАЛОВ -- ПРОМЫШЛЕННОЕ ПРИМЕНЕНИЕ НАНОМАТЕРИАЛОВ -- СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ИНФРАКРАСНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ -- ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЕ МЕТОДЫ Аннотация: Приведены основные понятия и определения нанотехники. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова) Доп. точки доступа: Маренко, Б. А. Лясников, В. Н. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Волков, Ю. П. Универсальный информационно-измерительный комплекс сканирующей зондовой микроскопии [Текст] : монография / Ю. П. Волков, В. Б. Байбурин. - Саратов : ИД "Райт-Экспо", 2014. - 220 с. : ил. ; 21 см. - Библиогр.: с. 201-219 (201 назв.). - ISBN 978-5-4426-0028-5 : 250.00 р.
Рубрики: Испытания материалов--Микроскопия Кл.слова (ненормированные): СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ИНФОРМАЦИОННО-ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ КОМПЛЕКСЫ -- ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ -- ЭЛЕКТРОННЫЙ БЛОК УПРАВЛЕНИЯ -- ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ ГОЛОВКИ -- ВИБРОСТАБИЛЬНЫЕ МЕХАНИЧЕСКИЕ УЗЛЫ -- ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ -- ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ -- КРЕМНИЕВЫЕ НАНОСФЕРЫ -- ГЕРМАНИЕВЫЕ НАНОСФЕРЫ Аннотация: Книга посвящена проблемам развития сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ), прежде всего, в направлении, связанном с созданием универсальных информационно-измерительных комплексов, объединяющих возможности отдельных видов СЗМ (туннельной, атомно-силовой и др.). Предложены и реализованы решения по проектированию основных компонентов указанных комплексов: программного обеспечения, электронного блока управления, вибростабильных механических узлов, измерительных головок, обеспечивающие многофункциональность комплекса, включая управление через локальные и глобальные сети. Значительная часть материала книги посвящена применению созданного универсального комплекса при исследовании объектов различной природы: перспективных материалов электронной техники, полимерных композитов, кремниевых и германиевых наносфер, бактерий чумы, холеры и др. Предлагаемая монография может представлять интерес как для студентов соответствующих специальностей, так и для инженерно-технических и научных работников, интересующихся возможностями СЗМ. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Байбурин, В. Б. |