Новые поступления (книга в стадии обработки) Павлов, Л. П. Методы измерения параметров полупроводниковых материалов [Текст] : учеб.для вузов по спец."Полупроводниковые и микроэлектронные приборы" / Л. П. Павлов. - 2-е изд.,перераб.и доп. - М. : Высшая школа, 1987. - 239 с. : ил. ; 22см. - 0.85,20.00 р.
Рубрики: Электротехника--Полупроводники Кл.слова (ненормированные): полупроводники -- удельное сопротивление -- ЭДС Холла -- магнитосопротивление -- неравновесные носители заряда -- методы измерения Аннотация: В книге изложены основы методов измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов, рассматриваются вопросы их практической реализации; даны условия и границы применения методов измерения; проведён анализ причин возникновения погрешностей. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова) |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Новиков, В. В. Теоретические основы микроэлектроники [Текст] : учеб. пособие / В. В. Новиков. - М. : Изд-во "Высшая школа", 1972. - 352 с. : ил. ; 22 см. - Библиогр.: с. 345-346 (59 назв.). - 0.91 р. Гриф: допущено М-вом высш. и сред. спец. образования СССР в качестве учеб. пособия для студ. вузов, обучающихся по спец. "Конструирование и производство радиоаппаратуры"
Рубрики: Электроника--Микроэлектроника Кл.слова (ненормированные): КРИСТАЛЛЫ -- ТЕОРИЯ ТВЕРДОГО ТЕЛА -- УРАВНЕНИЕ ШРЕДИНГЕРА -- ОПТОЭЛЕКТРОНИКА -- НЕРАВНОВЕСНЫЕ НОСИТЕЛИ ЗАРЯДА Аннотация: В книге рассмотрены основные закономерности строения и роста кристаллов и тонких пленок. Изложены основы электронной теории твердого тела, а также описаны наиболее важные физические явления и эффекты в твердом теле, которые лежат в основе принципа действия микроэлектронных элементов и схем. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |