Новые поступления (книга в стадии обработки) Исследования качества и точности измерений параметров полупроводниковых диодов [Текст] / Научно-исслед. ин-т метрологии вузов (Москва). - М. : Изд-во стандартов, 1969. Вып. 4 / под ред. В. П. Короткова. - 1969. - 165 с. : черт. ; 27 см. - ). - Библиогр. в конце ст. - 1.11 р.
Кл.слова (ненормированные): ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ДИОДЫ -- ИЗМЕРЕНИЕ ПАРАМЕТРОВ -- ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ -- ПРЕЦИЗИОННЫЕ СТАБИЛИТРОНЫ -- ТУННЕЛЬНЫЕ ДИОДЫ -- ЭЛЕКТРОПАРАМЕТРЫ -- ВЫСОКОЧАСТОТНЫЕ ПАРАМЕТРЫ -- ТОЧНОСТЬ ИЗМЕРЕНИЙ Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Коротков, В. П. |