Новые поступления (книга в стадии обработки) Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ [Текст] = Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis : в 2-х кн. : монография / Дж. Гоулдстейн [и др.] ; пер. с англ. Р. С. Гвоздовер, Л. Ф. Комоловой ; под ред. В. И. Петрова. - М. : Мир , 1984. Кн. 1. - 1984. - 303 с. : ил., табл. ; 22 см. - 3.00 р. Тит. л. парал. на англ. яз.
Рубрики: Физика--Электронные явления Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУЧКИ -- СТЕРЕОМИКРОСКОПИЯ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ АНАЛИЗ -- СПЕКТРОМЕТРЫ Аннотация: В первой книге монографии изложены стандартные методы растровой электронной микроскопии и некоторые аспекты рентгеновского микроанализа. Рассмотрены особенности электронной оптики приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, теория формирования изображения в растровом микроскопе, а также разрешение, информативность режимов вторичных и отраженных электронов, рентгеновская спектрометрия с дисперсией по энергии и длине волны и качественный рентгеновский микроанализ. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Гоулдстейн, Дж. Goldstein J. I. Ньюбери, Д. Newbury D. E. Эчлин, П. Echlin P. Джой, Д. Joy D. C. Фиори, Ч. Fiori C. Лифшин, Э. Lifshin E. Гвоздовер, Р. С. \\пер.\\ Комолова, Л. Ф. \\пер.\\ Петров, В. И. \\ред.\\ |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Практическая растровая электронная микроскопия [Текст] / под ред. Д. Гоулдстейна, Х. Яковица; пер. с англ. под ред. В. И. Петрова = Practical scanning electron microscopy / J. I. Goldstein, H. Yakouitz : научное издание. - М. : Изд-во "Мир", 1978. - 656 с. : ил., табл. ; 22 см. - Библиогр. в конце глав. - 4.70 р. Тит. л. парал. на англ. яз.
Рубрики: Физика--Электронные явления Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННЫЕ ПУЧКИ -- ЭЛЕКТРОННАЯ ОПТИКА -- ДЕТЕКТОР ЭВЕРХАРТА-ТОРНЛИ -- РЕНТГЕНОСПЕКТРАЛЬНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ -- РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОАНАЛИЗ Аннотация: В книге подробно изложены различные аспекты растровой электронной микроскопии и рентгеновского микроанализа. Рассмотрены электронная оптика приборов, взаимодействие электронов с твердым телом, формирование изображения и контраст, проблема разрешения, рентгеновские спектры и количественный микроанализ, методы приготовления образцов, а также ряд более специальных вопросов - рентгеновский микроанализ легких элементов и тонких пленок, использование мини-ЭВМ, сопряженных с микроанализатором, исследование биологических объектов и ионно-ионный микроанализ. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Гоулдстейн, Д. Goldstein J. I. Яковиц, Х. Yakouitz H. Петров, В. И. |