Новые поступления (книга в стадии обработки) Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении [Текст] / Под ред.С.Амелинкса,Р.Геверса;Пер.с англ.А.М.Глейзера. - М. : Металлургия, 1984. - 504 с. : ил. ; 21см. - 6.20 р.
Рубрики: Электроника--Электронная микроскопия Кл.слова (ненормированные): электроника -- дифракционная электронная микроскопия -- рентгенография -- нейронография -- рентгеновская топография -- автоионная микроскопия -- электронная микроскопия -- кластеры -- фазовые преобразователи -- электронограмма -- мартенситные превращения Аннотация: Изложены структурные методы исследования твердых тел:дифракционная электронная микроскопия,рентгенография,нейтронография,рентгеновская топография,дифракция медленных электронов,автоионная микроскопия. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Амелинкс, С. Геверс, Р. |