Новые поступления (книга в стадии обработки) Нефедов, А. В. Обозначения, товарные знаки, корпуса ИМС [Текст] : справочник / А. В. Нефедов. - М. : Энергоатомиздат, 1995. - 120 с. : ил. ; 21см. - (Зарубежные интегральные микросхемы). - ISBN 5-283-01666-8 : 6000р. р.
Рубрики: Электроника--Радиоэлектронная аппаратура Кл.слова (ненормированные): ИМС -- интегральные микросхемы Аннотация: Приведены стандартная система условных обозначений и внутрифирменные обозначения зарубежных ИМС, выпускаемых более 160 ведущими инофирмами. Книга является 1-ой из готовящейся к изданию серии справочных книг по номенклатуре и параметрам зарубежных ИМС. По сравнению с ранее изданными справочниками номенклатура ИМС и число представленных фирм многократно увеличены. Для радиолюбителей и специалистов, занимающихся ремонтом и наладкой зарубежной РЭА, а также экспортно-импортными операциями на рынке электронных изделий. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Ефимов, Иван Ефимович. Микроэлектроника. Физические и технологические основы, надежность [Текст] : учеб. пособие / И. Е. Ефимов, И. Я. Козырь, Ю. И. Горбунов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1986. - 464 с. : ил. - Библиогр.: с. 458. - Предм. указ.: с. 459 - 461. - 01.60 р. Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника Кл.слова (ненормированные): БИС -- ИМС -- интегральные микросхемы -- история микроэлектроники -- история электроники -- микроэлектроника -- полупроводники -- учебные пособия Аннотация: В книге изложены основные принципы и направления развития микроэлектроники; приведена классификация изделий микроэлектроники и их общая характеристика; описаны физико-химические основы и технология изготовления полупроводниковых и гибридных ИМС и БИС. Во 2-ом издании (1-у - 1977) использованы последние достижения в разработке ИМС, более подробно рассмотрены новые технологические процессы и т.д. Держатели документа: Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова) Доп. точки доступа: Козырь, Иван Яковлевич Горбунов, Юрий Иванович |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Конструирование и технология микросхем [Текст] : учебник / под ред. Л. А. Коледова. - М. : Высшая школа, 1984. - 231 с. : ил. ; 22см. - 0.70 р.
Рубрики: Электроника--Микроэлектроника--Интегральные микросхемы Кл.слова (ненормированные): микропроцессорная техника -- ИМС -- МДП-структуры -- МДП-транзисторы -- ГИС -- ЭВМ Аннотация: В книге приведены данные об элементах и компонентах, материалах и технологии производства, конструктивно-технологических ограничениях и правилах разработки топологии интегральных микросхем; рассмотрены методы обеспечения их надежности, влагостойкости, тепловых режимов и др. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Коледов, Л. А. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Чернышев, А. А. Основы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем [Текст] / А. А. Чернышев. - М. : Радио и связь, 1988. - 256 с. : ил. ; 22см. - ISBN 5-256-00042-Х : 1.20 р.
Рубрики: Электроника--Полупроводниковая электроника Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые приборы -- ИМС -- радиоэлектронная аппаратура -- основы теории надежности -- радиационное воздействие -- прогнозирование надежности Аннотация: В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем.Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факторов и условий на надежность.Подробно рассмотрены дефекты,возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Ефимов, И. Е. Основы микроэлектроники [Электронный ресурс] : учеб. / И. Е. Ефимов, И. Я. Козырь. - 3-е изд., стер. - Электрон. текстовые дан. - СПб. ; М. ; Краснодар : Лань, 2008. - 1 эл. опт. диск (CD-ROM) : цв. - Систем. требования: Pentium III 900 Mгц ; Adobe Acrobat Reader. - Загл. с этикетки диска. - Б. ц. Электрон. аналог печ. изд. Режим доступа: http://lib.sstu.ru/books/Ld_21.pdf Параллельные издания: Ефимов И. Е. Основы микроэлектроники : учеб. / И. Е. Ефимов, И. Я. Козырь. - СПб. ; М. ; Краснодар : Лань, 2008. - 384 с: ил. - ISBN 978-5-8114-0866-5 (Шифр 621.382(075)/Е91)
Рубрики: Электроника--Микроэлектроника Кл.слова (ненормированные): ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ -- СОЗДАНИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ -- ИМС -- ТРАНЗИСТОРЫ -- РЕЗИСТОРЫ -- КОНДЕНСАТОРЫ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- ГИБРИДНЫЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ -- БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ -- МИКРОСХЕМОТЕХНИКА -- МИКРОСХЕМЫ ДЛЯ АППАРАТУРЫ СВЯЗИ -- БИС Аннотация: В учебнике изложены основные направления развития микроэлектроники: рассмотрены физические основы, конструкция, технология, структурные элементы и аспекты проектирования интегральных микросхем (ИМС) и больших интегральных схем (БИС). Рассмотрены отдельные технологические процессы, схемотехнические решения, машинные методы проектирования и изготовления изделий микроэлектроники. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Козырь, И. Я. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Микроэлектроника [Текст] : учеб. пособие / под ред. Л. А. Коледова. - М. : Высшая школа, 1987. - 20 см. Кн. 5 : Качество и надежность интегральных микросхем / И. Я. Козырь. - 1987. - 143 с. : ил. - ). - Библиогр.: с. 142 . - 0.25 р. Гриф: допущено М-вом высш. и сред. спец. образования СССР в качестве учеб. пособия для студ. втузов
Рубрики: Электроника--Микроэлектроника Кл.слова (ненормированные): ИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ -- ИМС -- НАДЕЖНОСТЬ ИМС -- КОНТРОЛЬ ИМС -- КАЧЕСТВО ИМС Аннотация: В пособии сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС и БИС. Держатели документа: Саратовский государственный технический университет им. Гагарина Ю. А. Доп. точки доступа: Козырь, И. Я. Коледов, Л. А. \\ред.\\ |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Микроэлектроника [Текст] : в 9 кн.: учеб. пособие / Л. А. Коледов. - Москва : Высшая школа, 1987. Кн. 5 : Качество и надежность интегральных микросхем / И. Я. Козырь. - 160 с. : ил. - (Микроэлектроника). - Библиогр.: с. 159. - 0.30 р. Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника Кл.слова (ненормированные): БИС -- ИМС -- МСБ -- большие интегральные схемы -- гибридные микросхемы -- интегральные микросхемы -- контроль качества -- микросборка -- микроэлектроника -- оценка качества -- показатели надежности -- расчет надежности Аннотация: В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС И БИС. Держатели документа: Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова) Доп. точки доступа: Коледов, Л. А. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Ефимов, И. Е. Микроэлектроника [Текст] : проектирование, виды микросхем, функциональная микроэлектроника: учеб. пособие для вузов / И. Е. Ефимов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1987. - 416 с. : ил. - Библиогр.: с. 411-412; Предм. указ.: с. 413-414. - 1.40 р. Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника Кл.слова (ненормированные): БИС -- ИМС -- МДП-ИМС -- СВЧ-ИМС -- акустоэлектроника -- аналогово-цифровые -- аналоговые коммутаторы -- биополярные интегральные микросхемы -- биополярные транзисторы -- биоэлектроника -- гибридные интегральные микросхемы -- диоды -- диффузионные резисторы -- диэлектрическая электроника -- инжекционная логика -- инженерное проектирование -- криоэлектроника -- магнетоэлектроника -- микроЭВМ -- микропроцессоры -- микросхемы -- микроэлектроника -- молекулярная электроника -- оптоэлектроника -- пленочные конденсаторы -- пленочные проводники -- пленочные резисторы -- подложки СВЧ-ИМС -- полупроводниковые конденсаторы -- полупроводниковые микросхемы -- пособия для вузов -- приборы с зарядовой связью -- топология ИМС -- функциональная микроэлектроника -- хемотроника -- цифровые интегральные микросхемы -- эффект Ганна Аннотация: В книге рассмотрены особенности разработки, принципы расчета и проектирования различных классов ИМС и БИС для анализа элементной базы современной микроэлектроники и важнейших видов ИМС, приведена методика расчета надежности ИМС. Держатели документа: Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова) |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Лурье, Ошер Бениаминович. Интегральные микросхемы в усилительных устройствах [Текст] : анализ и расчет / О. Б. Лурье ; ред. В. Н. Мясников. - Москва : Радио и связь, 1988. - 176 с. - Библиогр.: с. 175. - 0.60 р. Рубрики: Радиоэлектроника--Общая радиотехника Кл.слова (ненормированные): ИМС -- дифференциальные усилители -- инвертирующие усилители -- интегральные микросхемы -- линейные электронные цепи -- математические модели -- матрицы проводимостей -- матричный расчет -- операционные усилители -- свойства матриц -- температурный дрейф усилителей -- усилители -- шумы -- электронные цепи Аннотация: Даются матричный анализ линейных электронных цепей с интегральными микросхемами, выражения для определения входных и выходных проводимостей и коэффициентов передачи по напряжению цепей с произвольным числом одиночных и дифференциальных входов и выходов, матрицы проводимостей различных линейных ИМС. Держатели документа: Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова) Доп. точки доступа: Мясников, В. Н. |
Новые поступления (книга в стадии обработки) Курносов, Анатолий Иванович. Технология производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем [Текст] : учеб. пособие для ВУЗов / А. И. Курносов, В. В. Юдин. - 3-е изд., перераб. и доп. - Москва : Высшая школа, 1986. - 367 с. - Библиогр.: с. 363. - Предм. указ.: с. 364-365. - 1.30 р. Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника Кл.слова (ненормированные): СВЧ-диапазон -- антимонид галлия -- антимонид индия -- арсенид галлия -- арсенид индия -- германий -- диффузионные структуры -- диэлектрические пленки -- защитные пленки -- имс -- интегральные микросхемы -- интерметаллические соединения -- ионная имплантация -- ионно-плазменное распыление -- конструкции корпусов -- кремний -- лазерные технологии -- нитридные пленки кремния -- полупроводниковые материалы -- полупроводниковые пластины -- полупроводниковые подложки -- пособия для вузов -- р-п-переход -- радиация -- рентгенолитография -- сборка полупроводниковых приборов -- термическое испарение -- тонкие пленки -- фосфид галлия -- фотолитография -- фоторезисторы -- фотошаблоны -- эпитаксиальное наращивание Аннотация: В книге рассмотрены основные технологические процессы производства полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Держатели документа: Муниципальное учреждение культуры (Централизованная библиотечная система города Саратова) Доп. точки доступа: Юдин, Владимир Васильевич |