Новые поступления (книга в стадии обработки) Ковтонюк, Н. Ф. Измерения параметров полупроводниковых материалов [Текст] : научное издание / Н. Ф. Ковтонюк, Ю. А. Концевой. - М. : Изд-во "Металлургия", 1970. - 429 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 412-426. - 1.28 р.
Рубрики: электротехника -- электротехнические материалы Кл.слова (ненормированные): ПОЛУПРОВОДНИКИ -- ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА -- МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ -- УДЕЛЬНОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДОВ -- ПОДВИЖНОСТЬ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДОВ -- ПОВЕРХНОСТНЫЕ СВОЙСТВА Аннотация: В книге приведены методы исследования основных физических свойств полупроводников и методы контроля качества полупроводниковых материалов. Рассмотрены физические основы методов измерений, а также вопросы их экспериментального осуществления. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Концевой, Ю. А. |