Новые поступления (книга в стадии обработки)
    Ковтонюк, Н. Ф.
    Измерения параметров полупроводниковых материалов [Текст] : научное издание / Н. Ф. Ковтонюк, Ю. А. Концевой. - М. : Изд-во "Металлургия", 1970. - 429 с. : ил. ; 20 см. - Библиогр.: с. 412-426. - 1.28 р.
ГРНТИ
УДК

Рубрики: электротехника -- электротехнические материалы

Кл.слова (ненормированные):
ПОЛУПРОВОДНИКИ -- ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА -- МЕТОДЫ КОНТРОЛЯ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ МАТЕРИАЛЫ -- МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЙ -- УДЕЛЬНОЕ СОПРОТИВЛЕНИЕ -- КОНЦЕНТРАЦИЯ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДОВ -- ПОДВИЖНОСТЬ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДОВ -- ПОВЕРХНОСТНЫЕ СВОЙСТВА
Аннотация: В книге приведены методы исследования основных физических свойств полупроводников и методы контроля качества полупроводниковых материалов. Рассмотрены физические основы методов измерений, а также вопросы их экспериментального осуществления.
Держатели документа:
Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А.


Доп. точки доступа:
Концевой, Ю. А.