Новые поступления (книга в стадии обработки) Микроэлектроника [Текст] : учеб. пособие / под ред. Л. А. Коледова. - М. : Высшая школа, 1987. - 20 см. Кн. 5 : Качество и надежность интегральных микросхем / И. Я. Козырь. - 1987. - 143 с. : ил. - ). - Библиогр.: с. 142 . - 0.25 р. Гриф: допущено М-вом высш. и сред. спец. образования СССР в качестве учеб. пособия для студ. втузов
Рубрики: Электроника--Микроэлектроника Кл.слова (ненормированные): ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ -- ИМС -- НАДЕЖНОСТЬ ИМС -- КОНТРОЛЬ ИМС -- КАЧЕСТВО ИМС Аннотация: В пособии сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС и БИС. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Козырь, И. Я. Коледов, Л. А. \\ред.\\ |