Новые поступления (книга в стадии обработки) Еловиков, Сергей Сергеевич. Электронная спектроскопия поверхности и тонких пленок [Текст] : [учеб. пособие] / С. С. Еловиков ; . - Москва : Изд-во Моск. ун-та, 1992. - 94 с. : ил. - (Физика). - Библиогр. - ISBN 5-211-02904-6 : 5.50 р.
Рубрики: физика--физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): твердые тела -- тонкие пленки -- электронная спектроскопия -- энергоанализ заряженных частиц -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Карпасюк, Владимир Корнильевич. Зондирующие методы исследований в материаловедении [Текст] : учебное пособие / В. К. Карпасюк, А. М. Смирнов ; ФГБОУ ВПО "Астраханский государственный университет", Центр Функцион. Магнит. Материалов. - Астрахань : Издатель Сорокин Роман Васильевич, 2014. - 214, [2] с. : ил. - Библиогр.: с. 209-214 (91 назв.). - ISBN 978-5-91910-342-4 : 293.00 р.
Рубрики: техника--материаловедение Кл.слова (ненормированные): материаловедение -- зондирование -- структурный анализ -- ферромагнитный резонанс -- ядерный магнитный резонанс (ЯМР) -- рентгеноструктурный анализ -- нейтронография -- электронография -- электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- масс-спектрометрия -- сканирующая зондовая микроскопия Аннотация: Содержит изложение физических основ, принципов аппаратурной реализации, метрологических характеристик и применений методов исследования, основанных на зондировании твердых тел электромагнитными волнами высоких и сверхвысоких частот, рентгеновскими лучами, гамма-квантами, потоками электронов, ионов и нейтронов. Рассмотрены явления взаимодействия излучений различного вида с веществом, приведены необходимые сведения из кристаллографии и оптики пучков частиц. Представлены также методы сканирующей зондовой микроскопии, в том числе туннельная, атомно-силовая и ближнепольная оптическая микроскопия. Прикладные вопросы рассмотрены, в основном, на примере исследования материалов для магнитной и спиновой электроники и некоторых наноструктурированных сред. К каждому разделу подобраны вопросы и упражнения. Держатели документа: Зональная научная библиотека имени В. А. Артисевич ФГБОУ ВО СГУ имени Н. Г. Чернышевского Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Смирнов, Андрей Михайлович |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Карлсон, Т. А. Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия [Текст] : пер.с англ. / Т. А. Карлсон. - Л. : Машиностроение, 1981. - 431 с. : ил. ; 22см. - 2.30 р.
Рубрики: Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): физика -- оптика -- спектроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- ультрафиолетовая спектроскопия -- Оже-электронная спектроскопия -- фотоэлектронная спектроскопия -- электронная спектроскопия Аннотация: Рассмотрены рентгеновская фотоэлектронная,ультрафиолетовая фотоэлектронная и Оже-электронная спектроскопия.Изложены теоретические основы электронной спектроскопии и принципы построения экспериментальных приборов. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |